開催のご挨拶　

　ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部

統括部長　鈴木 大輔

『ナノ内視鏡AFMによる細胞内ナノ動態および力学計測 』　

　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　金沢大学　ナノ生命科学研究所　

所長・教授 福間 剛士 様

　原子間力顕微鏡（AFM）は、液中で生体分子や細胞表面のナノ動態を直接観察できる唯一無二の手法である。しかし、従来のAFMでは細胞内の構造を直接観察することは難しかった。近年我々は、細長いニードル状の探針を生きた細胞内部に挿入し、細胞内の動態や力学物性をナノレベルで計測できるナノ内視鏡AFM技術を開発した。本講演では、この技術の開発経緯や、原理を紹介した後で、その応用事例を紹介する。

『植物細胞の力学物性を測る：道管細胞の分化と細胞弾性変化』

奈良先端科学技術大学院大学 バイオサイエンス領域　

助教 國枝 正 様

　植物は乾燥する陸上に適応するため、水を確保するための構造を発達させた。維管束植物がもつ“道管”はその一つであり、その形成では、細胞を覆う固い細胞壁の形成と水を通す中空の管状構造となるための細胞死という、力学的に相反する細胞イベントを伴う。本講演では、細胞分化とともに変化する植物細胞の力学的物性変化を捉えるための原子間力顕微鏡（AFM）を利用した研究例についてエンドユーザーの立場から紹介したい。

『マルチスケール力学計測とバイオロジーの接点』

京都大学 医生物学研究所 　

助教 牧 功一郎　様

　講演者は、原子間力顕微鏡 (Atomic Force Microscopy: AFM) を用いて、生体分子から、細胞・組織にわたるマルチスケールの力学計測（引張試験・押し込み試験）を進めてきた。これまでの具体的な実践例を紹介するとともに、力学計測と生物学をより深くリンクさせるための考えや工夫についても共有し、参加者と議論を行いたい。

休憩　
簡単なお茶とお菓子を用意しております。

参加者の皆様での情報交換の機会としていただけれ幸いです。

『広視野・高精細を実現する顕微鏡イメージング』

株式会社エビデント　
ライフサイエンスリサーチ プロダクトマーケティング　出張雅敏 様　　

『ブルカーバイオAFM製品紹介とデモンストレーション』

ブルカージャパン㈱　ナノ表面計測事業部

アプリケーション部　塚本 和己

休憩　(トークセッション準備）

座談会 『みんなで話そうバイオAFM』

AFMを用いた液中測定の課題や期待をパネリストの方々と意見交換できるプログラムです。ご質問・ご相談を登録フォームより承っております。

   パネリスト：講演者の皆様

懇親会

開催のご挨拶　

　ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部

統括部長　鈴木 大輔

『原子間力顕微鏡によるフィラー充塡ゴムのナノ応力分布とナノ導電性の最新研究』　　　

　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　東京工業大学　物質理工学院　応用化学系
梁　暁斌 様

　我々が原子間力顕微鏡（AFM）をベースにしたナノ触診AFM技術に伸長装置や圧縮装置を導入することで、試料表面のナノ応力分布を実空間で可視化できた。さらに、導電性AFMを組み合わせて、変形に伴うフィラーネットワークのナノ空間構造の評価手法を確立した。

『化粧品開発でのAFM活用事例』

株式会社資生堂　シーズ開発センター　分析技術G

高橋　洋平様

『ウルトラミクロトームによるAFM試料の作製』

ライカマイクロシステムズ(株)　ライフサイエンス・リサーチ事業部

長澤 忠広様

『ブルカーAFMによる最新の機械特性評価』

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　アプリケーション部

横川　雅俊

休憩　
簡単なお茶とお菓子を用意しております。

参加者の皆様での情報交換の機会としていただけれ幸いです。

座談会 『みんなで話そう機械特性評価』

AFMを用いた機械特性評価の課題や期待をパネリストの方々と意見交換できるプログラムです。パネリストとしての参加の希望・ご質問・ご相談を登録フォームより承っております。

　モデレーター：東京工業大学　物質理工学院　中嶋　健 先生

   パネリスト：講演者、参加ご希望者　　　　　　　　　　 

『ブルカー製品のご案内とお知らせ』

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　営業部　荒尾 昌樹

開催のご挨拶　

『AFMを用いた機械特性評価の基礎』　　　

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　東京工業大学　物質理工学院　中嶋　健 教授

　AFMを用いた機械特性評価について、特に高分子材料を対象に、その原理とISO標準化された手法について紹介する。またその手法を凌駕する新手法やnDMAのような粘弾性を議論できる新しい手法についても、その事例とともに紹介する。

『AFMを用いた表面電位計測の基礎』

京都大学　工学研究科電子工学専攻　小林 圭 准 教授

　AFMを応用したケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM)の基本原理および周波数変調(FM)技術を用いて高感度化したFM-KPFMについて紹介する。また、電圧や光に対する表面電位の過渡的な変化を可視化する時間分解測定技術についても紹介する。

休憩

『Nanoscope、Nanoscope Analysisの使い方Tips』

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　寺山　剛司

　原子間力顕微鏡（AFM）の認知度は目覚ましいものがあり、現在では各種研究において欠かせないツールの一つになってきました。当たり前のようにAFMを使用して様々な情報をイメージングしているが、本当に使いこなしているのでしょうか。本講演では、NanoScopeソフトウェア（リアルタイム）、NanoScope Analysis（オフライン）のちょっとした使用方法のコツなどを紹介いたします。

『プローブ紹介とお悩み相談会』

                                                     　ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　鈴木　操

　ブルカーの機械特性と電気特性プローブ紹介と皆様のお悩みに回答致します。

休憩

 トークセッション 

『AFM座談会』

　登録フォームから事前に募りましたご質問・ご相談等のコメントをもとに座談会を開催致します。

『ブルカー製品紹介、最新情報のご案内』

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　営業部　荒尾 昌樹

クロージング