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3次元白色光干渉型
顕微鏡
Contour Elite
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プローブ購入ガイド

  • 最新版プローブ購入ガイドPDF版
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プローブ購入ガイド

マテリアルAFM (原子間力顕微鏡)

マテリアルAFM DimensionXRカタログ

ハイエンド
リサーチ
Dimension XR 

インダストリーAFM Dimension HPIカタログ

インダストリ
Dimension HPI

マテリアルAFM DimensionFastScanカタログ

スタンダード
Dimension
FastScan

マテリアルAFM Dimension Iconカタログ

スタンダード
Dimension
 Icon

新世代Dimension IconIRカタログ

新世代AFMとnanoIRが融合
Dimension
IconIR

インダストリーAFM Dimension HPIカタログ


マテリアルAFM DimensionFastScanカタログ


マテリアルAFM Dimension Iconカタログ


  • Dimension XR 
  • Dimension HPI 
  • Dimension FastScan
  • Dimension Icon
  • MutiMode-HR
  • Dimension Edge  

  • Dimension IconIR

ライフサイエンスAFM(原子間力顕微鏡)・自動フォーススペクトロスコピー・光ピンセット

バイオAFM JPK NanoWizardVカタログ

新第5世代バイオAFM
NanoWizard V 

バイオAFM JPK NanoWizard4 XPカタログ

バイオAFM
NanoWizard 4XP

光ピンセット&AFM OT-AFMカタログ

高速バイオAFM
NanoRacer

ハイスピードイメージング バイオAFM
NanoWizard
Ultra Speed2

バイオAFM JPK NanoWizard UltraSpeed2カタログ

細胞接着力・粘弾性
測定
Cellhesion 300  

バイオAFM JPK NanoWizard4 XPカタログ

フォース検出搭載光ピンセット・光トラッピング

Nano Tracker 2

光ピンセット&AFM OT-AFMカタログ

光ピンセットと
AFMの融合
2OT-AFM Combisystem


  • JPK NanoWizard V (新第5世代 バイオAFM)
  • JPK NanoRacer(ハイスピードAFM)
  • JPK NanoWizard Ultra Speed2(バイオAFM)
  • JPK NanoWizard4バイオサイエンス(バイオAFM)
  • JPK NanoWizard4ナノサイエンス(マテリアル向けAFM)
  • JPK NanoWizard SENSE(エントリーモデル)

  • JPK Nano Tracker 2 (フォース検出搭載光ピンセット)
  • JPK CellHesion 300(セルメカニクス測定)

ナノスケール赤外分光分析装置 AFM-IR

ナノ赤外分光AFM-IRカタログ

次世代ナノ赤外分光分析
nanoIR 

ナノ赤外分光AFM-IRカタログ

ナノ赤外分光分析
nanoIR3 DataSheet

nanoIR3-s Nano FT-IR分光分析装置

ナノ赤外分光分析
nanoIR3-s DataSheet

環境制御アクセサリ

環境制御アクセサリ
nanoIR 

ナノ赤外分光AFM-IRカタログ


  • nanoIR3 
  • nanoIR3 Datasheet
  • nanoIR3-s Datasheet 
  • 環境制御アクセサリ  
  • Dimension IconIR

3次元白色光干渉型顕微鏡(非接触三次元表面形状粗さ計)

3次元白色光干渉型顕微鏡(3次元光学プロファイラ―)カタログ

3次元白色干渉型顕微鏡
ContourX-100 3D
Optical Profilometer

ナノ赤外分光AFM-IRカタログ

3次元白色干渉型顕微鏡
ContourX-200 3D 
Optical Profilometer

Vision64Mapカタログ

3次元白色干渉型顕微鏡
ContourX-500 3D 
Optical Profilometer

ナノ赤外分光AFM-IRカタログ

3次元白色干渉型顕微鏡
Contour Elite 3D Optical Microscope

ナノ赤外分光AFM-IRカタログ

大型試料対応
白色干渉型顕微鏡
NPFLEX

Vision64Mapカタログ

ソフトウェア
Vision64 Map

  • ContourX - 100 3D Optical Profilometer (お手頃エントリーモデル)
  • ContourX - 200 3D Optical Profilometer(フレキシブルモデル)
  • ContourX - 500 3D Optical Profilometer(自動化対応ハイエンドモデル)

  • Contour Elite 3D Optical Microscope
  • ContourSP
  • NPFLEX
  • Vision64 Map (ソフトウェア)

触針式プロファイリングシステム(触針式薄膜段差計)

触針式薄膜段差計Dektakカタログ

ゴールドスタンダード
触針式薄膜段差計
Dektak XT

大型試料対応触針式薄膜段差計Dektakカタログ

大型試料向け
触針式薄膜段差計
Dektak XTL

Vision64Mapカタログ


  • DektakXT
  • DektakXTL

摩擦摩耗試験機  ・ CMPプロセス・材料特性評価機

触針式薄膜段差計Dektakカタログ

多機能
摩擦摩耗試験機
(トライボロジー評価)
UMT TliboLab

大型試料対応触針式薄膜段差計Dektakカタログ

ブレーキ材料摩擦
試験機
TliboLab HD
 New

卓上型CMPプロセス評価装置カタログ

CMPプロセス・材料特性評価機
TliboLab CMP

  • UMT TriboLab 多機能 摩擦摩耗試験機 
  • TriboLab CMP CMPプロセス・材料評価機

ナノインデンテーションシステム

ナノインデンテーション装置 TI980

ナノインデンテーション
Hysitron
TI990
 New

大型試料対応触針式薄膜段差計Dektakカタログ

ナノインデンテーションHysitron
TI980

ナノインデンテーションシステムTS77

ナノインデンテーションHysitoron
TI Premier

ナノインデンテーションHysitoron

TS77

環境制御型 ナノインデンテーションシステム

環境制御型
ナノインデンテーションシステム

xSol加熱ステージ ナノインデンター計Dektakカタログ

xSol加熱ステージ

環境制御型ナノインデンテーションシステム



ナノインデンテーション装置 TI980

電子顕微鏡組込み型
ナノインデンテーション
PIシリーズ

ナノインデンテーション Hysitoron BioSoft

ナノインデンテーション
Hysitoron
BioSoft

環境制御型ナノインデンテーションシステム




  • Hysitron TI990 TriboIndenter
  • Hysitron TI980 TriboIndenter
  • Hysitron TIPremier TriboIndenter
  • 環境制御型ナノインデンテーションシステム
  • xSol加熱ステージ
  • Hysitron SEM/TEM用ナノインデンターPIシリーズ 
  • Hysitron BioSoft

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イベント・セミナー情報

ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。