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イベント・セミナー情報

ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/
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AFM/SPM
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3次元白色光干渉型
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Contour Elite
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各種製品カタログ(日本語)

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プローブ購入ガイド

  • 最新版プローブ購入ガイドPDF版
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プローブ購入ガイド

マテリアルAFM (原子間力顕微鏡)

マテリアルAFM DimensionXRカタログ

ハイエンド
リサーチ
Dimension XR 

インダストリーAFM Dimension HPIカタログ

インダストリ
Dimension HPI

マテリアルAFM DimensionFastScanカタログ

スタンダード
Dimension
FastScan

マテリアルAFM Dimension Iconカタログ

スタンダード
Dimension
 Icon

  • Dimension XR New
  • Dimension HPI New
  • Dimension FastScan
  • Dimension Icon
  • MutiMode-HR
  • Dimension Edge  

ライフサイエンスAFM(原子間力顕微鏡)・自動フォーススペクトロスコピー・光ピンセット

バイオAFM JPK NanoWizard UltraSpeed2カタログ

バイオAFM
NanoWizard
Ultra Speed2 

バイオAFM JPK NanoWizard4 XPカタログ

バイオAFM
NanoWizard4

光ピンセット&AFM OT-AFMカタログ

フォース検出搭載
光ピンセット
Nano Tracker2

  • JPK NanoWizard Ultra Speed2(バイオAFM)
  • JPK NanoWizard4バイオサイエンス(バイオAFM)
  • JPK NanoWizard4ナノサイエンス(マテリアル向けAFM)
  • JPK NanoWizard SENSE(エントリーモデル)
  • JPK Nano Tracker 2 (フォース検出搭載光ピンセット)
  • JPK CellHesion 200(セルメカニクス測定)

ナノスケール赤外分光分析装置 AFM-IR

ナノ赤外分光AFM-IRカタログ

ナノ赤外分光分析
nanoIR 

ナノ赤外分光AFM-IRカタログ

ナノ赤外分光分析
nanoIR3 DataSheet

  • nanoIR3 New
  • nanoIR3 Datasheet New

3次元白色光干渉型顕微鏡(非接触三次元表面形状粗さ計)

ナノ赤外分光AFM-IRカタログ

3次元白色干渉型顕微鏡
Contour Elite 3D Optical Microscope

ナノ赤外分光AFM-IRカタログ

大型試料対応
白色干渉型顕微鏡
NPFLEX

Vision64Mapカタログ

ソフトウェア
Vision64 Map

  • Contour Elite 3D Optical Microscope
  • ContourSP
  • NPFLEX
  • Vision64 Map (ソフトウェア)

触針式プロファイリングシステム(触針式薄膜段差計)

触針式薄膜段差計Dektakカタログ

ゴールドスタンダード
触針式薄膜段差計
Dektak XT

大型試料対応触針式薄膜段差計Dektakカタログ

大型試料向け
触針式薄膜段差計
Dektak XTL

Vision64Mapカタログ


  • DektakXT
  • DektakXTL

摩擦摩耗試験機  ・ CMPプロセス・材料特性評価機

触針式薄膜段差計Dektakカタログ

多機能
摩擦摩耗試験機
(トライボロジー評価)
UMT TliboLab

大型試料対応触針式薄膜段差計Dektakカタログ

CMPプロセス・材料特性評価機
TliboLab CMP

Vision64Mapカタログ


  • UMT TriboLab 多機能 摩擦摩耗試験機 
  • TriboLab CMP CMPプロセス・材料評価機

ナノインデンテーションシステム

ナノインデンテーション装置 TI980

ナノインデンテーション
Hysitron
TI980

大型試料対応触針式薄膜段差計Dektakカタログ

ナノインデンテーション
Hysitoron
TI Premier

環境制御型ナノインデンテーションシステム

環境制御型
ナノインデンテーションシステム

ナノインデンテーション装置 TI980

電子顕微鏡組込み型
ナノインデンテーション
PIシリーズ

大型試料対応触針式薄膜段差計Dektakカタログ

ナノインデンテーション
Hysitoron
BioSoft

環境制御型ナノインデンテーションシステム

xSol加熱ステージ

  • Hysitron TI980 TriboIndenter
  • Hysitron TIPremier TriboIndenter
  • 環境制御型ナノインデンテーションシステム
  • xSol加熱ステージ
  • Hysitron SEM/TEM用ナノインデンターPIシリーズ
  • Hysitron BioSoft