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ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
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2020年10月19日

in-situ ナノ機械的特性評価装置Hysitron PI 89 SEM PicoIndenterをリリース

様々な試験に柔軟に対応できる装置構造・性能を提供




[米国ミネソタ州ミネアポリス 2020年10月14日発]

ブルカーナノ表面計測事業部は本日Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter™のリリースを発表しました。 この装置では弊社従来のシステムに比べ、SEM(走査型電子顕微鏡)内でより高負荷かつ過酷な環境下で試験が可能であり、高強度な材料の変形メカニズムの理解に役立ちます。新しい本システムはBrukerの高性能コントローラーと独自のトランスデューサーおよび独自の変位コントロールテクノロジーを組み合わせることで幅広い試験に対応致します。

PI 89 SEM PicoIndenterは、2通りの取り付け方が可能なRotation Tilt(回転傾斜)ステージを備えた世界最初のin-situシステムです。これにより、SEM観察を行う際のサンプル位置決め、ミリング用のFIBカラムへの傾き調整、結晶方位の向き調整のための回転および複雑な材料の構造と特性の相関性の研究を可能にする幅広い検出器との互換性を実現します。


「The University of AlabamaはブルカーのHysitron PI 89 SEM PicoIndenter in-situナノ機械的特性評価システムの最初の受領者になることに興奮しています」とAlabama Analytical Research CenterのディレクターであるDr. Gregory Thompsonは述べています。また、機械工学の教授であるDr. Keivan Davamiは以下のように述べています。「このプラットフォームの最先端の機能により極限の温度を達成すると同時に負荷をかけ、透過菊池線回折(TKD)や電子線後方散乱回折法(EBSD)などと組み合わせることでこれまでにない構造特性の情報を得ることが可能になります。このことは複数の研究プログラムのサポートになります。」


ブルカーのナノメカニカルテスト事業部のゼネラルマネージャーであるDr. Oden Warrenは次のように述べています。 「Hysitron PI89は、電子顕微鏡内でのin-situナノインデンテーション装置の先駆けとして開発された我々のPicoIndenterシリーズに魅力的な製品として加わりました。Hysitron PI89は優れた汎用性、使いやすさ、高荷重試験を実現する剛性を備えています。また、いくつかの特許取得済の機能により、SEM中で最も幅広い試験を行うことのできる柔軟性と業界をリードするパフォーマンスをお客様に提供します。この次世代機が可能にする新たな研究を楽しみにしています。」


【ブルカーHysitron PI 89 SEM PicoIndenterについて】

Hysitron PI 89 SEM PicoIndenterは、in-situ SEM用のHysitron PicoIndenterシステムの最新機です。ブルカーの最先端のトランスデューサー技術に基づいて構築されたPI89は、研究者に並外れた性能と汎用性を提供するという強力な機能を有します。具体的には自動測定、高速機械的特性マッピング(XPM)、疲労試験、ナノトライボロジー、Push-to-Pullデバイス(特許取得済み)を用いた薄膜およびナノワイヤーの引張試験、直接的な引張試験、SPMイメージング、電気的特性評価モジュール、高温試験(特許取得済み)、回転および傾斜ステージ(特許取得済み)、EBSD・EDS・CBD・TKD・STEMなどの分析技術との互換性を提供します。



※本資料は2020年10月14日(現地時間)にBruker Nano Surfaces Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。

▶ 原文はこちら

https://www.bruker.com/jp/news-records/single-view/article/bruker-launches-advanced-in-situ-nanomechanical-test-instrument-for-analyzing-materials-deformation.html


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2020年10月12日

ベンチトップ型三次元光学式表面形状計ContourXをリリース

業界最高のナノスケールの表面分析と使いやすさを提供



      ContourX-100                                                ContourX-200                                           ContourX-200

[米国カルフォルニア州サンノゼ 2020年9月30日発]

ブルカーナノ表面計測事業部は、研究開発・製造環境におけるゲージ対応の表面テクスチャ・粗さ測定用の次世代ベンチトップ型三次元光学式表面形状計ContourXの発売を発表しました。この白色光干渉法(WLI)プラットフォームは、最高の測定結果を得るために最適な測定パラメータを自動的に決定するユニバーサルスキャンモードであるブルカーの新しいUSIモードと、低ノイズ測定とクラス最高のサブナノメートルZ分解能を実現するアドバンストPSIモードを搭載しています。さらに、5MPカメラと新しいステージ設計により、大面積のスティッチングが大幅に向上し、1000個の高解像度スティッチングフィールドの収集が可能になりました。このような機能と機能の組み合わせにより、医療、自動車、航空宇宙、精密機械加工、化粧品、半導体製造のための高精度測定から、新しい材料構造の研究や製造された部品の特性評価まで、多くの要求の厳しい研究・産業用途での利便性と生産性の向上を可能にします。

ブルカーのトライボロジー、スタイラス、オプティカル・メトロロジー・ビジネスのバイスプレジデント兼ゼネラルマネージャーであるケント・ヒースは、「初代Wykoの開発から始まり、40年以上にわたり高精度表面計測とイメージングの革新を続けてきたブルカーのオプティカル・プロファイラー(三次元表面形状粗さ計)は、倍率に依存しない最高のZ軸分解能と、最も困難な表面形状に対して最大の視野で最速の測定を可能にしたことで知られるようになりました。"この技術ができることの限界を押し広げることで、ContourXシステムはベンチトップの形でこれまで達成できなかった測定機能を提供します」と述べています。

ContourXは、特に新しいUSIモードを考慮すると、表面測定の性能を飛躍的に向上させています。これらのシステムは、学術研究、産業研究開発、マイクロエレクトロニクス、光学、センサーの生産性とナノスケールの表面粗さとトポロジー測定の新たなベンチマークとなるでしょう」と、グローバルプロダクトマネージャーのロバート・シドは付け加えています。


【ブルカー ContourX 3D光プロファイラーについて】

ContourXシリーズのプロファイラーは、Bruker独自のWLI技術の進歩を利用して、業界で最も高性能なベンチトップ計測と最も使いやすい表面測定ソフトウェアを提供します。3つのベンチトップモデルで利用可能なContourXプロファイラーは、新しい堅牢なデザインを特徴とし、個々の計測と予算の要件に合わせて最適化された機能と価格帯を提供します。新しいハードウェア機能には、より大きなスティッチング機能のための革新的なステージデザインや、低ノイズ、より広い視野、より高い横方向の解像度を実現する1200x1000の測定アレイを備えた5MPカメラなどがあります。新しいUSIモードとアドバンストPSIモードに加えて、ソフトウェアの拡張機能として、ブルカーの新しいVisionXpressインターフェースが搭載されています。最新バージョンのVisionMAPソフトウェアは、カスタマイズされたレポート作成機能と高度な分析ソリューションの実装により、これらの機能をさらに補完します。


※本資料は2020年9月30日(現地時間)にBruker Nano Surfaces Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。

▶ 原文はこちら

https://www.bruker.com/jp/news-records/single-view/article/bruker-releases-suite-of-benchtop-3d-optical-profiler-systems.html


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2020年8月18日

ブルカー、一分子計測用の革新的な高速AFMシステムJPK NanoRacer®を発表

~秒間50フレームの速度で生体分子反応のダイナミクスをリアルタイムに追跡~



 ドイツ・ベルリン 2020年7月30日 - ブルカーコーポレーション(Nasdaq: BRKR)は、高速AFMシステム NanoRacerをリリースしました。NanoRacerは毎秒50フレームという圧倒的なイメージング速度を誇り、AFMの歴史に打ち立てられた新たなマイルストーンに到達しました。NanoRacerを使用することで、ユーザーは誰でも生命現象の動的プロセスの真の単一分子・リアルタイム観察が可能となります。NanoRacerは、当該領域のエキスパートとの緊密な連携のもとに開発され、高速性に加え原子分解可能な高いイメージング性能,そしてこれまでにない使いやすさを実現しています。生化学、分子生物学そして医療関連分野において,単一分子の振る舞いや分子反応のダイナミクス解析にNanoRacerを用いることで、現象に対するより深い理解につながるデータの獲得が可能となります。

金沢大学ナノ生命科学研究所(WPI-NanoLSI)の安藤敏夫特任教授は、「生体分子には未解明な点がまだまだ数多く残されており、その解明には機能活動中の個々の分子を直接観察する必要があります。今回発表された高速AFM『NanoRacer』は,最速の製品で、生体分子を直接リアルタイムで観測する性能を有し、また、簡単な操作と高いパフォーマンスを実現するための多くの革新的なアイデアが盛り込まれています。多くの研究者がこのNanoRacerを使ってエキサイティングな発見に出会うことを願っています。」と述べています

 ブルカーBioAFMグループの最高責任者トルステン・ヤンケは、「NanoRacerは、高速AFM領域におけるブルカーのイノベーションの集大成であり、その性能と使いやすさ双方の観点から、NanoRacerは単一分子観察のためのハイエンドなAFMマーケットに革命を起こすと言う強い信念があります。そして、このNanoRacerは、生化学、分子生物学、創薬分野の研究者にとって、分子ダイナミクスの直接観察から、分子構造と機能との相関に対しより深く正確な理解をもたらすAFMツールとなるであろう。」と付け加えた。


※本資料は2020年7月30日(現地時間)にBruker Nano Surfaces Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。

▶ 原文はこちら
https://japan.jpk.com/news/2020/bruker-launches-revolutionary-high-speed-afm-system-for-single-molecule-applications-jpk-nanoracer-follows-molecular-dynamics-in-real-time-at-50-frames-per-second 


高速AFM、JPK NanoRacer について】

 NanoRacerは、微小カンチレバーの使用を想定して設計されており、流体中の試料観察において100 nm x 100 nmの走査範囲、測定点数10,000ピクセルの条件下にて秒間50フレームのイメージングを実現します。さらに光熱励振機能や,新しい高分解能XYZフレクシャースキャナー、そして,その各軸に低ノイズ位置センサーを搭載したNanoRacerは、ハイエンドの研究用AFMとして新たなベンチマークを打ち立てました。最高感度の力検出能と高い空間分解能、そして最高の安定性を兼ね備えたNanoRacerは、分子・ナノスケールの高度なアプリケーションや卓越した発見の原動力となることでしょう。この新しいシステムには、JPKの高性能コントローラ Vortis™ 2と直感的で分わかりやすいユーザーインターフェースを備えたソフトウェアが搭載されており、自動化されたセットアップ機能やマルチユーザー環境に最適化されたシステムにより、研究者は実験にのみ集中することができます。


ハイエンド高速イメージングバイオAFM NanoRacer High-Speed AFM

ハイエンド向け高速イメージング対応バイオ用AFM   NEW

JPK NanoRacer 

NanoRacer® High-Speed AFMシステムは、流体中の試料観察において100 nm x 100 nmの走査範囲、測定点数10,000ピクセルの条件下にて秒間50フレームのイメージングを実現します。ハイエンドの研究用AFMとして最高感度の力検出能と高い空間分解能、最高の安定性を兼ね備えています。JPKの高性能コントローラ Vortis™ 2と直感的な操作を提供するソフトウェアの搭載により、自動セットアップ機能やマルチユーザー環境に対応します。

  • 50フレーム/秒の最高撮像速度を実現
  • 直感的で使い易い操作を実現するV7ソフトウェア
  • 新開発の高速ヘッド・スキャナユニット
  • 自動カンチレバーアライメント
  • 最高の安定性を実現するための堅牢設計
  • 小・中型カンチレバーに対応
  • ブルカー独自のPeakForceタッピングモードに対応(※オプション)

製品に関する詳細はこちら(英語)▶ JPK NanoRacer




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2019年6月25日

ブルカー、トライボロジー評価装置向けの高速振動試験モジュルを発表 
潤滑剤高精度開発ツール


 2019520 - 74STLE年次総会で、ブルカーナノ表面計測事業部は、UMT TriboLabトライボロジー評価装置用の高速振動試験モジュール(HFRR)の発売を発表しました。新しいHFRRモジュールは、TriboLabシステムにセットアップすることにより、幅広い潤滑剤及び、材料の効果的なスクリーニングを可能にします。伝統的に、エンジンやリニアコンプレッサーのような往復システムでの表面や潤滑剤のテストは、最終的なコンポーネントテストの前に実験室規模での要素的な摩擦評価を必要とします。HFRRモジュールにより、ASTM D6245などの標準プロトコルのシミュレーションがベンチトップスケールで可能となり、極僅かな摩擦の挙動を監視しながら、シミュレーション条件下で潤滑剤や材料の性能をランク付けできます。


ブルカーナノ表面計測事業部のアプリケーションサイエンティストであるGiovanni Ramirez博士は、次のように述べています。「UMT TriboLabの高速振動試験は、エンジンやコンプレッサーなどの往復摺動部に使用される材料や潤滑油を評価するために、正確で一貫した技術として開発されました。」また、 「UMT TriboLabはその柔軟性により、様々なモジュールをセットアップ出来るという利点があり、容易に摺動形態や速度・圧力といったパラメーターを変更することが出来るため、標準化されたプロトコルを使用するよりも多くの可能性が広がります。


ブルカーのTribology, Stylus and Optical MetrologyビジネスユニットのVice PresidentGeneral ManagerJames Earle氏は、次のように述べています。「我々は、最高品質のデータを維持しながら、お客様の開発コストを削減するために設計されたターンキートライボロジーソリューションをマーケットに提供することをコミットしています。また、新しいHFRRモジュールは、実績のある業界標準の試験方法との高い相関性とともに、柔軟性の高いデータ分析を提供できる市場で唯一のツールです。


UMT TriboLab HFRRモジュールについて】

2000年に最初のモデルが登場して以来、UMTは市場で最も汎用性が高く、広く使用されているトライボメーターです。現在業界をリードするUMT TriboLab™は、その基本性能を犠牲にすることなく、独自のモジューラーコンセプトにより、更なる機能を増やしています。このシステムにHFRRモジュールを装備することで、ASTMや同様のプロトコルを超えて、多くのマーケットの要件を満たし、各アプリケーション固有の条件で高精度データ分析が可能になります。HFRRモジュールは、絶対値としてだけでなく、往復ストロークに沿って発現する微小な変化を識別可能な高精度の摩擦データを提供します。システムの新しいハードウェアとソフトウェア機能の組み合わせにより、これまでにない柔軟性と使いやすさが向上し、潤滑材の開発のための費用対効果と機能拡張ソリューションの両方を提供します。


※本資料は2019年5月20日(現地時間)にBruker Nano Surfaces Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。

▶原文はこちら

https://www.bruker.com/news-records/single-view/article/bruker-introduces-high-frequency-reciprocating-rig-module.html

 

 

【ブルカーコーポレーションについて (NASDAQ: BRKR)

ブルカーコーポレーション(NASDAQBRKR)は、55年以上にわたり、工業分野、応用分析、分子、材料研究のためのハイパフォーマンスな科学機器とソリューションを提供するリーディングカンパニーです。バイオスピン事業部、ダルトニクス事業部、オプティクス事業部、ナノ表面計測事業部、Ⅹ線事業部、ナノ分析事業部から成り立ち、世界各地に工場と販売拠点を置き、お客様のご要望に応じた革新技術を提供し続けています。詳細についてはwww.bruker.com

詳細については: www.bruker.com




トライボロジー評価装置を持参し、ワークショップを名古屋にて開催します。詳しくはこちらをご覧ください。▶セミナー詳細


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2019年2月15日

Bruker、ライフサイエンス向け新型高速AFMをリリース

JPK NanoWizard ULTRA Speed 2によるAFMと光学顕微鏡の完全なマッチング


 ドイツ・ベルリン、2019年1月29日 ― ブルカーは本日、画期的なAFMシステム「JPK NanoWizard ULTRA Speed 2」をリリースしました。本製品は、最先端のバイオイメージング機能を持ち最速・最高分解能を兼ね備えたAFMです。世界各国のAFMユーザーとの密接なコラボレーションによって開発された本システムは、2018年7月にブルカーがJPK Instrumentsを買収して新体制となった「ブルカーJPK BioAFM事業」が発表する、最初の新製品となります。毎秒10フレームというAFM走査速度、正真正銘の原子レベル分解能、さらに先進的なライフサイエンス研究に適した機能を備えたJPK NanoWizard ULTRA Speed 2は、先駆的な顕微鏡観察に必要な技術水準を提供いたします。


これまで、一般的な位相差、微分干渉、共焦点や単一分子蛍光、更には超解像顕微鏡、ラマン分光、多光子顕微鏡など、様々な光学顕微鏡法とAFMの融合を果たしてきたJPK社が培った技術により、他に類を見ない試料観察を可能にした新たなシステムが実現しました。その新しいJPK NanoWizard ULTRA Speed 2は、ブルカーが開発したPeakForce Tapping®を搭載し、極めて優れたフォース制御とかつてないAFMの操作性を両立、定量的で高解像度のイメージングと力学特性マッピング測定が可能です。この独自の機能を組み合わせた革新的なAFMを使うことにより、研究者は、細胞・単分子におけるナノスケールの力学測定において、新しい知見が同時に得られる実験を多角的に行う事が可能となりました。


フランス・モンペリエのCBS(構造生化学センター)センター長のPierre-Emmanuel Milhiet教授は次のように述べています。「高速AFMと先進光学顕微鏡との同時観察により、私たちはリアルタイムで分子レベルおよび細胞レベルでの動的プロセスを観察することが可能になります。また、ワークフローベースのソフトウェア制御と使い勝手の良いPeakForce Tapping技術との組み合わせは、AFMが近年のライフサイエンス研究で標準ツールになるのを後押しするとともに、JPKが生物学研究をけん引するためAFM技術を提供し続けるブルカーの一員であることを証明します。」


さらに、ブルカーのBioAFM事業部 部門長であるTorsten Jähnk氏は、「本製品は、ブルカーの一員として開発した最初のシステムであり、BioAFMと光ピンセット製品群を通して優れたサイエンスを実現するために、我々の責任を果たしていくことが重要であり、NanoWizard ULTRA Speed 2システムはライフサイエンス研究における最先端原子間力顕微鏡(AFM)の新基準として位置づけられています」と付け加えています。


【JPK NanoWizard ULTRA Speed 2について】

JPK NanoWizard ULTRA Speed 2はブルカー独自の技術であるPeakForce Tapping®を標準搭載することで、いまだかつてない高解像度のイメージングを実現するとともに、従来は評価できなかった様々な試料、特にやわらかいバイオロジー(生物学)関連の試料にも、AFM計測の適用を広げます。新システムはまた、高速・高性能の制御電子回路Vortis 2を搭載。すべてのユーザーのレベルの要求に応えるよう設計されたVortis 2は極めて低ノイズレベル・高速の信号処理を提供します。新しいワークフローベースのソフトウェアGUIが、使い勝手の良いAFMの操作に、新たな幕を開きました。ソフトに搭載されたユーザーガイダンスとユーザー管理モジュールは、研究者がAFM操作に煩わされることなく実験だけに専念できるようにし、JPK NanoWizard ULTRA Speed2が、マルチユーザー環境やマルチイメージング機能に完全に対応できるようにします。これらの特徴はさらに、市場にある極めて広範なアクセサリーを使うことで、ユーザーは、大部分のアプリケーションや多様な実験に適用が可能です。このソフトウェアが実現するユーザーガイダンスとユーザーマネージメント・モジュールは、JPK NanoWizard ULTRA Speed 2のマルチユーザー環境あるいはイメージング能力を完全にすることで、研究者が実験だけに集中できるようにしています。これらの特徴はさらに、市場にある極めて広範なアクセサリーによって補強されることで、ユーザーは、大部分のアプリケーションおよび多様な実験での適用が可能です


【JPK BioAFMビジネスについて】

2018年7月にJPKがブルカーの傘下となり、ブルカーのワールドワイドな事業基盤と計測機器の開発・サポート体制に、生細胞イメージング、細胞力学、細胞接着、分子間力計測、光トラップ、細胞刺激応答などライフサイエンス分野における最先端の技術が加わりました。新しいJPK BioAFM事業は、両社の豊富な開発実績を最大限に活用することで、生体分子および細胞のイメージング、ならびに、分子、細胞、組織レベルでの力学測定を実現する新しい顕微鏡システムを提供します。

ブルカーのライフサイエンス研究用AFMに関する詳細な情報は、www.bruker.com/BioAFMをご覧ください。


ブルカーコーポレーションについて (NASDAQ: BRKR)

ブルカーは、人々の生活の質の向上につながる画期的な発見や新規アプリケーションの開発ができるよう、長きにわたり様々な分析・計測装置を開発してまいりました。弊社の計測機器および分析・解析ソリューションは、生命の本質やそれを構成する物質を、顕微鏡、細胞レベルでの調査探求することを可能にします。常に研究開発に携わる方々に寄り添い、分子生命科学の研究や、製薬分野、顕微鏡・ナノ解析、工業用途、さらには細胞生物学、前臨床イメージング、臨床フェノミクスやプロテオミクス研究、臨床微生物学における変革や生産性の改善に貢献するため、今度も皆様に安心してお使いいただけるような体制を整え、分析・計測機器とサポートサービスをワールドワイドにて提供してまいります。

詳細については: www.bruker.com


※本資料は2019年1月29日(現地時間)にBruker Nano Surfaces Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。

▶ 原文はこちら


ブルカージャパンでは、新製品のご紹介として、3月ウェビナーを開催します。詳しくはこちらをご覧ください。▶ウェビナー詳細


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2018年12月21日

Bruker、AFMベースのナノDMAソリューションを発表

バルクDMA試験と相関を実現する、世界で唯一のAFM粘弾性測定


 マサチューセッツ州ボストン -  2018年11月27日 -  2018MRS Fall Meeting & ExhibitにてBrukerは本日、Dimension®原子間力顕微鏡(AFM)のAFM-nDMA™モードの発表を致しました。 Bruker独自のPeakForceQNM®モードによる卓越した定量的弾性率マッピングを持つAFM-nDMAは、バルクレオロジー測定で一般的な全周波数範囲にわたってバルク動的機械分析(DMA)に適合する画期的なナノスケール粘弾性測定を提供します。 AFM-nDMAは、独自のアルゴリズムによって実現され、レオロジー周波数で直接動作し、予圧と接着力を定量化し、絶対較正を行います。その結果、AFM-nDMAは、活性エネルギーの分析を含む貯蔵弾性率、損失弾性率、および損失正接の全マスター曲線を生成し、ナノスケールでポリマーレオロジーを提供することによってAFMの有効性を大幅に拡大します。


東京工業大学の高分子物理学教授の中島健博士は次のように述べています。

「BrukerのAFM-nDMAは、AFMの空間スケールで粘弾性を定量化する最初の市販化されたソリューションです」
「ナノスケールのレオロジー測定のパイオニアとして、この重要な機能が広く利用できるようになったことを非常に嬉しく思います。」


Dow Chemical Core R&DフェローのGreg Meyers博士は述べています。

「バルク性能に関わる適切な周波数と長さでのナノスケール局所粘弾性特性を定量化することができます」
「これは、工業用ポリマー特性で渇望されていたニーズに対応しています。」


BrukerのAFM事業担当副社長兼ゼネラルマネージャであるDavid V. Rossiは説明します。

AFM-nDMAは、定量的で使いやすいナノメカニカル特性を提供するという当社の長年のコミットメントを反映しています」「TappingModeTMの発明からPeakForceTapping®やAFM-nDMAに至るまで、私たちは一貫してリードしてきました。定量的な粘弾性的特性の使用にAFMが使われることを熱望しています。」


【AFM-nDMAについて】

BrukerのAFM-nDMAには、独自のアルゴリズム、モジュール式ハードウェア、および効率的なワークフローに統合された事前較正プローブが含まれており、レオロジー周波数での貯蔵弾性率、損失弾性率、損失正接の定量的ナノスケール測定が可能です。 AFM-nDMAは、0.1Hz〜20kHzの周波数、250℃までの温度、およびサブMPa〜GPa範囲のサンプルモジュレーションで、ポリマーアプリケーションの幅広い適用範囲を提供します。 AFM-nDMAは、Brukerの独自のMIROView™ユーザーインターフェイスとPeakForce QNMの関心領域ターゲティング、およびフルマスターカーブ解析のための新しいマルチスクリプト解析機能が統合されています。

【AFM-nDMAについて】
WEBサイト


ブルカーコーポレーションについて (NASDAQ: BRKR)

ブルカーコーポレーション(NASDAQBRKR)は、55年以上にわたり、工業分野、応用分析、分子、材料研究のためのハイパフォーマンスな科学機器とソリューションを提供するリーディングカンパニーです。バイオスピン事業部、ダルトニクス事業部、オプティクス事業部、ナノ表面計測事業部、Ⅹ線事業部、ナノ分析事業部から成り立ち、世界各地に工場と販売拠点を置き、お客様のご要望に応じた革新技術を提供し続けています。詳細については: www.bruker.com


※本資料は2018年11月27日(現地時間)にBruker Nano Surfaces Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。

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2018年12月21日

Bruker、スキャニング・プローブ顕微鏡の新しい「Dimension XRファミリー」を新発表

ナノスケール定量化を可能としたAFM技術の革新



 米国ブルカーカリフォルニア州サンタバーバラ -  2018年11月28日 -  Brukerは本日、スキャニングプローブ顕微鏡(SPM)のDimension XR™ファミリを発表しました。これらの新しいシステムには、Bruker独自の画期的なDataCubeナノ電気モード、エネルギー研究用のAFM-SECM(電気化学)、初めてポリマーナノメカニクスとバルクダイナミックメカニカル解析(DMA)を関連付ける新しいAFM-nDMAモードなどのAFMイノベーションを含んでいます。 Dimension XR SPMは、ナノメカニクス、ナノエレクトリカル、ナノ電気化学の各アプリケーションへ適合するために最適化されたシステムです。科学出版物での論文において世界で一番使用されているIcon®とFastScan®の2種類のAFMがプラットフォームになっています。これらシステムにより大気、液体、電気、化学反応環境において、ナノスケールレベルの材料特性を定量化でき、研究範囲を大幅に拡大することが可能です。


BrukerのAFM事業担当副社長兼ゼネラルマネージャであるDavid V. Rossiは次のように述べています。

「新しいDimension XRシステムは、長年のイノベーションとして、定量的で使いやすいナノメカニカル、ナノエレクトリカル、ナノ電気化学特性を提供してきた我々の成果物です」 「私たちのゴールは、これらの最初で唯一無二の機能をリサーチコミュニティに広く利用してもらうことで、AFMによる新なナノスケール情報で、お客様のブレークスルーに貢献することです。」


【Dimension XR SPMについて】

BrukerのDimension XRシステムは、IconまたはFastScan (AFMプラットフォーム) のいずれも利用でき、画期的なナノメカニクス、ナノエレクトリックおよびナノケミカル研究のために、すぐに使用できる特性を提供する3つのシステムを用意しています。

Dimension XR Nanomechanics:AFM-nDMA、PeakForce QNM、FASTForce Volume、FASTForce Volume CRモードを組み合わせ、ナノメカニカル特性の材料を迅速かつ定量的に特性評価します。

 Dimension XR Nanoelectrical: PeakForce TUNA™、PeakForce KPFM™, DataCubeモードが本体に含まれ完璧な電気測定が可能なシステムです。 

Dimension XR NanoEC: EC-AFM, PeakForce SECM™モードを備えBruker独自のナノ電極プローブを持ち、ターンキーによる電気化学環境下でのin-situトポグラフィースキャンを実行し、ナノスケール局所反応性のリアルタイム定量分析を行います。

【Dimension XR についての詳細】

WEBサイト


ブルカーコーポレーションについて (NASDAQ: BRKR)

ブルカーコーポレーション(NASDAQBRKR)は、55年以上にわたり、工業分野、応用分析、分子、材料研究のためのハイパフォーマンスな科学機器とソリューションを提供するリーディングカンパニーです。バイオスピン事業部、ダルトニクス事業部、オプティクス事業部、ナノ表面計測事業部、Ⅹ線事業部、ナノ分析事業部から成り立ち、世界各地に工場と販売拠点を置き、お客様のご要望に応じた革新技術を提供し続けています。詳細については: www.bruker.com


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AFMプローブ価格改定のお知らせ

2018年12月7日

AFMプローブ価格改定のお知らせ


拝啓 時下ますますご清栄のこととお慶び申し上げます。
平素は弊社製品をご愛顧を頂き 厚くお礼申し上げます。

 この度 弊社AFMプローブ価格を改定させて頂くことになりました事をお知らせ申し上げます。

これまでお客様へなるべく低価格にてご提供できるよう弊社にて諸経費の削減をはじめとする企業努力により
価格の維持につとめてまいりましたが、弊社単独での努力では抗し難い状況となってきております。

 つきましてはまことに勝手ではございますが、来年1月よりプローブ価格を改定させていただくこととなりました。
弊社プローブをご愛顧頂いております皆様には、諸事情ご高察の上、今後とも何卒弊社製品をご愛顧賜りますよう
御願い申し上げます。

価格改定の実施時期
2019年1月1日以降ご注文分より 


【お問合せ先】

ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部
東京都中央区新川1-4-1
TEL:03-3523-6361
Mail: 
Probesinfo.BNS.JP@bruker.com


ブルカージャパン株式会社
ナノ表面計測事業部


プレスリリース

2018年5月8日

フォーカスバリエーション法を採用

ベンチトップ型 非接触3次元光学顕微鏡 Contour LS-K」新発売


 ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部(代表取締役:佐々木 直美、本社:横浜)は、このたび、LightSpeed™ フォーカスバリエーションを用いた新しいシステム「Contour LS-K(コンター エルエス ケー)非接触3次元光学顕微鏡」の発売を開始します。

 Contour LS-K非接触3次元光学顕微鏡は、高度なアルゴリズムにより最適化されたフォーカシング技術であるLightSpeed™フォーカスバリエーション技術を使用し、従来の方法と比較して高速で、非接触な表面計測技術を提供します。Contour LS-K5MピクセルCCDの搭載により、高速・高解像度リアルカラーイメージング技術を提供します。 また、ソフトウェアは30年以上にわたり開発されたVision64®ソフトウェアをベースに構築しており、データ処理、分析、および視覚化・定量化のための独自のソフトウェアアルゴリズムを特長としています。 さらにContour LS-Kは、自動X-Yステージ、電動式5ポジション対物タレット、デュアル照明(同軸とリングライト照明)が標準装備されております。

 

 LightSpeed™フォーカスバリエーションは、大きな凹凸や段差、または急峻な角度を持つ表面計測に理想的であり、ブルカー従来品Contour GT (3次元白色光干渉型顕微鏡) の持つ平滑表面計測技術やナノメートルオーダー計測にも対応します。           自動車、精密機械加工、製造、エレクトロニクス、医療機器業界の機械的検査、QA / QC検査、プロセス制御、RDなどの幅広いアプリケーションに最適なパフォーマンスを提供します。 


Contour LS-K についての詳しい情報はホームページをご覧ください。 →www.bruker.com/ContourLS


【ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部について】

この度、新製品Contour LS-Kを発表したブルカージャパン株式会社のナノ表面計測事業部は、201010月に米国Veeco Instruments 社の日本法人である日本ビーコ株式会社から事業譲渡され、既に長い間、世界のリーディングカンパニーとして知られているAFM・オプティカルプロファイラーを継続して販売しております。また、201110月には米国CETR社からトライボロジーテスターの試験機事業の買収、昨年1月の米国Hysitron社の買収により幅広いナノ分析装置トータルソリューションの販売・サポートを続けております。

ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部はこれからも大学・官公庁から企業製造工場まで最先端技術を必要とする研究開発・品質管理に幅広いソリューションを提供し、今後の豊かな社会に不可欠なナノテクノロジーの発展に深く貢献してまいります。

 

ブルカーコーポレーションについて (NASDAQ: BRKR)

ブルカーコーポレーション(NASDAQBRKR)は、55年以上にわたり、工業分野、応用分析、分子、材料研究のためのハイパフォーマンスな科学機器とソリューションを提供するリーディングカンパニーです。バイオスピン事業部、ダルトニクス事業部、オプティクス事業部、ナノ表面計測事業部、Ⅹ線事業部、ナノ分析事業部から成り立ち、世界各地に工場と販売拠点を置き、お客様のご要望に応じた革新技術を提供し続けています。詳細については: www.bruker.com


本件に関するお問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部 

Tel.03-3523-6361 / Fax.03-3523-6364 E-mail : Info-nano.BNS.JP@bruker.com


プレスリリース

2018年1月4日

会社統合のご案内


拝啓 時下ますますご清栄のこととお慶び申し上げます。

平素は一方ならぬご愛顧を頂き 厚くお礼申し上げます。

 さて このたび ブルカー・バイオスピン株式会社、ブルカー・ダルトニクス株式会社、ブルカー・オプティクス株式会社並びにブルカー・エイエックスエス株式会社の4社は平成30年1月1日をもって経営統合(合併)することになりましたのでお知らせ申し上げます。

なお 経営統合後の新たな会社名は ブルカージャパン株式会社となります。統合後の会社では4社に分散されていました各分析装置のビジネスを事業部として発展させると共に経営資源の統合により より高い顧客サービス 迅速性 効率化をはかり 役員・社員一同 ユーザー様及び取引先様各位の信頼を第一に全力を尽くす所存でございますので 引き続きのご支援ご鞭撻を賜りますようお願い申し上げます。

 統合により、所在地、連絡先の変更等はございません。今後とも何卒宜しく申し上げます。


ブルカージャパン株式会社 各事業部と連絡先はこちら

https://www.bruker.com/jp/about-us/offices/local-offices-web-pages/japan.html


ブルカージャパン株式会社

ナノ表面計測事業部


プレスリリース

2017年8月4日

CMPプロセス(化学機械研磨)の性能評価を実現する、

費用対効果の高いトライボロジーシステム「TriboLab CMP」が登場

~最も柔軟で安定したCMP評価を目的に、ブルカーが業界標準のCP-4プラットフォームをアップデート~


 [米国カルフォルニア州サンノゼ2017627日発]

ブルカーナノ表面計測事業部は、「TriboLab CMP (CMPプロセス・材料特性評価システム)」を発表しました。 新製品は、高い堅牢性を誇る「UMT TriboLabTM」メカニカル試験プラットフォームをベースとし、CMP(化学機械研磨)プロセス開発を目的とした評価において比類のない能力を発揮します。この新しいTriboLab CMPシステムは、CMPプロセスで用いるパッド・スラリーといった消耗材評価のため、幅広い研磨圧力(0.0550psi)及び、回転速度(1500rpm)、摩擦係数計測、AE信号(アコースティック・エミッション)、サンプル温度計測などを提供できる市場で唯一のツールです。

 

CMPプロセス向けの設備やウェハ研磨サービスの大手プロバイダーEntrepixCTODr. Robert Rhoades氏は、「CMPは先進的な半導体デバイス製造で従来以上に重要性が増しています。業界は、様々な材料の研磨中に起こるプロセスや消耗材の相互作用を効果的に評価できる手法を求めていました。ブルカー社のパートナーとしてTriboLab CMPプラットフォームの販売支援ができるのはとても喜ばしいことです。我々の取り扱い製品に、この新システムが加わり、パッドやスラリー、コンディショナー、研磨パラメータ間での複雑な相互作用を、細部まで評価できる信頼性の高いRDソリューションを提供する体制が整いました。」と語っています。

 

 ブルカー社TSOMビジネスの副社長兼、ゼネラルマネージャーのJames Earle氏は、「ブルカーはCMPプロセス用途向けに10年以上にわたって装置を提供してきました。その製品群の最新世代として今回、TriboLab CMPを紹介できることを嬉しく思います。TriboLab CMPはすでに、半導体産業における最先端CMP用途開発において、様々なお客様にご活用いただき、優れた試験評価性能が実証されています。TriboLab CMPは、CMPプロセスの評価のために、広範な研磨圧力と速度領域、AEデータ、摩擦、表面温度といった重要な計測結果を提供できる、市場で唯一の装置です」と述べています。


製品カタログはこちら→CMP_Process_and_Material_Characterization_System カタログPDF

 

TriboLab CMPについて

トライボロジー業界で認知されているUMT TriboLabメカニカル試験プラットフォームをベースとする、TriboLab CMPシステムの測定の正確さと再現性は、CMPプロセスを通じ要求される、効率的な品質保証や検査、継続的な機能性試験を可能にします。TriboLab CMPは、研磨プロセスをより深く理解する目的で「実態分析機能」を標準搭載し、過渡的な研磨特性を徹底的に見える化。ウェハ基板がパッドに触れた瞬間から試験完了までのデータが取得されるため、その詳細なデータを通じて、初期段階でのプロセス開発の決定を可能にします。また、本システムは小さな試験片での評価が可能なため、ウェハ全面の試験に比べ大幅なコスト削減が図れます。


本件に関するお問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部

Tel.03-3523-6361 / Fax.03-3523-6364 E-mail : Info-nano.BNS.JP@bruker.com