イベント・セミナー情報
| ブルカージャパン（株） ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の１つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。 167委員会のHPはこちら http://www.npt167.jp/ |
最新イベント情報 Webセミナー
ウェビナー配信サービスには「GoToWebinar」を利用致します。GoToWebinar のインストールが可能なPC及びモバイル端末等をご用意をお願い致します。※クリックしても開かない場合は、ブラウザを変えてお試し下さい。(※対応ブラウザ Google Chrome, Edge, Firefox最新Ver.)
ご勤務先のセキュリティーポリシーによってはアクセスが許可されていない場合もございます。事前にIT部門の方へご確認願います。ご登録後にウェビナー参加詳細が書かれたメールが届きます。当日は開始10分前までに、メールに記載されたリンクをクリックし、参加します。（当日は15分前よりログイン頂けます。）GoToWebinar システム要件はこちら▶ https://bit.ly/3sne6xl
※同業者の方ご参加はご遠慮下さい。
春から始める方へ！初心者向け AFM プローブの選び方 Tips
| 開催日程 | ウェビナータイトル | お申込み受付 |
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2022年5月19日（木） 1１:00～1１:30 2022年5月26日（木） 16:00～16:30 | ＜初心者にお勧め！＞AFMプローブの選び方＃5 表面形状測定と測定方法のヒント 概要：2022年３月に開催したウェビナーの録画再生です。4月以降にAFMを使用され始めた初心者向けウェビナーです。AFM測定方法 - Tapping mode、 PeakForce Tapping mode – による表面形状測定用プローブの選択方法、および、実機（録画デモ）を交えた測定フローとパラメーター設定、測定方法のヒントについて説明します。 | ご参加登録はこちら ※同業の方はご遠慮 |
春から始める方へ！初心者向け ナノインデンター基礎
| 開催日程 | ウェビナータイトル | お申込み受付 |
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2022年5月19日（木） 16:00～16:45 2022年5月26日（木） 11:00～11:45 | ナノインデンター基礎ウェビナー2022 第1部 ：ナノインデンターの基本習得講座 第2部 ：ナノインデンターお悩み解決コーナー 概要：＜4月15日開催しましたウェビナーの録画再生となります＞ ナノインデンターはナノ・マイクロスケール材料の力学・トライボロジー特性を定量的に評価する装置です。半導体材料・金属・高分子・生体材料など様々な材料に対し、硬さ・弾性率のみならず、密着・摩擦特性や粘弾性など幅広い評価が可能です。 第1部では、ナノインデンターを初めて触れる方や測定手法全般をご確認されたい方向けに、ナノインデンター基礎講座を開催いたします。 第2部では、ナノインデンターの測定方法や解析方法などについて、皆様のご質問・お悩みに、技術に精通したスタッフが回答いたします。（※録画再生のためご質問の受付はしておりません。） どちらかの部のみにご参加いただくことも可能です。皆様のご参加をお待ちしております。 ＜ご参加対象＞
| ご参加登録はこちら ※同業の方はご遠慮ください |
半導体製造ライン・研究開発用途向け原子間力顕微鏡、X線評価技術の最前線
～300ｍｍ自動搬送対応フルオートモデルからR&D向け評価装置迄、最新技術のご紹介～
| 開催日程 | ウェビナータイトル | お申込み受付 |
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2022年5月25日（水） 13:30～14:45 | 半導体製造ラインから研究開発向け自動化AFM・X線評価技術の最前線 ～300ｍｍ自動搬送対応フルオートモデルからR&D向け評価装置まで最新技術のご紹介～ 概要：この度、半導体をテーマにした各種装置をご紹介するウェビナーを開催する運びとなりました。皆様のご参加をスタッフ一同お待ちしております。これまで原子間力顕微鏡（AFM）は半導体各工程において、ウェーハーの表面粗さ、凹凸形状、欠陥、膜厚の自動測定から、不純物濃度や機械・化学特性の微細解析迄、多種多様な目的に使われてきました。 今回のウェビナーでは特に近年実用化された技術を中心に、AFMのみならずX線評価技術・装置も併せて紹介致します。製品開発のみならず材料、素材、分析技術、製造装置など半導体に関わる多種多様な分野の方に興味を持っていただけるセミナーです。 | ご参加登録はこちら ※同業の方はご遠慮 |
【ZEISS x Bruker共催】超解像イメージングよるマルチモーダル生細胞解析
〜共焦点顕微鏡と原子間力顕微鏡で生命現象を複合的に理解する〜
| 開催日程 | ウェビナータイトル | お申込み受付 |
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2022年5月26日（木） 14:00～15:00 | 【ZEISS x Bruker共催】 超解像イメージングよるマルチモーダル生細胞解析 〜共焦点顕微鏡と原子間力顕微鏡で生命現象を複合的に理解する〜
| ご参加登録はこちら ※同業の方はご遠慮 |
終了済み ウェビナー 録画ご視聴はこちらから
※同業の方はご遠慮願います。
装置別
観察対象/測定目的別
※■Optical：三次元白色干渉型顕微鏡 ,■NI：ナノインデンター , ■nanoIR：ナノスケール赤外分光分析,
■Stylus：触針式プロファイラー（膜厚段差計）
| 観察分野別▶ ▼測定目的別 | 材料 金属 (セラミック・ 金型他） | 材料 高分子 | 材料 バイオ | 半導体 | 高分解能 | 環境制御(液中) | 環境制御 (In-situ SEM/TEM) | 全般 |
形状 | ■Optical基礎① | ■バイオAFM応用① ■バイオAFM応用② ■バイオAFM基礎① | ■AFM応用④ | ■AFM基礎① ■Stylus基礎① ■Optical基礎② ■Optical基礎③ ■μCT & Optical | ||||
摩擦摩耗 | ■摩擦摩耗＆Optical応用 | ■摩擦摩耗基礎① ■摩擦摩耗基礎② ■摩擦摩耗応用① | ||||||
機械特性 | ■NI応用① | ■NI応用② ■xRF & AFM | ■バイオAFM応用① ■バイオAFM応用② ■バイオAFM基礎① ■NI応用② | ■NI応用③ | ■NI基礎④ | ■NI基礎① ■NI基礎② ■NI基礎③ | ||
ナノ ケミカル | ■nanoIR基礎① ■nanoIR基礎② ■nanoIR基礎③ ■nanoIR基礎④ | |||||||
電気特性 | ■AFM基礎③ | ■AFM応用① ■AFM応用② | ||||||
その他 | ■AFMプローブ |
AFM基礎シリーズ
※同業の方はご遠慮願います。
SPM基礎① | AFMベーシック ウェビナー ① 基礎編 ～30分で学ぶAFMの構成と基礎知識～ AFMの基礎やPeak Force Tappingモードの原理について30分でわかりやすくご紹介します。（30分） |
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SPM応用① | AFMベーシック ウェビナー ② 機械特性 AFMによるナノ機械特性測定にフォーカスし、その基礎から応用までを豊富な測定例を交えてわかりやすくご紹介。（30分） |
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SPM応用② | AFMベーシック ウェビナー ③ 応用編 電気特性 電気特性モードには様々手法があります。半導体の不良解析、様々な導電性材料の解析、また、近年開発が頻繁に開発されているリチウムイオンバッテリーの解析の測定例など交えて、各電気的特性モードのご紹介をしていきます。（30分） |
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SPM応用③ | AFMベーシック ウェビナー ④ 応用編 液中測定の基礎（実演デモ有り） WEB DEMO 液中測定のための事前準備手順から測定までの流れをご説明。後半では、デモ機を使用した液中測定を実演します。（60分） |
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わかる！AFMシリーズ ＃１KPFM / #2 半導体
わかる！AFM | 【わかる！AFM】KPFMの基礎 とコツ ～ 表面・界面の電子状態可視化（KPFM）の原理と応用 招待講演 測定デモ KPFM（ケルビンプローブフォース顕微鏡）に関するウェビナー。特別講師にAFMの表面電位可視化技術において先駆的な業績で知られております神戸大学の大西先生をお招きし、KPFMの基礎や測定例に関してご講演頂きます。ブルカーアプリケーションエンジニアよりKPFM測定の測定デモンストレーション実施します。 |
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わかる！AFM | 【わかる！AFM】半導体解析の基礎 とコツ ～ SCM, SSRM, sMIMを用いた表面・界面の電気特性評価 ～ わかる！AFM シリーズ第2弾として、SCM, SSRM, sMIM を用いた半導体解析に関するウェビナーを企画しました。今回はブルカーアプリケーションエンジニアよりAFMを用いた電気測定の基礎や各種解析結果、更に最新のデータキューブ測定例についてご紹介し、最後に試料作製方法を簡単に紹介します。 |
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わかる！AFM | 【わかる！AFM③】AFM-nDMAの基礎とコツ ～ ⾼分⼦材料の機械特性をナノスケールでマッピング～ AFM-nDMAをテーマにしたブルカーのわかる！AFMシリーズ第3弾は、アプリケーションエンジニアによる技術解説とデモンストレーションのご紹介を致します。 |
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AFMプローブ選び方シリーズ
基礎
SPM基礎 | AFMプローブの選び方＃1 表面形状および表面粗さ測定（気中） ＜30分＞ 『こんなに簡単！AFMプローブ選択の基礎』 AFM測定方法 - Tapping mode、 PeakForce Tapping mode - それぞれに適した、表面形状および 表面粗さ測定用プローブの選択方法と種類について解説します。 |
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SPM基礎 | AFMプローブの選び方＃2 機械的特性の測定（気中）＜25分＞ 『弾性率・凝着力や粘弾性率測定用プローブ選択の基礎』 AFM測定方法 - PeakForce Tapping mode、AMF-nDMA, フォースカーブおよびコンタクトリゾナンス - 弾性率・凝着力・押込み量および粘弾性特性E’・E”・Tanδ測定に適したプローブの選択方法と種類について解説します。 |
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SPM基礎 | AFMプローブの選び方＃3 液中測定 ＜25分＞ 『DNA・細胞等ライフサイエンスサンプル測定用プローブ選択の基礎』 ライフサイエンス用AFM測定は、１．DNAや細胞等の形状、2．サンプルの機械的特性、 ３．タンパク質などの動的挙動の高速測定等、多岐にわたります。 多種多様にわたるライフサイエンスサンプルを測定するためのプローブ選択方法について分かりやすく解説します。 |
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| 開催日程 | ウェビナータイトル |
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SPM基礎 | AFMプローブの選び方＃4 New |
AFMプローブ選び方
SPM基礎 | プローブの選び方と最新プローブのご紹介 ウェビナー ~もう迷わないプローブ選定のポイントと最新情報について~ 各モードに対する標準プローブと、多数あるプローブラインナップから最適なプローブを選択する方法をわかりやすく説明。形状測定だけでなく、機械特性、電気特性測定モードについてもご紹介致します。（約60分） |
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測定モード 新技術Ringing Mode
Ringing | PeakForce Tapping と新技術Ringing Modeによる ナノスケールの表面特性への新しい考察 WEBセミナー New |
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表面分析技術比較
AFM / nanoIR | 表面分析ダイジェストウェビナー ～表面・界面の状態を捉える！開発・品質向上につなげる表面分析技術～ 日産アークｘブルカー 受託分析会社日産アークと分析装置メーカーブルカーから、各種分析装置の特徴を活かした測定・解析技術とその事例を通じて、表面分析を材料開発にどのようにアプローチさせ、活用できるかについてご紹介します。（各20分 x 4） |
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二次電池解析
AFM | 二次電池解析ウェビナー ～LIBから全固体電池まで、状態をとらえる分析･解析技術～ 日産アークｘブルカー 特殊な分析･解析を得意とする日産アークと、分析装置の特徴と活用方法を提案しているBruker から、LIB電極･全固体電池の分析･解析技術をテーマに、解析アプローチから測定事例まで、様々な分析･解析手法ををご紹介します。。（各20分 x 4） |
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高分子薄膜評価
AFM / Ⅹ線回折 高分子薄膜 | 高分子のIn-Situ結晶評価ソリューションWEBセミナー ～Ⅹ線回折と原子間力顕微鏡による高分子薄膜の多角的評価～ 高分子材料、高分子薄膜の結晶評価・解析技術の最前線をテーマにしたオンラインセミナーをブルカーＸ線事業部とナノ表面計測事業部の共催でお届けします。(各30分ｘ2） |
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バイオAFM（詳細・お申込みはタイトルをクリック）
バイオAFM基礎・応用事例
バイオAFM | 【ブルカー x 京都大学ナノテクノロジーハブ拠点 共催】 バイオAFM入門 Webinar ～基礎から実測定まで～ 前半に、AFMの原理、AFMを用いてどんなことができるのか？など、基本的なことを紹介し、後半では、実際のAFM装置を用いて、生体試料をどのように測定しているのかを、カンチレバーの装置への取り付けからデモンストレーション。 ＜プログラム＞ 1. AFMの原理と基礎 2. バイオAFMのオンラインデモ | 準備中 ※同業の方はご遠慮 |
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バイオAFM | こんなに簡単になったBioAFM ~バイオ向けAFMによる生体試料測定例とその応用展開~ AFMの原理、AFMを用いてどんなことができるのか？などを、様々な生体試料の測定例とともにご紹介。 |
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バイオAFM | バイオ試料向け原子間力顕微鏡の紹介 ～DNA・細胞・組織観察およびその力学計測～ 製薬向け 細胞間相互作用の計測は、薬剤の効果、遺伝子発現の影響を知る上で重要になってくる可能性があり、AFMを用いた事例として大変興味深い内容となっております。今回は生体試料の測定例と、試料が実際どのように測定されているかを動画等でご紹介。 |
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AFM基礎シリーズ
SPM基礎 | AFMプローブの選び方＃3 液中測定 ＜25分＞ 『DNA・細胞等ライフサイエンスサンプル測定用プローブ選択の基礎』 ライフサイエンス用AFM測定は、１．DNAや細胞等の形状、2．サンプルの機械的特性、 ３．タンパク質などの動的挙動の高速測定等、多岐にわたります。 多種多様にわたるライフサイエンスサンプルを測定するためのプローブ選択方法について分かりやすく解説します。 |
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製品紹介・基礎・応用事例
バイオAFM | 光学顕微鏡と一緒に使う原子間力顕微鏡 ～光学顕微鏡と同時使用可能なAFMのご紹介 - NanoWizardシリーズ～ AFMは細胞観察の手法として細胞表面の観察だけでなく、細胞のヤング率、抗原抗体間の相互作用力の計測が可能で、細胞評価に役立ちます。ウェビナーでは液中測定が容易で様々な光学顕微鏡とのマッチングが可能なブルカーバイオAFMについて基礎と応用例をご紹介。 |
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ナノスケール赤外分光分析（詳細・お申込みはタイトルをクリック）
nanoIR 新測定モード
AFM-IR | ＜新測定モード＞ Surface sensitive AFM-IR が切り開くナノ赤外分光の新たな未来 AFM-IRは，ナノスケールの赤外分析のためのツールとして現在広く知られており，材料科学，生命科学，宇宙化学など様々な研究・開発領域で使用されている。 今回ご紹介するSurface sensitiveモードは，AFM-IRに加わる新たな測定モードであり， 表層 30 nm の化学構造を選択的に分析する。これにより，従来AFM-IR測定における一つの課題であった試料作製プロセスを大幅に簡略化し，見たいものをそのまま分析することが可能となる。本ウェビナーでは，その測定原理から装置構成の説明，そしてデモ機での測定の様子を交えて詳しくご紹介する。 ＜こんな方におススメ＞
| ご視聴ご希望 の方は こちらまで ご依頼下さい |
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AFM-IR | 新測定モード Surface sensitive AFM-IR の性能と使い方 今回ご紹介するSurface sensitiveモードは，AFM-IRに加わる新たな測定モードであり， 表層 30 nm の化学構造を選択的に分析する。これにより，従来AFM-IR測定における一つの課題であった試料作製プロセスを大幅に簡略化し，見たいものをそのまま分析することが可能となる。本ウェビナーでは，その測定原理から装置構成の説明，そしてデモ機での測定の様子を交えて詳しくご紹介する。 | ご視聴ご希望 の方は こちらまで ご依頼下さい |
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nanoIR / s-SNON基礎
AFM-IR | ナノ赤外分光技術の最前線～AFM-IRが実現するナノ領域の赤外分光分析～ AFM-IR分光法は、AFMと赤外パルスレーザーとの組み合わせにより光の回析限界を超える超微小領域から対象の赤外吸収特性を得る新しい分析技術です。ナノスケールのケミカルイメージング及びスペクトル測定は、試料の化学組成や分散状態を容易に可視化します。本ウェビナーでは、このようなAFM-IRの測定原理と測定例、そしてその最新技術について広範囲にご紹介します。 |
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AFM-IR | 新製品Bruker製ナノ赤外分光装置 nanoIR3 ～AFM-IRが実現するナノ領域の赤外分光分析～ WEB DEMO Bruker 製 AFM-IR 装置の最新機種である nanoIR3 について、その測定原理から装置構成，そしてデモ機での測定・解析の様子を交えて詳しくご紹介していきます |
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走査型近接場光顕微鏡 | 新製品Bruker製 Nano-FTIR分光装置 nanoIR3-s ～散乱型 SNOMで出来ること・分かること～ WEB DEMO Bruker 製 Nano-FTIR 分光装置 nanoIR3-s は、原子間力顕微鏡上に散乱型 SNOM (Scattering Scanning Near-field Optical Microscopy) とナノスケール赤外分光顕微鏡（AFM-IR）のシステムを統合した、新しい分析プラットフォームです。新製品nanoIR3-s についてその測定原理から装置構成、デモ機での測定・解析の様子を交えて詳しくご紹介していきます。 |
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ライフサイエンス
ナノ赤外分光 | ナノ赤外分光分析 Lifescience 分子イメージングウェビナー「ナノ赤外分析技術の基礎」 <キーワード＞ナノスケールのIRイメージング、生体内の微小な構造・機能の解析法、溶液中の試料のIR分析（約30分） |
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三次元白色干渉型顕微鏡 （詳細・お申込みはタイトルをクリック）
基礎
3次元白色干渉型顕微鏡Tips | あなたの3D粗さ測定技術が広がる！ 3D白色光干渉型顕微鏡ウェビナー 3次元白色光干渉型顕微鏡の実務に役立つ機能をご紹介します。 - スロープ機能の測定実力 - 垂直・水平分解能の測定実力 - 膜厚特性評価など |
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電子材料
| 開催日程 | ウェビナータイトル | お申込み受付 |
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2022年3月18日（金） 13:30～14:10 | 三次元白色干渉型顕微鏡による電子材料測定＜最前線＞ウェビナー 近年の、電子材料の加工技術の高度化・高精密化に伴い、微細な表面形状の評価技術は、より高い精度・正確さが求められます。今回は電子材料をテーマに、短い測定時間で、非接触でナノからミリまで表面形状を観察できる三次元白色干渉型顕微鏡による測定原理やレーザー顕微鏡との違いや、メリット、マイクロエレクトロニクス分野の最新測定事例をご紹介致します。 | 準備中 ※同業の方はご遠慮 |
| 開催日程 | ウェビナータイトル |
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2021年5月20日(木) 11:00~11:30 | 【応用編】非接触3D光干渉計を用いた様々な電子材料の表面形状測定の必要性 ＜準備中＞ 今回のウェビナーでは非接触3D干渉技術を用いた各種電子材料における表面形状計測の必要性とその効果についてをテーマに、干渉計の簡単な原理からレーザー顕微鏡との比較、干渉計が提供する測定値の再現性・ゲージ値の実力に関してなどを30分にまとめてお話します。 ＜こんな方におススメ＞
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基礎・計測事例
オートモーティブ
トライボロジー 三次元白色干渉 | 摩擦・摩耗研究のスタンダードUMT TriboLabの紹介と評価事例 摩擦・摩耗の研究開発用途として、UMT TriboLabは世界で広く使われています。本ウェビナーではUMT TriboLabを実際に研究開発・製造プロセス・品質管理などの現場で用いられている評価事例をご紹介します。（50分） 白色干渉法を用いたトライボロジー評価技術 ～基礎から応用～ WEB DEMO 3次元白色干渉型顕微鏡は様々な分野で様々なサンプル表面性状の評価を計測するツールの一つであります。 非接触で表面性状を計測することが可能なためにプロセスの過程、実験やテスト前後での評価が可能になります。 本ウェビナーでは3次元白色干渉型顕微鏡の基礎から、摩擦・摩耗の研究開発用途での事例をご紹介いたします。 後半にはウェブ形式のデモを実施いたします。 （30分） |
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トライボロジーの多角的評価手法
| 開催日程 | ウェビナータイトル |
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摩擦摩耗試験 | 最新トライボロジーの多角的評価手法 ～摩擦摩耗試験機と3次元白色干渉計による評価技術と事例～ <準備中＞ 様々な技術分野において、摩擦・摩耗にかかわる基礎知識は必要不可欠です。昨今では、新しい価値の創造のためのトライボロジー として、低摩擦下による省エネルギーや耐摩耗性向上による低資源化に向けた研究開発が盛んとなっています。このようなトライボロジー評価の正確性を高める手段として本ウェビナーでは、ブルカーの摩擦摩耗試験機と3次元白色干渉計を用いた多角的評価手法を各種事例を交えながらご紹介致します。 また最後には実機によるデモンストレーションを行います。皆様のご参加をお待ちしております。 対象業界：車載部品・医療用部品・精密部品・潤滑材ほか <プログラム＞ ・TriboLabを活用した摩擦・摩耗・潤滑評価技術のご紹介」 ・「白色干渉法を用いた摩擦摩耗試験の表面評価技術 ～紹介装置NPFLEX～」 装置デモンストレーション ・多機能摩擦摩耗試験機 TriboLabデモンストレーション ・大型試料対応白色干渉型顕微鏡NPFLEX デモンストレーション |
新製品紹介
白色干渉計 | 【高精度三次元表面形状計測機ウェビナー】 新製品 三次元白色光干渉型顕微鏡ContourXの全貌 ブルカーのContourシリーズ第3世代である、『ContourX』の新製品紹介ウェビナーを行います。 本ウェビナーではContourシリーズ、10年目の進化、新機能の紹介、更に旧製品との比較を示し、 より高い利便性を追求した新ソフトウェア、『VisionXpress』の紹介を行います。 後半ではデモシステムを用いて新機能の実演を行います。 |
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欠陥観察・表面計測
Ⅹ線CT & 三次元白色干渉計 | 欠陥観察・表面計測による課題可視化ソリューション ～5G時代の電子材料や電池、医療医薬分野の品質管理にⅩ線CTと3D白色干渉計による多角的評価でできる事・わかる事～ ブルカーＸ線事業部とナノ表面計測事業部の共催ウェビナー。本ウェビナーでは研究・開発・評価・生産管理などで活躍する材料内部の破壊や劣化評価や観察が可能なX線CTシステムと表面の微小な形状を高分解能で計測・観察が可能な3D白色干渉計のそれぞれの原理・活用事例などを交えてご紹介致します。（60分） |
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触針式プロファイラー（詳細・お申込みはタイトルをクリック）
Dektak 使い方Tips
触針式 | DektakXT 効率アップ触針式段差計ウェビナー ～知らない機能盛沢山、知って得するステップアップ使いこなし術（実機操作デモ）～ WEB DEMO 販売50年、世界で１万台以上の導入実績を誇るブルカー触針式段差計(Dektak)のTipsご紹介。性能・解析・操作でより役立つ実践的な使い方の紹介をする他、実機によるソフトウェアのライブデモを行います。 |
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ナノインデンテーション（詳細・お申込みはタイトルをクリック）
※同業の方はご遠慮願います。
基礎
ナノインデンター基礎 | ナノインデンター基礎講座 ～nanoDMA編～ ナノインデンターはナノ・マイクロスケール材料の力学・トライボロジー特性を定量的に評価する装置です。本ウェビナーでは、ナノインデンターの機能の1つであるnanoDMA機能に注目し、その原理・アプリケーション事例をご紹介します。 ＜nanoDMA機能とは？＞ 準静的ナノインデンテーション試験中の圧子に微小な正弦波の荷重を負荷することで動的測定を行う手法です。この手法により、ナノスケールの動的粘弾性特性の評価はもちろん、深さ方向の機械的特性のプロファイル評価や降伏応力の測定などが可能です。高分子材料などの粘弾性材料のみならず、金属・無機物質など幅広い材料に活用できます。 |
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| 開催日程 | ウェビナータイトル |
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ナノインデンター | ナノインデンター基礎講座と最新技術トレンド2021 第1部(30分)：この春からはじめる！ナノインデンター基礎講座 第2部(30分)：ナノインデンターの最新技術トレンド2021 第1部は、初めて触れる方やナノインデンターでできる測定手法全般をご確認されたい方向けの、ナノインデンター基礎講座。第2部は、現在お使いの方や最新技術を調査されている方向けにナノインデンターの最新技術・製品・トレンドについて、アプリケーション事例を交えながらご紹介します。（各30分） |
ナノインデンター基礎 | ナノインデンテーションシステムの基礎と実用的評価事例2020 ナノインデンテーションシステムを用いた様々なナノスケールの機械的特性評価手法の基礎（評価できる項目など）を実際に研究開発・製造プロセス・品質管理などの現場で用いられている評価事例を交えながら分かりやすくご紹介します。（60分） |
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セラミック・金属
ナノインデンター応用 | ナノインデンテーションWEBセミナー2020 ①＜セラミック・金属編＞ 招待講演 ナノインデンテーション技術に深 い知見を持つ講師をお招きしメソスケール破壊特性評価に関する研究成果をご紹介頂くほか、ブルカーナノ表面計測事業部よ りナノインデンテーションの幅広い活用事例を紹介いたします。（約100分） |
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高分子・バイオマテリアル
ナノインデンター応用 | ナノインデンテーションWEBセミナー2020 ②＜バイオマテリアル・高分子編＞ 招待講演 本ウェビナーではナノインデンテーション技術に深い知見を持つ講師をお招きし生体組織の力学特性評価に関する研究成果をご紹介頂くほか、ブルカーナノ表面計測事業部よりナノインデンテーションの幅広い活用事例を紹介いたします。（100分） |
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半導体
ナノインデンター応用 | ナノインデンテーションシステムを用いた薄膜微小部の機械的特性評価手法 ～半導体材料を中心に～ 薄膜やはんだなどの微小構造物の機械的特性評価における様々な課題を確認し、それらの課題の解決につながるアプローチを紹介します。 |
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TS77製品紹介 + デモ
ナノインデンター | 卓上型ナノインデンテーションシステムTS77を用いた測定・分析実演 WEB DEMO ナノインデンテーションの基礎について、新製品TS77 selectを用いて実際に測定・解析を行っている様子をご覧いただきながら解説します |
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複合分析技術
ナノインテンター複合分析 | 【日産アークｘブルカー共催】ナノインデンテーションを用いた複合分析技術のご紹介 日産アークｘブルカー ~製品開発・生産管理の現場で役立つ! 接合界面における複合分析事例から測定解析手法・基礎まで~ 日産アーク様よりナノインデンテーションをはじめとする豊富な分析技術・事例から、製品開発・生産管理の現場で役立つナノインデンテーションを用いた複合分析事例をご紹介。ブルカーよりナノインデンテーション測定に関する基礎知識の講座をお送りします。 |
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ピコインデンターPIシリーズ | In-situナノ機械的特性評価の基礎ウェビナー ～ナノスケールの試験をSEM・TEM中で見て分かる！ In-situナノインデンテーションシステムのご紹介～ In-situナノインデンテーションシステムはナノスケールの構造が応力によりどのように変形するかをリアルタイムで観察できるだけではなく、SEM・TEMの分析技術を組み合わせることでより複合的な現象の解析が可能です。その分析技術の基礎と、SEM・TEM中におけるナノスケールのin-situ機械的特性評価試験の事例を分かりやすくご紹介します。 |
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PI89製品紹介
ピコインデンター | 【新製品リリース！】 in-situ SEM ナノメカニクス評価システムPI 89 SEM PicoIndenterのご紹介 新製品 ～PI 89 SEM PicoIndenterの新機能とその評価事例～ PI 89 SEM PicoIndenterは、昨年10月にリリースされた最先端の技術が詰め込まれた新製品です。従来機から、ステージの自由度・精度の向上、試験荷重レンジの拡張、超高温から冷却まで幅広い試験環境制御の実現、その他新規オプション機能の追加により、多様な試験のニーズに応えられるよう改良されました。新製品PI 89のご紹介とSEM PicoIndenterを用いた様々な評価事例をご紹介します。 |
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SEM x ナノインデンター製品紹介
ピコインデンター | 【ZEISS x Bruker共催】最新in-situ技術セミナー New ～Gemini x PicoIndenterで見て分かるナノ材料物性～ あらゆる材料開発において、ナノ・マイクロスケールの構造が新材料固有の特性や機能発現メカニズムに大きく寄与することはまれではありません。そのため、ナノ・マイクロスケール構造の科学評価技術として、SEMを用いた形態観察・元素分析・結晶解析技術、ナノインデンターを用いたナノ力学特性評価技術が材料評価に広く用いられています。本ウェビナーではZEISSのSEMとBrukerのナノインデンターの最新情報に加え、SEMとナノインデンターを組み合わせることで実現するナノ力学試験in-situ評価技術とその評価事例をご紹介します。 |
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摩擦摩耗（トライボロジー）評価 （詳細・お申込みはタイトルをクリック）
基礎
トライボロジー | トライボロジーの基礎と評価事例 トライボロ ジーの基礎（評価できる項目など）を実際に研究開発・製造プロセス・品質管理などの現場で用いられている評価事例を交えながら ご紹介します。 |
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製品紹介と事例
摩擦摩耗試験機 三次元白色干渉 | 摩擦・摩耗研究のスタンダードUMT TriboLabの紹介と評価事例 摩擦・摩耗の研究開発用途として、UMT TriboLabは世界で広く使われています。本ウェビナーではUMT TriboLabを実際に研究開発・製造プロセス・品質管理などの現場で用いられている評価事例をご紹介します。 白色干渉法を用いたトライボロジー評価技術 ～基礎から応用～ WEB DEMO 3次元白色干渉型顕微鏡は様々な分野で様々なサンプル表面性状の評価を計測するツールの一つであります。 非接触で表面性状を計測することが可能なためにプロセスの過程、実験やテスト前後での評価が可能になります。 本ウェビナーでは3次元白色干渉型顕微鏡の基礎から、摩擦・摩耗の研究開発用途での事例をご紹介いたします。 後半にはウェブ形式のデモを実施いたします。 |
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潤滑と表面粗さ
トライボロジー | トライボロジーウェビナー ～材料評価における潤滑と表面粗さ～ 招待講演 九州工業大学の西川宏志先生をお招きし、転がり軸受に代表される多くの油潤滑下の機械要素接触部の運転状態である弾性流体潤滑（EHL）下で生じる現象の基礎と、表面粗さと摩擦係数に関する研究などをご発表頂くほか、ブルカーよりトライボロジー評価と表面形状、表面粗さなどの評価をご紹介致します。（120分） |
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ソフトマテリアルの摩擦界面評価
トライボロジー ソフトマテリアルの摩擦試験 | トライボロジーウェビナー ～ソフトマテリアル摩擦界面評価～ 招待講演 New 化学物質評価研究機構の伊東様をお招きし、ソフトマテリアルの摩耗試験の基礎的なお話と規格試験で規定されている摩耗試験の方法をご解説いただくほか、ブルカーよりトライボロジー評価装置として多機能摩擦摩耗試験機TriboLabと評価事例をご紹介します。 |
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低摩擦と摩擦界面
トライボロジー | トライボロジーウェビナー2021～低摩擦の実現と摩擦界面の観察～ 招待講演 本ウェビナーでは兵庫県立大学の木之下教授をお招きし、カーボンナノ材料を低摩擦の添加剤として用いた応用研究や摩擦界面のその場観察の研究などをご発表いただきます。また、ブルカーよりトライボロジー評価装置として多機能摩擦摩耗試験機TriboLabと評価事例をご紹介します。（85分） |
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CMPプロセス特性評価 （詳細・お申込みはタイトルをクリック）
基礎・応用
CMPプロセス評置 | CMPソリューションセミナー ～卓上CMP装置による研磨評価からAFM、白色干渉計を用いた表面解析～ コンパクトな卓上CMP評価装置を用いたパッドやスラリーなどのスクリーニング評価や応用事例と、ＣＭＰ研磨後の原子間力顕微鏡や白色干渉計による評価手法をそれぞれの原理と応用事例を交えて分かりやすくご紹介します。 |
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| 開催日程 | ウェビナータイトル | お申込み受付 |
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2022年3月23日（水） 11:00～11:30 | 卓上CMP評価機“TriboLab CMP”と研究例のご紹介 半導体製造プロセスにおいて多層化は微細化を緩和する技術として必要不可欠になってきた。そしてその多層化を実現する上でCMPプロセスは非常に重要なキープロセスであり、今後Si基板以外の、SiCやGaN基板など新規基板においても継続的なCMP技術開発が求められている。今回ご紹介するTriboLabCMPは、コンパクトな設計の卓上CMP評価装置であり、研磨中の荷重に対しての摩擦力やアコースティックエミッションシグナル等のリアルタイム計測により、CMPパッドやスラリーなどのスクリーニング評価を迅速かつ低コストで実現する装置である。本Webinarでは、TriboLabCMPの概要の紹介と、本機を用いられた研究事例を紹介する。 | 準備中 ※同業の方はご遠慮 |