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AFM/SPMイメージデータ集&製品カタログ
AFMプローブ購入ガイド
3次元白色光干渉型顕微鏡 Contour Eliteシリーズカタログ
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ハイエンドリサーチDimension XR
インダストリDimension HPI
スタンダードDimension FastScan
スタンダードDimension Icon
新世代AFMとnanoIRが融合DimensionIconIR
新第5世代バイオAFMNanoWizard V
バイオAFMNanoWizard 4XP
高速バイオAFMNanoRacer
ハイスピードイメージング バイオAFMNanoWizardUltra Speed2
細胞接着力・粘弾性測定Cellhesion 300
フォース検出搭載光ピンセット・光トラッピング
Nano Tracker 2
光ピンセットとAFMの融合2OT-AFM Combisystem
次世代ナノ赤外分光分析nanoIR
ナノ赤外分光分析nanoIR3 DataSheet
ナノ赤外分光分析nanoIR3-s DataSheet
環境制御アクセサリnanoIR
3次元白色干渉型顕微鏡ContourX-100 3D Optical Profilometer
3次元白色干渉型顕微鏡ContourX-200 3D Optical Profilometer
3次元白色干渉型顕微鏡ContourX-500 3D Optical Profilometer
3次元白色干渉型顕微鏡Contour Elite 3D Optical Microscope
大型試料対応白色干渉型顕微鏡NPFLEX
ソフトウェアVision64 Map
ゴールドスタンダード触針式薄膜段差計 Dektak XT
大型試料向け触針式薄膜段差計Dektak XTL
多機能摩擦摩耗試験機(トライボロジー評価)UMT TliboLab
ブレーキ材料摩擦試験機TliboLab HD New
CMPプロセス・材料特性評価機TliboLab CMP
ナノインデンテーションHysitronTI990 New
ナノインデンテーションHysitronTI980
ナノインデンテーションHysitoronTI Premier
ナノインデンテーションHysitoron
TS77
環境制御型ナノインデンテーションシステム
xSol加熱ステージ
電子顕微鏡組込み型ナノインデンテーションPIシリーズ
ナノインデンテーションHysitoronBioSoft