イベント・セミナー情報
| ブルカージャパン（株） ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の１つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。 167委員会のHPはこちら http://www.npt167.jp/ |
製品案内
ナノ表面計測システム製品ラインナップ
大型試料用AFM、高分解能・小型試料用AFM（原子間力顕微鏡）をはじめ多種多様のAFM（原子間力顕微鏡）をラインナップ
高速イメージ、高分解能AFM測定、定量的機械特性の測定が可能なバイオAFM、自動フォーススペクトロスコピー、フォース検出光ピンセットのライフサイエンス向けソリューション
AFMとパルスチューナブルレーザー及びサーマルプローブの融合で10nm以下領域（空間分解能）における赤外スペクトル、赤外吸収マップ、AFM像、表面硬さ像、熱分析等、局所分析が可能になる高分解能多機能測定装置
様々なアプリケーションを可能にするAFM（原子間力顕微鏡）/SPM（走査型プローブ顕微鏡）/ nanoIR用プローブ
顕微鏡を圧痕観察を行わず硬さ・粘弾性計測を可能にする微小硬さ・機械物性試験機、試料の変形や破壊の挙動をリアルタイムで観察が可能なピコインデンターを紹介
市場でもっとも広く使われている多機能摩擦摩試験機 UMT TriboLab、CMPプロセス・材料特性評価システムTriboLab CMPを紹介
リアルカラー対応の高性能、簡易型、大型試料対応をはじめとする3次元白色光干渉型顕微鏡製品
汎用、大型ステージ対応の触針式プロファイリングシステム製品を紹介
AutoAFM（大型自動原子間力顕微鏡）をはじめ、側壁計測可能なAutoAFM、プロセス評価用のAutoAFM製品
ナノ表面計測システム取り扱い製品
原子間力顕微鏡（マテリアルAFM、バイオAFM、ナノスケール赤外分光、AFMプローブ）
3次元白色光干渉型顕微鏡 触針式プロファイラー
多機能摩擦摩耗試験機 CMPプロセス・材料特性評価装置
ナノインデンテーション
半導体自動計測装置 半導体向けⅩ線計測装置
ナノ表面計測システムでは、機械特性・電気特性等の様々な特性をナノスケールで計測可な大型基板対応高分解能原子間力顕微鏡（AFM）や生体に最適な液中測定に特化したバイオAFM、広範囲なエリアの粗さ・形状を高速非破壊で計測可能な3次元白色光干渉型顕微鏡（オプティカルプロファイラー）、膜厚計測のゴールドスタンダードとなる触針式段差計（スタイラスプロファイラー）、材料のトライボロジーが可能な摩擦摩耗試験機、硬い材料からソフトマテリアルの弾性率試験を行うナノインデンテーション装置など、表面の計測に特化した各種製品群にてお客様に最適なソリューションを提案しています。