様々ある非接触3D測定機の位置づけ、表面粗さ計測へ有効な干渉方式の特徴・ユニークな測定方法や、測定リードタイムを大幅に短縮可能な3DAを活用した最新の測定技術をご紹介します。
【講師名】 小原 史彦(株式会社ユーロテクノ)、秋本 壮一(ブルカージャパン株式会社)
11月6日(火) 13:00~14:00
会議棟6F 606会議室
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3次元白色光干渉型顕微鏡(CSI)
Contor X Series
干渉計によるメリット
● 多機能摩擦摩耗試験機 UMT TriboLab
45種類のASMT規格がこれ一台で
ブルカージャパン
ナノ表面計測事業部
触針式薄膜段差計 Dektak
Dektak Series
触針式薄膜段差計Dektakシリーズは50年に渡り世界10,000台以上の導入実績を持つ、世界で最も採用されている膜厚測定器のゴールドスタンダードモデルです
● ナノインデンテーションシステム Hysitron TI980
微小領域での最先端材料の機械的特性を評価
ナノインデンテーション
ナノスクラッチ
ナノ摩耗
ナノDMA
SPMイメージ
環境制御
電気特性
● 電子顕微鏡組込み型インデンター Hysitron PI85/ PI88 / PI95
顕微鏡でナノスケールでの力学挙動を定量的にリアルタイムで捉える