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ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/

ナノスケール赤外分光分析システム

AFM 赤外分光分析システム

nanoIR3スペクトロスコピー(ナノスケール赤外分光分析システム AFM-IR)

nanoIR3

モデルフリーIRスペクトル
Anasys nanoIR3

AFMとパルスチューナブルレーザー及びサーマルプローブの融合で最高10nm以下領域(空間分解能)における赤外スペクトル、赤外吸収マップ、AFM像、表面硬さ像、熱分析等、局所分析が可能になる高分解能多機能測定装置です。
・FT-IR スペクトルと相関性の高いスペクトル
・アプリケーションに合わせた波数のQCL・OPO レーザーを提供
・FASTSpectra テクノロジーは ポイントスペクトラはもちろん、高速でのフルスペクトラ
   マッピングを実現
・これまでの顕微FT-IR システムから飛躍的に分解能が向上
・新しいTapping AFM は最高10nm 分解能のケミカルイメージ

nanoIR3-s
nanoIR3-s

走査型近接場光顕微鏡S-SNOM
Anasys nanoIR3-s

nanoIR3と同様の仕様にスキャッタリングSNOM(s-SNOM)がプラスされたシステム。10nm以下の空間分解能を有するオプティカル特性イメージングが可能になり、グラフェン、2Dマテリアル、ナノアンテナ等の無機物解析に最適なソリューションです。AFM-IRとの融合で有機物から無機物分析まで広範囲な応用に適応します。
・nanoIR3-s ではAFM-IR に加えs-SNOM 機能を搭載
・AFM-IR と同じ10nm でのs-SNOM イメージを提供
・無機物、半導体アプリケーションに最適なソリューション

走査型近接場光顕微鏡S-SNOM Broadband    New
Anasys nanoIR3-s Broadband

Bruker製nanoIR3-s Broadbandは、最先端の散乱型SNOM (s-SNOM) 技術に基づくナノスケールFTIR分光システムであり、業界最高水準のブロードバンド赤外光(670 〜 4,000 cm⁻¹)による高分解能のナノケミカル・ナノ光学イメージを提供します。
・ブロードバンド赤外光によるスペクトル測定と高分解能ナノケミカルイメージング„
・2D / グラフェン材料に対し最高品質のスペクトル測定とイメージング
・ナノスケールの材料特性マッピング技術とサンプル環境制御オプション

                   

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