ブルカー製スタイラスプロファイラ”DektakXT”の特徴は、4Å以下という段差測定再現性を実現する革新的なデザインに表れています。この大きな進歩は、Dektakの50年以上に渡る技術革新と産業的なリーダーシップにより成し遂げられました。これまでの50年に渡るDektakの世界に 先駆ける技術を組み合わせることで、DektakXTはR&DからQCにおけるプロセス開発の測定管理を可能にする究極の測定パフォーマンス、使いやすさ、測定機としての偉大なる価値を提供します。10世代に渡る科学技術のブレイクスルーを盛り込んだDektakXTは、マイクロエレクトロニクス、半導体、太陽光パネル、高輝度LED、医療系技術、有機向き材料科学分野において重要となるナノメートルレベルの表面形状測定を可能にします。