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AFM/SPM
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3次元白色光干渉型
顕微鏡
Contour Elite
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プローブ購入ガイド
- 最新版プローブ購入ガイドPDF版
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マテリアルAFM (原子間力顕微鏡)
ハイエンド
リサーチ
Dimension XR
インダストリ
Dimension HPI
スタンダード
Dimension
FastScan
スタンダード
Dimension
Icon
大型試料用
ベンチトップAFM
Dimension
Nexus
New
新世代AFMとnanoIRが融合
Dimension
IconIR
- Dimension XR
- Dimension HPI
- Dimension FastScan
- Dimension Icon
- MutiMode-HR
- Dimension Nexus
- Dimension IconIR
ライフサイエンスAFM(原子間力顕微鏡)・自動フォーススペクトロスコピー・光ピンセット
NanoRacer
ハイスピードイメージング バイオAFM
NanoWizard
Ultra Speed3
New
新第5世代バイオAFM
NanoWizard V
バイオAFM
NanoWizard 4XP
スタンダード
バイオAFM NanoWizard PURE
New
細胞接着力・粘弾性
測定
Cellhesion 300
単一分子力学特性評価 ForceRobot 400
フォース検出搭載光ピンセット・光トラッピング
Nano Tracker 2
光ピンセットと
AFMの融合
2OT-AFM Combisystem
- JPK NanoRacer（ハイスピードAFM）
- JPK NanoWizard Ultra Speed3（バイオAFM)
- JPK NanoWizard V (新第5世代 バイオAFM）
- JPK NanoWizard4XP エクストリームパフォーマンス（バイオAFM）
- JPK NanoWizard PURE（スタンダードモデル）
- JPK Nano Tracker 2 （フォース検出搭載光ピンセット）
- JPK CellHesion 300（セルメカニクス測定）
ナノスケール赤外分光分析装置 AFM-IR
新世代AFMと
nanoIRが融合
Dimension
IconIR
ナノ赤外分光分析
nanoIR3 DataSheet
ナノ赤外分光分析
nanoIR3-s DataSheet
環境制御アクセサリ
nanoIR
- nanoIR3
- nanoIR3 Datasheet
- nanoIR3-s Datasheet
- 環境制御アクセサリ
- Dimension IconIR
3次元白色光干渉型顕微鏡（非接触三次元表面形状粗さ計）
3次元白色干渉型顕微鏡
ContourX-100 3D
Optical Profilometer
3次元白色干渉型顕微鏡
ContourX-200 3D
Optical Profilometer
3次元白色干渉型顕微鏡
ContourX-500 3D
Optical Profilometer
3次元白色干渉型顕微鏡
Contour Elite 3D Optical Microscope
大型試料対応
白色干渉型顕微鏡
NPFLEX
ソフトウェア
Vision64 Map
- ContourX - 100 3D Optical Profilometer (お手頃エントリーモデル）
- ContourX - 200 3D Optical Profilometer（フレキシブルモデル）
- ContourX - 500 3D Optical Profilometer（自動化対応ハイエンドモデル）
- Contour Elite 3D Optical Microscope
- ContourSP
- NPFLEX
- Vision64 Map (ソフトウェア)
触針式プロファイリングシステム（触針式薄膜段差計）
次世代
触針式薄膜段差計
Dektak Pro
New
大型試料向け
触針式薄膜段差計
Dektak XTL
- DektakXT
- DektakXTL
摩擦摩耗試験機 ・ CMPプロセス・材料特性評価機
多機能
摩擦摩耗試験機
（トライボロジー評価）
UMT TliboLab
ブレーキ材料摩擦
試験機
TliboLab HD
New
CMPプロセス・材料特性評価機
TliboLab CMP
- UMT TriboLab 多機能 摩擦摩耗試験機
- TriboLab CMP CMPプロセス・材料評価機
ナノインデンテーションシステム
ナノインデンテーション
Hysitron
TI990
New
ナノインデンテーションHysitoron
TI PremierⅡ
New
ナノインデンテーションHysitoron
TS77
環境制御型
ナノインデンテーションシステム
xSol加熱ステージ
電子顕微鏡組込み型
ナノインデンテーション
PIシリーズ
ナノインデンテーション
Hysitoron
BioSoft
- Hysitron TI990 TriboIndenter
- Hysitron TI980 TriboIndenter
- Hysitron TIPremier Ⅱ TriboIndenter
- 環境制御型ナノインデンテーションシステム
- xSol加熱ステージ
- Hysitron SEM/TEM用ナノインデンターPIシリーズ
- Hysitron BioSoft