この度Leica MicrosystemsとBruker共催にて「高分子ナノ分析・評価技術の最前線ウェビナー」ウェビナーを開催する運びとなりました。本ウェビナーでは、ブルカーからは、ナノスケール赤外分光分析装置(AFM-IR)及び原子間力顕微鏡(AFM)技術の高分子研究をテーマにした多様性や可能性をご紹介します。また、ライカマイクロシステムズ様より新型ウルトラミクロトームUC Enuityについて、その最新機能や特徴についてご紹介いただきます。高分子材料のナノ分析・評価について、試料作製から測定技術までを一度に学べる機会となっております。またQ&Aでは皆様のご質問にもお答え致します。是非皆様のご参加をお待ちしております。
日時 | 2024年8月2日(金) 13:30~14:45 (13:15ログイン受付開始) |
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形式 | ウェビナー(オンラインによるWEBセミナー) ※お持ちのPCにてインターネット経由でのご参加となります。インターネットに接続できる環境でお手元のパソコンや各種端末からご参加いただけます。 ウェビナー配信サービスには「GoToWebinar」を利用致します。 GoToWebinarをインストールできるPC及びモバイル端末等をご用意願います。ご所属先のインターネットのセキュリティーポリシーによってはGoToWebinarへのアクセスを拒否される場合がございます。その場合は、事前にご所属先のIT部門の方へアクセス許可のご相談をお願い致します。 GoToWebinar システム要件はこちら▶ https://bit.ly/3sne6xl |
参加費 | 無料(事前登録制) |
お申込み | 下記登録フォームよりお申込み下さい。 ● WEB登録フォーム ※対応ブラウザ Google Chrome, Edge, Firefoxとなります. |
時間 | 内容 (当日のプログラムは予告なく変更することがございます。) |
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13:30~13:35 | 開催のご挨拶 |
13:35~14:05 | 「高分子研究におけるAFM技術の多様性と可能性」 ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 横川 雅俊 |
14:05~14:35 | 「新型ウルトラミクロトーム UC Enuity の特徴および新機能」 ライカマイクロシステムズ(株) ライフサイエンス・リサーチ事業部 ナノテクノロジー製品担当 田原 知浩 様 |
14:35~14:45 | Q&A |
登録フォーム ※対応ブラウザ Google Chrome, Edge, Firefox |
TEL:03-3523-6361 / FAX : 03-3523-6364