イベント・セミナー情報
| ブルカージャパン（株） ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の１つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。 167委員会のHPはこちら http://www.npt167.jp/ |
カタログ
送付対象カタログ（日本語）
下記カタログをご希望の方は送付依頼フォームから、氏名、会社名、Eメールアドレスをご記入下さい。
AFM/SPM
イメージデータ集
＆製品カタログ
AFMプローブ
購入ガイド
3次元白色光干渉型
顕微鏡
Contour Elite
シリーズカタログ
各種製品カタログ（日本語）
各種製品カタログ（日本語）をご覧いただけます。ダウンロードフォームから、氏名、会社名、Eメールアドレスをご記入下さい。
プローブ購入ガイド
- 最新版プローブ購入ガイドPDF版
（※冊子をご希望の方は上記「送付依頼フォーム」よりご依頼下さい）
マテリアルAFM (原子間力顕微鏡)
ハイエンド
リサーチ
Dimension XR
インダストリ
Dimension HPI
スタンダード
Dimension
FastScan
スタンダード
Dimension
Icon
新世代AFMとnanoIRが融合
Dimension
IconIR
- Dimension XR
- Dimension HPI
- Dimension FastScan
- Dimension Icon
- MutiMode-HR
- Dimension Edge
- Dimension IconIR New
ライフサイエンスAFM(原子間力顕微鏡)・自動フォーススペクトロスコピー・光ピンセット
新第5世代バイオAFM
NanoWizard V
New
高速バイオAFM
NanoRacer
バイオAFM
NanoWizard
Ultra Speed2
バイオAFM
NanoWizard4
フォース検出搭載
光ピンセット
Nano Tracker2
- JPK NanoWizard V (新第5世代 バイオAFM） New
- JPK NanoRacer（ハイスピードAFM）
- JPK NanoWizard Ultra Speed2（バイオAFM)
- JPK NanoWizard4バイオサイエンス（バイオAFM）
- JPK NanoWizard4ナノサイエンス（マテリアル向けAFM)
- JPK NanoWizard SENSE（エントリーモデル）
- JPK NanoWizard Ultra Speed2（バイオAFM)
- JPK NanoWizard4バイオサイエンス（バイオAFM）
- JPK NanoWizard4ナノサイエンス（マテリアル向けAFM)
- JPK NanoWizard SENSE（エントリーモデル）
- JPK Nano Tracker 2 （フォース検出搭載光ピンセット）
- JPK CellHesion 200（セルメカニクス測定）
ナノスケール赤外分光分析装置 AFM-IR
次世代ナノ赤外分光分析
nanoIR
New
ナノ赤外分光分析
nanoIR3 DataSheet
ナノ赤外分光分析
nanoIR3-s DataSheet
環境制御アクセサリ
nanoIR
- nanoIR3
- nanoIR3 Datasheet
- nanoIR3-s Datasheet
- 環境制御アクセサリ
- Dimension IconIR
3次元白色光干渉型顕微鏡（非接触三次元表面形状粗さ計）
3次元白色干渉型顕微鏡
ContourX-100 3D
Optical Profilometer
New
3次元白色干渉型顕微鏡
ContourX-200 3D
Optical Profilometer
New
3次元白色干渉型顕微鏡
ContourX-500 3D
Optical Profilometer
New
3次元白色干渉型顕微鏡
Contour Elite 3D Optical Microscope
大型試料対応
白色干渉型顕微鏡
NPFLEX
ソフトウェア
Vision64 Map
- ContourX - 100 3D Optical Profilometer (お手頃エントリーモデル）
- ContourX - 200 3D Optical Profilometer（フレキシブルモデル）
- ContourX - 500 3D Optical Profilometer（自動化対応ハイエンドモデル）
- Contour Elite 3D Optical Microscope
- ContourSP
- NPFLEX
- Vision64 Map (ソフトウェア)
触針式プロファイリングシステム（触針式薄膜段差計）
ゴールドスタンダード
触針式薄膜段差計
Dektak XT
大型試料向け
触針式薄膜段差計
Dektak XTL
- DektakXT
- DektakXTL
摩擦摩耗試験機 ・ CMPプロセス・材料特性評価機
多機能
摩擦摩耗試験機
（トライボロジー評価）
UMT TliboLab
CMPプロセス・材料特性評価機
TliboLab CMP
- UMT TriboLab 多機能 摩擦摩耗試験機
- TriboLab CMP CMPプロセス・材料評価機
ナノインデンテーションシステム
ナノインデンテーション
Hysitron
TI980
ナノインデンテーション
Hysitoron
TI Premier
ナノインデンテーション
Hysitoron
TS77
環境制御型
ナノインデンテーションシステム
xSol加熱ステージ
電子顕微鏡組込み型
ナノインデンテーション
PIシリーズ
ナノインデンテーション
Hysitoron
BioSoft
- Hysitron TI980 TriboIndenter
- Hysitron TIPremier TriboIndenter
- 環境制御型ナノインデンテーションシステム
- xSol加熱ステージ
- Hysitron SEM/TEM用ナノインデンターPIシリーズ New
- Hysitron BioSoft