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ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/
Bruker グローバルサイト

AFM / SPM / nanoIR 用プローブ

AFM/SPM/nanoIR 用プローブ

Bruker AFM Probes

AFM/SPM/nanoIR用プローブ
Bruker AFM Probes

マイクロラフネスからトレンチ構造まで様々な形状測定するプローブや、電気特性を測定するための金属コートプローブ、あるいは硬度計測用ダイヤモンドプローブ等、様々なアプリケーションを可能にするAFM/SPM/nanoIRプローブを提供しております。

AFM/SPM各種プローブ仕様について (Bruker AFM/SPM Probes Global Site はこちら

※Bruker NSB(Nano Surface Business)は、高性能なAFM装置群と豊富なプローブの両製品を製造している唯一の会社です。

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nanoIRプローブ (Anasys nanoIRシステム用プローブ)

NameModelPack SizeDiscription
PR-EX-nIR2-10Contact10

Contact mode probes for AFM-IR on the nanoIR2 

PR-EX-C450-10Contact10

Contact mode probes (Silicon) for AFM-IR on the nanoIR

PR-EX-CSIN-10Contact10

Contact mode probes (Silicon Nitride) for AFM-IR on the nanoIR

PR-EX-TNIR-A-10Tapping10Tapping mode probes for AFM-IR on the nanoIR2
PR-EX-TNIR-C-10Tapping10TAPPING AFM-IR PROBES-HIRES
PR-EX-SNM-A-10s-SNOM10Probes for s-SNOM


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