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2026年開催ウェビナー
募集中 2026年11月11日 13:30 - 15:05 | 2026年ノーベル化学賞で注目されるキラリティ科学〜超分子自己組織化が創る機能性材料の最前線〜 2026年のノーベル化学賞は、「不斉有機合成における非線形効果と自己触媒作用の発見」に対して、硤合憲三名誉教授とHenri B. Kagan名誉教授に授与されることが発表されました。今回の受賞を契機として、分子の「右手型」と「左手型」にかかわるキラリティがどのように生まれ、伝わり、増幅されるのかという研究に、改めて大きな注目が集まっています。 本ウェビナーでは、超分子キラリティ研究の第一人者として国際的に活躍されている、千葉大学の矢貝史樹教授をお招きします。分子が自発的に集合することで形成される超分子集合体では、個々の分子の性質だけでなく、集合体がつくる環状構造や螺旋構造などの形態が、材料の物性や機能を大きく左右します。矢貝研究室では、これまで構造制御が困難であった10 nm〜1 μmのメゾスケール領域において、多彩な超分子集合体を構築し、その構造形成のメカニズムや機能を明らかにしてきました。 本講演では、キラリティや不斉増幅に関連する最新の研究成果に加え、ナノリングをはじめとする特徴的な非キラル構造の自己組織化についても取り上げます。AFMによる個々の集合体の直接観察と、分光測定から得られる集団平均情報を相補的に活用することで、自己組織化の過程をどのように理解し、研究の進展につなげてきたのかを、研究の出発点から最新の成果までご紹介いただきます。 後半では、ブルカージャパンのアプリケーションエンジニアより、超分子集合体やナノ構造の観察に活用できるAFM測定技術をご紹介します。AFMの基本的な測定原理や装置・技術の特長に加え、関連する測定事例を交えながら、メゾスケール構造を高分解能で可視化するためのポイントを解説します。 ノーベル化学賞を契機にキラリティ科学への理解を深めたい方、超分子自己組織化や機能性材料の研究に携わる方、AFMを用いたナノ構造観察にご関心をお持ちの方におすすめのウェビナーです。 皆様のご参加を心よりお待ちしております。 | 視聴お申込み はこちら |
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募集中 2026年11月17日 10:00 - 11:00 | FilmTek x Dektakによる半導体プロセス計測ソリューション ～膜厚・屈折率・形状・応力評価によるプロセス最適化～ 半導体デバイスの高性能化・高集積化に伴い、膜厚や屈折率のばらつき、エッチング深さ、段差形状、ウェハ反り、薄膜応力などのプロセス管理は、デバイス性能や歩留まりを左右する重要な要素となっています。 本ウェビナーでは、ブルカーの光学式薄膜測定装置 FilmTek と触針式プロファイラー Dektak を用いた半導体プロセス計測ソリューションをご紹介します。FilmTekによる膜厚・屈折率・多層膜解析・TSV評価、Dektakによる段差・エッチング深さ・ウェハ反り・薄膜応力評価の特長を解説するとともに、シリコンフォトニクス、化合物半導体、LNOIデバイス、先端パッケージングなどの評価事例をご紹介します。 研究開発から量産工程まで、プロセス管理・不良解析・歩留まり向上に役立つ計測技術について分かりやすく解説します。 【こんな方におすすめ】 ・半導体プロセスにおける膜厚・屈折率評価に携わる方 ・多層膜構造や光学特性の解析手法を学びたい方 ・TSVやトレンチの深さ・CD評価を検討している方 ・エッチング深さや段差形状の高精度評価を行いたい方 ・ウェハ反りや薄膜応力の評価手法を探している方 ・シリコンフォトニクスデバイスの研究開発・製造に携わる方 ・化合物半導体や光通信デバイスの評価に興味のある方 ・MEMS・先端パッケージング分野の研究開発を行う方 ・成膜、CMP、エッチング工程のプロセス管理を強化したい方 ・FilmTekおよびDektakの評価事例を知りたい方 【本ウェビナーの内容】 ・FilmTekによる膜厚・屈折率・多層膜評価ソリューション ・FilmTek製品ラインナップと半導体・シリコンフォトニクス向け評価事例 ・Dektakによる形状・段差・応力評価ソリューション ・Dektak製品ラインナップと半導体プロセス向け評価事例 ・FilmTek × Dektakによるプロセス最適化・歩留まり改善アプローチ | 視聴お申込み はこちら |
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募集中 2026年11月27日 13:30 - 14:50 | 材料組織と力学特性をつなぐナノインデンター評価技術の最前線 ～ナノインデンター評価着日の最前線ウェビナー～ 近年、材料特性の発現機構を理解するためには、微細組織と局所力学特性を関連付けて評価することが不可欠となっています。ナノインデンテーションは、硬さや弾性率の評価に加え、転位活動や塑性変形挙動、結晶粒界が力学特性に及ぼす影響を定量的に解析できる強力な評価手法として注目されています。 本ウェビナーでは、熊本大学大学院先端科学研究部 教授 連川貞弘先生をお招きし、ナノインデンテーションを活用した結晶粒界近傍の転位挙動解析や、塑性変形メカニズムの解明に関する最新の研究成果をご紹介いただきます。 また、ブルカーより、局所力学特性と材料組織を結び付けて解析するための最新ナノメカニカル評価ソリューションをご紹介します。先進のナノインデンターの評価技術に加え、SEM・TEM・ラマン顕微鏡・光学顕微鏡・放射光X線との相関解析を通して、材料の変形・破壊メカニズムの理解を支援する評価アプローチについて解説します。 【本ウェビナーの内容】 ・【特別講演】「ナノインデンテーションで探る結晶粒界の転位挙動と塑性変形」熊本大学大学院先端科学研究部 教授 連川貞弘先生 ・構造・化学・力学をつなぐナノインデンテーション技術の新展開および先進アプリケーションのご紹介 ・材料の構造情報や科学情報と機械特性を相関分析アプローチについて解説 | 視聴お申込み はこちら |
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募集中 2026年12月1日 13:30 - 15:30 | ライフサイエンス研究を支える先端分析技術 ～ラマン・赤外分光、AFMによるナノスケール解析から臨床応用まで～ ライフサイエンス分野では、医薬品や生体試料の微細構造、化学組成、物性を高い空間分解能で捉える分析技術が求められています。 本ウェビナーでは、株式会社東レリサーチセンターの元代表取締役社長であり、現在は同社非常勤 技術・経営顧問および吉川正信 半導体・材料分析技術コンサルティング代表を務める吉川正信様をお招きします。ラマン分光法、赤外分光法およびAFMの基礎から、医薬品、がん組織、エクソソーム、生体試料を対象とした先端分析事例まで、1時間にわたり幅広くご紹介いただきます。 続いてブルカーから、ナノ分解能の赤外分光技術PeakForce AFM-IR、BioAFM NanoWizardによる生体試料観察、QCL赤外レーザーイメージング顕微鏡の臨床応用に向けた取り組みをご紹介します。 各分析手法の基礎と特長を理解し、ライフサイエンス研究への新たな活用方法を検討いただける機会です。皆様のご参加をお待ちしております。 【本ウェビナーの内容】 ・ラマン分広法、赤外分光法及びAFMを用いたライフサイエンス分野の最先端分析事例のご紹介 ・ナノ分解能の赤外分光技術PeakForce AFM-IR ～新測定モード PeakForce AFM-IRの紹介～ ・簡単！早い！BioAFM NanoWizardのご紹介 ・ケミカルイメージング顕微鏡の臨床応用にも対応したQCL赤外レーザーイメージング顕微鏡のご紹介 | 視聴お申込み はこちら |
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わかる！干渉計 シリーズ
終了 PCB基板の 品質管理 生産管理 | スマートPCB製造を支える次世代3D光干渉計「ContourSP」の最前線（Live） 非接触3D光干渉計 ContourSP によるPCB基板の品質管理・生産管理ソリューション ～最新モードUSI・Vision64®解析機能・AOI連携による実践活用技術をご紹介～ 高密度実装化・高周波化が進むPCB製造では、微細パターンや表面形状を高精度かつ高速に評価することが求められています。 一方で、AOIなどの2D検査だけでは把握が難しい高さ情報や3D形状データへのニーズも高まっています。 本ウェビナーでは、ContourSPの最新測定モード「USI」をはじめ、Vision64®による高度な解析機能、AOIとの連携による高精細画像取得、多様な基板・パネルサイズに対応する柔軟な固定治具など、生産現場で役立つ実践的な活用事例をご紹介します。スマートファクトリー実現に向けた測定自動化や品質向上のヒントを、ぜひご覧ください。 【こんな方におすすめ】
| 終了 |
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| 開催日程 | 内容 | お申込み受付 |
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終了 PCB基盤向け 光学式粗さ計 | 【わかる！光干渉計】非接触3D光干渉計 Contourシリーズ PCB基板の生産管理に向けた高機能3D形状測定システム“ContourSP“の最新動向 トランジスタジオメトリの急速な小型化を追求する半導体業界ロードマップにより促進されるPCB 製造現場における “ContourSP”の形状&寸法測定の仕様・能力をご紹介致します。 | |
終了 非接触光学式 粗さ計の選び方 | 【わかる！粗さ測定 】非接触光学式粗さ計の選び方 ウェビナー 共焦点法、焦点移動法、干渉法の能力比較や干渉法（CSI法/Coherence Scanning Interferometry）の位置づけ、ブルカーによる干渉法の課題解決策など実測例を交えて解説します。（約35分） | 録画視聴 |
終了 光学式、接触式 使い分け | 【わかる！粗さ測定 】～光学式、接触式をどう使い分ける～ 接触式プロファイラーと光学式（白色干渉方式）による表面粗さ測定についてメリットデメリットを交えてご紹介します。光学式粗さ計の導入を検討の方や、粗さ測定の基礎を知りたい方にお勧めです。（約30分） | 録画視聴 |
終了 自動機能 | 【わかる！光干渉計】非接触3D光干渉計 Contourシリーズ ～精密部品製造における品質管理のさらなる向上に向けた各種 自動機能のご紹介～
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解析ソフト機能紹介
終了 Vision64 Mapで 極める3D表面解析 | Vision64 Mapで極める3D表面解析 ～解析からレポートまでの効率化～ 高度解析からレポート作成までを効率化するVision64 Map活用術（再放送） 研究開発や製造現場において、表面性状評価は性能評価や品質保証に不可欠な工程です。しかし、測定後のデータ解析やレポート作成に多くの時間を要するケースも少なくありません。 本ウェビナーでは、ブルカーの高度解析オプションソフトウェア「Vision64 Map」を活用し、ISO/JIS準拠の粗さ解析をはじめ、粒子解析、凹凸解析、テクスチャ解析、周波数解析など、多彩な3D表面解析機能をご紹介します。また、Vision64とのシームレスな連携による解析ワークフローの効率化やレポート作成の自動化、複数測定データの統合解析についても解説します。 ブルカー製表面形状測定システムをご利用中の方や、解析業務の効率化を検討されている方におすすめの内容です。 【こんな方におすすめ】
【主な内容】
| 終了 |
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材料表面の弾性率評価
| 開催日程 | 内容 | お申込み受付 |
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終了 弾性率評価比較 | 弾性率ってどう測る？ ～AFM vs. ナノインデンター～ 本ウェビナーでは、ナノインデンターとAFM（原子間力顕微鏡）のどちらをどのように使えばよいのかという疑問にお応えするため、Q&A形式でわかりやすく解説いたします。参加登録時にお寄せいただいたご質問や、日頃より多く寄せられるご相談をもとに、両手法の測定原理や活用範囲、弾性率マッピングの違いについて、弊社アプリケーションエンジニアが丁寧にご説明いたします。さらに、試料準備における注意点や、測定手法の選定におけるポイント、さらには環境条件に応じた具体的な評価事例など、実務に直結する内容もご紹介いたします。 2025年６月23日（約60分） | 終了 |
【表面性状】
| 開催日程 | 内容 | お申込み受付 |
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終了 2025年11月13日 | 表面性状評価の最前線：AFM・Stylus・WLIの使い分けと実践データ紹介 表面性状評価における代表的な測定手法であるAFM（原子間力顕微鏡）、Stylus（触針式）、WLI（光白色光干渉計）について、それぞれの原理と特徴をわかりやすく解説します。成膜・CMP・半導体分野で重要となる「粗さ」や「膜厚」の測定において、どの手法が最適かを実データを交えてご紹介いたします。薄膜・厚膜測定などの具体的な測定事例を通じて、技術者・研究者の皆様が現場での選定に役立てられる内容となっています。 『表面性状評価の最前線：AFM・Stylus・WLIの使い分けと実践データ紹介』 2025年11月13日（約30分） | 準備中 |
わかる！AFMシリーズ
| 開催日程 | 内容 | お申込み受付 |
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終了 原理と形状 コンタクト・タッピング | 【わかる！AFM】原理と形状測定 初級コース コンタクト・タッピングモード AFMとは何かから、装置構成、測定の前準備、注意点、コンタクトモードとタッピングモードの原理と測定例をわかりやすく解説します。2023年4月20日 (約30分) | |
終了 ピークフォース タッピング | 【わかる！AFM】ピークフォースタッピング 初級コース ピークフォースタッピングモード ピークフォースタッピングの基礎と動作原理を解説し、このモードで測定された高分解能形状像を紹介します。2023年5月22日 (約30分) | |
終了 機械特性 | 【わかる！AFM】機械特性 中級コース ～PeakFoece Tapping QNM/ QIモード/ Force Volume Mapping～ 本ウェビナーでは、最初に、AFMの原理、AFMを用いてどんなことができるのか？など、基本的なことを紹介したあと、AFMを用いてどのように機械特性評価がなされているのかなどその研究報告例とともにご紹介いたします。本ウェビナーを通じて、現在はAFMを形状評価にしか用いていない方にも、機械特性評価が思ったより簡単にできることを知っていただければと思います。（約40分） | |
終了 機械特性 | 【わかる！AFM】機械特性 上級コース AFM-nDMAの基礎とコツ ～ ⾼分⼦材料の機械特性をナノスケールでマッピング～ 機械特性 AFM-nDMAをテーマにご紹介致します。 アプリケーションエンジニアによる技術解説と装置デモンストレーションを通して、AFM-nDMAの基礎とコツをご紹介致します。 前半の部 20分：AFM-nDMAの基礎とコツ ～ ⾼分⼦材料の機械特性をナノスケールでマッピング～ 後半の部 15分：デモンストレーション | |
終了 電気特性 TUNA / cAFM | 【わかる！AFM】電気特性 中級コース TUNA / cAFM わかる！AFM シリーズ（再放送）8月は、電気特性中級コースとして、コンダクティブAFM（TUNA / cAFM)について説明いたします。ブルカーアプリケーションエンジニアより、コンダクティブAFMの原理、測定データの紹介、測定のコツなどを解説いたします。 | |
終了 TR mode | 【わかる！AFM】Torsional Resonance Modeの基礎とコツ ～AFM高分解能観察の新しいアプローチ～ 一般的なAFM測定モードであるTapping modeでは，探針を垂直方向に動かしながら測定を行う。一方，ねじれ共振モード (Torsional resonance mode: TR mode) では，探針を試料表面に対し水平方向に振動させる。この時，探針先端と試料との間に摩擦力等の水平方向の力が加わると，カンチレバーの共振周波数に変化が生じ，これを高さ制御に用いることで Tapping mode と同様にして表面形状を捉えることが可能となる。 TR mode で用いるカンチレバーのねじれ共振は，通常高いQ値を持つことから，高速・高分解能の表面形状観察に期待が寄せられている。加えて，その動作原理から試料表面の摩擦評価や面内異方性の解析といった新たな観点で材料表面を分析することも可能である。近年，こうした TR mode から派生した Torsional Resonance Dynamic Friction Microscopy (TR-DFM or TFM) と呼ばれる新しい測定法が開発された。TR-DFM modeでは，2D材料の原子・格子構造の高分解能イメージング（スタンフォード大学との共同研究）をはじめ，様々な環境における表面高分解能観察を簡便に実現する新しいアプローチとして注目を集めている。 本ウェビナーでは，TR mode の原理からそのユニークな特性・アプリケーション，そして最新のTR-DFMモードの紹介を行う。 | |
終了 電気特性 KPFM | 【わかる！AFM】電気特性 中級コース KPFMの基礎 とコツ ～ 表面・界面の電子状態可視化（KPFM）の原理と応用～ わかる！AFM シリーズ（再放送）9月は、電気特性 KPFMをテーマにご紹介致します。 本ウェビナーでは、KPFM（ケルビンプローブフォース顕微鏡）に関するウェビナーを企画しました。今回は特別講師にAFMの表面電位可視化技術において先駆的な業績で知られております神戸大学の大西先生をお招きし、KPFMの基礎や測定例に関してご講演頂きます。また、ブルカーからはアプリケーションエンジニアよりKPFM測定デモについてご紹介します。皆様のご参加をお待ちしています。 | |
終了 電気特性 SCM, SSRM, sMIM | 【わかる！AFM】電気特性 中級コース SCM, SSRM, sMIMを用いた表面・界面の電気特性評価 わかる！AFM シリーズ（再放送）10月は、機械特性「SCM, SSRM, sMIM」を用いた半導体解析をテーマにお届けします。今回はブルカーアプリケーションエンジニアよりAFMを用いた電気測定の基礎や各種解析結果、更に最新のデータキューブ測定例についてご紹介し、最後に試料作製方法を簡単に紹介します。 | |
終了 磁気力/電気力勾配 | 【わかる！AFM】磁気力/電気力勾配 中級コース ～ MFM / EFMの原理と応用 ～ 本ウェビナーでは、最初にMFM / EFMの原理・駆動方法の説明を行い、また、どのように磁気力/電気力を検出しているかを解説いたします。後半では実サンプルの測定例、MFMでは外部磁場などを用いた測定例などを紹介します。最後に最近リリースされた新測定モード PF-MFM / PF-EFMの測定データを紹介いたします。 | |
終了 熱特性 | 【わかる！AFM】熱特性 局所熱分析 nanoTA ～原子間力顕微鏡(AFM)を利用したナノスケール熱分析手法の紹介～ 材料の特性評価や相分離、成分分布の特定が可能となる、AFM Nano-TAとSThMを用いた材料の局所転移温度や熱特性の高解像度マッピングについて紹介します。2023年６月6日（約35分） | |
終了 電気特性 PFM | 【わかる！AFM】電気特性 PFMの基礎とコツ ～ 圧電応答顕微鏡（PFM）の原理と応用～ わかる！AFM シリーズ（再放送）の今回は、圧電応答顕微鏡（PFM）をご紹介します。特別講演として兵庫県立大学 藤澤浩訓教授に圧電応答顕微鏡PFMの原理と測定実例をご発表頂くほか、アプリケーションエンジニアよりAFMを用いたSS-PFMを始めとする弊社のPFM測定のご紹介と実機によるデモを実施致します。 2021年10月19日（約20分） | |
終了 自動多点測定 | 【わかる！AFM】原子力顕微鏡による自動多点測定方法の紹介 ～対象：形状、機械的特性、磁気的・電気的特性への応用～ 半導体、光、磁気デバイス向けの構造や特性測定を、例えばウェハー面内の多数点で測定を行い、プロセス工程内の面内ばらつき確認や品質管理にAFMを用いるケースが増えてきています。単一条件による多数点測定から、測定位置毎に様々な測定を組み合わせる応用例まで多岐にわたります。このウェビナーでは、専用測定ソフトを使用した自動多点測定方法の概要について説明します。 2024年3月27日（約20分） |