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ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/

AFM / SPM / nanoIR 用プローブ

お知らせ

当社の製品にプローブ等の非純正部品を取り付けてご使用された場合、その品質に起因する当社製品の不具合につきましては、すべて当社の保証対象外となります。当社製品の性能を発揮するために、当社純正品をご使用ください。

AFM装置メーカーとして唯一のプローブメーカー

ブルカーは、高性能なAFM装置群と豊富なプローブの両製品を製造している唯一の会社です。製品やアプリケーションにマッチしたプローブを開発・製造することで包括的なソリューションを提供します。また単結晶シリコン、窒化シリコンのみならず、ハイブリッドタイプも製造しており、AFM市場のほとんどのアプリケーションをカバーします。

AFM/SPM各種プローブ仕様について (Bruker AFM/SPM Probes Global Site はこちら

※Bruker NSB(Nano Surface Business)は、高性能なAFM装置群と豊富なプローブの両製品を製造している唯一の会社です。

Bruker AFM Probes

AFM/SPM/nanoIR用プローブ
Bruker AFM Probes

マイクロラフネスからトレンチ構造まで様々な形状測定するプローブや、電気特性を測定するための金属コートプローブ、あるいは硬度計測用ダイヤモンドプローブ等、様々なアプリケーションを可能にするAFM/SPM/nanoIRプローブを提供しております。

nanoIRプローブ (Anasys nanoIRシステム用プローブ)

NameModelPack SizeDiscription
PR-EX-nIR2-10Contact10

Contact mode probes for AFM-IR on the nanoIR2 

PR-EX-C450-10Contact10

Contact mode probes (Silicon) for AFM-IR on the nanoIR

PR-EX-CSIN-10Contact10

Contact mode probes (Silicon Nitride) for AFM-IR on the nanoIR

PR-EX-TNIR-A-10Tapping10Tapping mode probes for AFM-IR on the nanoIR2
PR-EX-TNIR-C-10Tapping10TAPPING AFM-IR PROBES-HIRES
PR-EX-SNM-A-10s-SNOM10Probes for s-SNOM

Value AFM プローブ Bruker Value AFM Probes

Value AFM プローブ
Bruker Value AFM Probes 

AFMのBrukerがお届けするコストパフォーマンスに優れたプローブシリーズ。ブルカー ナノ表面計測事業部の新しい”Value Probes”は高品質かつ低価格プローブでお客様のAFM運用コスト削減に貢献します。日々の測定に手頃なプローブを求めている研究にも、コストを考慮しつつ信頼性を重要視する量産評価にも、リーズナブルでありながら精度と耐久性を兼ね備えた最もコストパフォーマンスに優れたプローブシリーズです。

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