大型試料用AFM、高分解能・小型試料用AFM（原子間力顕微鏡）をはじめ多種多様のAFM（原子間力顕微鏡）をラインナップ

高速イメージ、高分解能AFM測定、定量的機械特性の測定が可能なバイオAFM、自動フォーススペクトロスコピー、フォース検出光ピンセットのライフサイエンス向けソリューション

AFMとパルスチューナブルレーザー及びサーマルプローブの融合で10nm以下領域（空間分解能）における赤外スペクトル、赤外吸収マップ、AFM像、表面硬さ像、熱分析等、局所分析が可能になる高分解能多機能測定装置

リアルカラー対応の高性能、簡易型、大型試料対応をはじめとする非接触3次元白色光干渉型顕微鏡製品

汎用、大型ステージ対応の触針式プロファイリングシステムDektakシリーズを紹介

薄膜の膜厚、屈折率（n値）、消衰係数（k値）を高精度に評価。分光エリプソメトリーと反射率測定により、多層膜や機能性薄膜の解析に対応。

顕微鏡を圧痕観察を行わず硬さ・粘弾性計測を可能にする微小硬さ・機械物性試験機、試料の変形や破壊の挙動をリアルタイムで観察が可能なピコインデンター等を紹介

モジュール交換型、あらゆるトライボロジー評価試験を一台にコンパクトに集約。市場でもっとも広く使われている多機能摩擦摩試験機 UMT TriboLabを紹介

CMP(化学機械研磨)プロセス開発向けの卓上型評価機。CMPプロセスで用いるパッド・スラリーなどの消耗材評価に対し、幅広い研磨圧力、回転速度、摩擦係数計測、AE信号（アコースティック・エミッション）、サンプル温度計測等が可能

様々なアプリケーションを可能にするAFM（原子間力顕微鏡）/SPM（走査型プローブ顕微鏡）/ nanoIR用プローブ

300mmウェハ対応、ブルカー独自のPeakForce Tappingモードを大型機で実現した全自動大型自動原子間力顕微鏡等をご紹介

300mmウェハ全面マッピング、SiC基盤向け欠陥自動判別、高速X線トボグラフィー等の化合物半導体向け自動X線検査や薄膜測定の最先端X線装置を紹介

EUV対応フォトマスクを高速、高精度に修正を実現する各種リペア装置をご紹介