開催のご挨拶　

　ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部

統括部長　鈴木 大輔

『原子間力顕微鏡を用いた蓄電池の電極と電解液の界面における物性と反応機構のin-situ解析 』　

　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　自然科学研究機構分子科学研究所

主任研究員　湊 丈俊 様

　蓄電池の開発において、材料の物性の理解は重要であるが、充放電中の蓄電池内部における材料の状態を解析することは容易ではない。原子間力顕微鏡は、充放電中の蓄電池内部の材料物性や反応機構を直接解析できる手法であり、高い空間分解能を持つことから、これまで不明であった物性や反応機構を解析することが出来る。本講演では、原子間力顕微鏡を用いた蓄電池の解析における最近の展開などを紹介したい。

『Liイオン電池合材電極の電子伝導解析』

国立研究開発法人産業技術総合研究所　電池技術研究部門

研究グループ長　前田 泰 様

研究員　蒲生　浩忠 様

　Liイオン電池では、個々の活物質粒子までの電子・イオン経路が重要です。しかし、従来のマクロスコピックな解析だけでは、これを評価することが困難です。産総研では、AFMベースの電気伝導測定により、電極内部の導電ネットワークの評価を試みています。本講演では、液系Liイオン電池や全固体電池の合材電極を対象とした測定例を紹介します。さらに、3次元シミュレーションとの組み合わせによる電極内部の導電パスに関する解析事例についても紹介します。

『走査型拡がり抵抗顕微鏡法を用いたLIB電極の電子伝導性解析』

株式会社コベルコ科研　物理解析センター 解析部　

主任部員　常石 英雅 様

　リチウムイオン電池の電極は活物質、導電助剤、バインダー、電解質で構成されており、電池特性向上のために非常に複雑に設計されている。SPMはそれぞれの部材の通電状態を評価できる唯一の分析手法であり、設計に対する効果を直接的に可視化することが可能となる。今回は主に液系リチウムイオン電池の電極シートを題材に、SSRMによって得られた抵抗マッピング像を用い、その定量値や位置情報を活かした解析事例を紹介する。

『原子間力顕微鏡を用いた二次電池の局所領域の特性評価 ～基礎から応用～』

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　アプリケーション部

アプリケーションエンジニア 寺山 剛司

　現在、液系リチウムイオン電池のエネルギー密度の向上や課題に対応するため、全固体電池、次世代二次電池、革新型蓄電池の研究開発が進められています。しかしながら、各種次世代二次電池にも克服すべき課題が存在し、解析のために原子間力顕微鏡が用いられています。本講演では二次電池向けの原子間力顕微鏡の測定モードの原理から最新の事例などを紹介いたします。

休憩　
簡単なお茶とお菓子を用意しております。

参加者の皆様での情報交換の機会としていただけれ幸いです。

座談会 『みんなで話そう電池特性評価』

AFMを用いた電池特性評価の課題や期待をパネリストの方々と意見交換できるプログラムです。ご質問・ご相談を登録フォームより承っております。

　モデレーター：自然科学研究機構分子科学研究所　湊 丈俊 様

   パネリスト：講演者の皆様

『ブルカー製品のご案内とお知らせ』

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　営業部

開催のご挨拶　

　ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部

統括部長　鈴木 大輔

『原子間力顕微鏡によるフィラー充塡ゴムのナノ応力分布とナノ導電性の最新研究』　　　

　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　東京工業大学　物質理工学院　応用化学系
梁　暁斌 様

　我々が原子間力顕微鏡（AFM）をベースにしたナノ触診AFM技術に伸長装置や圧縮装置を導入することで、試料表面のナノ応力分布を実空間で可視化できた。さらに、導電性AFMを組み合わせて、変形に伴うフィラーネットワークのナノ空間構造の評価手法を確立した。

『化粧品開発でのAFM活用事例』

株式会社資生堂　シーズ開発センター　分析技術G

高橋　洋平様

『ウルトラミクロトームによるAFM試料の作製』

ライカマイクロシステムズ(株)　ライフサイエンス・リサーチ事業部

長澤 忠広様

『ブルカーAFMによる最新の機械特性評価』

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　アプリケーション部

横川　雅俊

休憩　
簡単なお茶とお菓子を用意しております。

参加者の皆様での情報交換の機会としていただけれ幸いです。

座談会 『みんなで話そう機械特性評価』

AFMを用いた機械特性評価の課題や期待をパネリストの方々と意見交換できるプログラムです。パネリストとしての参加の希望・ご質問・ご相談を登録フォームより承っております。

　モデレーター：東京工業大学　物質理工学院　中嶋　健 先生

   パネリスト：講演者、参加ご希望者　　　　　　　　　　 

『ブルカー製品のご案内とお知らせ』

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　営業部　荒尾 昌樹

開催のご挨拶　

『AFMを用いた機械特性評価の基礎』　　　

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　東京工業大学　物質理工学院　中嶋　健 教授

　AFMを用いた機械特性評価について、特に高分子材料を対象に、その原理とISO標準化された手法について紹介する。またその手法を凌駕する新手法やnDMAのような粘弾性を議論できる新しい手法についても、その事例とともに紹介する。

『AFMを用いた表面電位計測の基礎』

京都大学　工学研究科電子工学専攻　小林 圭 准 教授

　AFMを応用したケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM)の基本原理および周波数変調(FM)技術を用いて高感度化したFM-KPFMについて紹介する。また、電圧や光に対する表面電位の過渡的な変化を可視化する時間分解測定技術についても紹介する。

休憩

『Nanoscope、Nanoscope Analysisの使い方Tips』

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　寺山　剛司

　原子間力顕微鏡（AFM）の認知度は目覚ましいものがあり、現在では各種研究において欠かせないツールの一つになってきました。当たり前のようにAFMを使用して様々な情報をイメージングしているが、本当に使いこなしているのでしょうか。本講演では、NanoScopeソフトウェア（リアルタイム）、NanoScope Analysis（オフライン）のちょっとした使用方法のコツなどを紹介いたします。

『プローブ紹介とお悩み相談会』

                                                     　ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　鈴木　操

　ブルカーの機械特性と電気特性プローブ紹介と皆様のお悩みに回答致します。

休憩

 トークセッション 

『AFM座談会』

　登録フォームから事前に募りましたご質問・ご相談等のコメントをもとに座談会を開催致します。

『ブルカー製品紹介、最新情報のご案内』

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　営業部　荒尾 昌樹

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