国内外での最多導入実績を誇るAFMのベストセラー機Dimension Icon。PeakForce Tappingに代表されるブルカーの独自技術とnanoIRテクノロジーがついに融合しました。定評のある機械特性、電気特性技術に加え、ナノスケールでの赤外分光分析が一つのシステム上で実現します。
赤外分光
熱分析
機械特性評価
電気特性評価
nanoIR分光スペクトルはFTIRと相関するためデータベースによる分析が容易に
空間分解能<10nmのケミカルイメージングとモノレイヤー感度を両立
ナノスケール特性の相関観察による多角的な物性評価
AFMとパルスチューナブルレーザー及びサーマルプローブの融合で最高10nm以下領域(空間分解能)における赤外スペクトル、赤外吸収マップ、AFM像、表面硬さ像、熱分析等、局所分析が可能になる高分解能多機能測定装置です。
・FT-IR スペクトルと相関性の高いスペクトル
・アプリケーションに合わせた波数のQCL・OPO レーザーを提供
・FASTSpectra テクノロジーは ポイントスペクトラはもちろん、高速でのフルスペクトラ
マッピングを実現
・これまでの顕微FT-IR システムから飛躍的に分解能が向上
・新しいTapping AFM は最高10nm 分解能のケミカルイメージ
走査型近接場光顕微鏡S-SNOM
Anasys nanoIR3-s
nanoIR3と同様の仕様にスキャッタリングSNOM(s-SNOM)がプラスされたシステム。10nm以下の空間分解能を有するオプティカル特性イメージングが可能になり、グラフェン、2Dマテリアル、ナノアンテナ等の無機物解析に最適なソリューションです。AFM-IRとの融合で有機物から無機物分析まで広範囲な応用に適応します。
・nanoIR3-s ではAFM-IR に加えs-SNOM 機能を搭載
・AFM-IR と同じ10nm でのs-SNOM イメージを提供
・無機物、半導体アプリケーションに最適なソリューション
走査型近接場光顕微鏡S-SNOM Broadband New
Anasys nanoIR3-s Broadband
Bruker製nanoIR3-s Broadbandは、最先端の散乱型SNOM (s-SNOM) 技術に基づくナノスケールFT-IR分光システムであり、業界最高水準のブロードバンド赤外光(670 〜 4,000 cm⁻¹)による高分解能のナノケミカル・ナノ光学イメージを提供します。
・ブロードバンド赤外光によるスペクトル測定と高分解能ナノケミカルイメージング
・2D / グラフェン材料に対し最高品質のスペクトル測定とイメージング
・ナノスケールの材料特性マッピング技術とサンプル環境制御オプション