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ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/
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AFM(原子間力顕微鏡)システム

AFM 赤外分光分析システム

nanoIR3スペクトロスコピー(ナノスケール赤外分光分析システム)

nanoIR3

モデルフリーIRスペクトル New!!
Anasys nanoIR3

AFMとパルスチューナブルレーザー及びサーマルプローブの融合で最高10nm以下領域(空間分解能)における赤外スペクトル、赤外吸収マップ、AFM像、表面硬さ像、熱分析等、局所分析が可能になる高分解能多機能測定装置です。
・FT-IR スペクトルと相関性の高いスペクトル
・アプリケーションに合わせた波数のQCL・OPO レーザーを提供
・FASTSpectra テクノロジーは ポイントスペクトラはもちろん、 高速でのフルスペクトラマッピングを実現
・これまでの顕微FT-IR システムから飛躍的に分解能が向上
・新しいTapping AFM は最高10nm 分解能のケミカルイメージ

nanoIR3-s

走査型近接場光顕微鏡S-SNOM New!!
Anasys nanoIR3-s

nanoIR3と同様の仕様にスキャッタリングSNOM(s-SNOM)がプラスされたシステム。10nm以下の空間分解能を有するオプティカル特性イメージングが可能になり、グラフェン、2Dマテリアル、ナノアンテナ等の無機物解析に最適なソリューションです。AFM-IRとの融合で有機物から無機物分析まで広範囲な応用に適応します。
・nanoIR3-s ではAFM-IR に加えs-SNOM 機能を搭載
・AFM-IR と同じ10nm でのs-SNOM イメージを提供
・無機物、半導体アプリケーションに最適なソリューション