ナノスケール赤外分光分析システム

AFM 赤外分光分析システム

待望の新世代ナノスケール赤外分光システム ーDimension IconIR

国内外での最多導入実績を誇るAFMのベストセラー機Dimension Icon。PeakForce Tappingに代表されるブルカーの独自技術とnanoIRテクノロジーがついに融合しました。定評のある機械特性、電気特性技術に加え、ナノスケールでの赤外分光分析が一つのシステム上で実現します。

nanoIR3
nanoIR3
トポグラフィ―
  • PeakForce Tapping
  • Contact
  • Tapping / FAST Tapping
  • Force Curve / Force Volume

                赤外分光

                • Contact AFM-IR
                • Resonance Enhanced AFM-IR
                • Tapping AFM-IR
                • Surface Sensitive AFM-IR

                熱分析

                • VITA/Nano-TA
                • SThM
                • TTM


                機械特性評価

                • Peakforce QNM
                • Phase, Friction
                • Force spectroscopy
                • Force Modulation
                • Nano-Indentation
                • Force Volume
                • Contact Resonance Mapping
                • AFM nano-DMA 
                • Nanolithography & Nanomanipulation
                • Ringing Mode

                電気特性評価

                • Liftmode & Darklift
                • EFM
                • KPFM (AM & FM), Peakforce KPFM
                • C-AFM & DCUBE-CAFM
                • TUNA & Peakforce TUNA & DCUBE-TUNA
                • PFM & & DCUBE-PFM & DCUBE-CR-PFM & SS-PFM
                • SCM & DCUBE-SCM
                • SSRM & DCUBE-SSRM
                • sMIM & Peakforce sMIM & DCUBE-SMIM
                • MFM & Torsional Resonance MFM

                他にもここに記載の無いモードやアクセサリーとの組み合わせが可能です。別途ご相談下さい。

                nanoIRとAFM、実績ある両技術が一つのシステムに集約

                IconIRの特徴

                1. FTIRスペクトルと相関する最高の分光性能
                2. 10 nm空間分解能のケミカルイメージング  
                3. 単分子膜をも検知する表面感度
                4. 独自のPeakForce Tappingモードが実現する最も進んだ形状-物性相関顕微鏡
                5. 大型AFM随一の高性能プラットフォーム 
                6. 多彩な測定モードと充実したアクセサリー

                          進化し続けるブルカーのnanoIR技術

                          nanoIR3

                          適用分野

                          • 高分子材料
                          • 薄膜
                          • 半導体&電子材料
                          • 2D 材料&プラズモニクス
                          • その他

                          • 環境科学
                          • 薬学
                          • 太陽電池
                          • 文化遺産

                          nanoIR3

                          空間分解能<10nmのケミカルイメージングとモノレイヤー感度を両立

                          nanoIR3

                          nanoIR分光スペクトルはFTIRと相関するためデータベースによる分析が容易に

                          nanoIR3

                          ナノスケール特性の相関観察による多角的な物性評価

                          新世代 ナノスケール赤外分光分析システム統合AFM Dimension IconIR

                          nanoIR3

                          待望の新世代 ナノスケール赤外分光システム
                          Dimension IconIR New

                          国内外での最多導入実績を誇るAFMのベストセラー機Dimension Icon。
                          PeakForce Tappingに代表されるブルカーの独自技術とnanoIRテクノロジーがついに融合しました。定評のある機械特性、電気特性技術に加え、ナノスケールでの赤外分光分析が一つのシステム上で実現します。

                          nanoIR3スペクトロスコピー(ナノスケール赤外分光分析システム AFM-IR)

                          nanoIR3

                          モデルフリーIRスペクトル
                          Anasys nanoIR3

                          AFMとパルスチューナブルレーザー及びサーマルプローブの融合で最高10nm以下領域(空間分解能)における赤外スペクトル、赤外吸収マップ、AFM像、表面硬さ像、熱分析等、局所分析が可能になる高分解能多機能測定装置です。
                          ・FT-IR スペクトルと相関性の高いスペクトル
                          ・アプリケーションに合わせた波数のQCL・OPO レーザーを提供
                          ・FASTSpectra テクノロジーは ポイントスペクトラはもちろん、高速でのフルスペクトラ
                             マッピングを実現
                          ・これまでの顕微FT-IR システムから飛躍的に分解能が向上
                          ・新しいTapping AFM は最高10nm 分解能のケミカルイメージ

                          nanoIR3-s

                          走査型近接場光顕微鏡S-SNOM
                          Anasys nanoIR3-s

                          nanoIR3と同様の仕様にスキャッタリングSNOM(s-SNOM)がプラスされたシステム。10nm以下の空間分解能を有するオプティカル特性イメージングが可能になり、グラフェン、2Dマテリアル、ナノアンテナ等の無機物解析に最適なソリューションです。AFM-IRとの融合で有機物から無機物分析まで広範囲な応用に適応します。
                          ・nanoIR3-s ではAFM-IR に加えs-SNOM 機能を搭載
                          ・AFM-IR と同じ10nm でのs-SNOM イメージを提供
                          ・無機物、半導体アプリケーションに最適なソリューション

                          nanoIR3-s

                          走査型近接場光顕微鏡S-SNOM Broadband    New
                          Anasys nanoIR3-s Broadband

                          Bruker製nanoIR3-s Broadbandは、最先端の散乱型SNOM (s-SNOM) 技術に基づくナノスケールFT-IR分光システムであり、業界最高水準のブロードバンド赤外光(670 〜 4,000 cm⁻¹)による高分解能のナノケミカル・ナノ光学イメージを提供します。
                          ・ブロードバンド赤外光によるスペクトル測定と高分解能ナノケミカルイメージング„
                          ・2D / グラフェン材料に対し最高品質のスペクトル測定とイメージング
                          ・ナノスケールの材料特性マッピング技術とサンプル環境制御オプション

                                             

                          ポリマーフィルム・ブレンド

                          二次元材料とナノフォトニクス

                          ライフサイエンス

                          機械特性マッピング

                          資料請求はこちら
                          デモ・使用・測定方法のお問合せはこちら
                          故障・保守・移設・トレーニングのお問合せはこちら
                          故障・保守・移設・トレーニングのお問合せはこちら

                          イベント・セミナー情報

                          ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
                          167委員会のHPはこちら
                          http://www.npt167.jp/