資料請求はこちら
アップグレードのお問合せはこちら
デモ・使用・測定方法のお問合せはこちら
故障・保守・移設・トレーニングのお問合せはこちら
Bruker グローバルサイト
サポート/保守/アップグレードに関するご案内
Bruker AFMユーザーの声
販売開始のお知らせ
ニコンインステック社で販売開始
日本語ウェビナー開催日程
リクルート

イベント情報

ブルカー・エイエックスエス ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/

ナノ表面計測システムでは、原子像観察が可能な高分解能原子間力顕微鏡(AFM)から大型試料観察や機械特性・電気特性等の様々な特性をナノスケールで計測可能な走査型プローブ顕微鏡(SPM)、更に広範囲なエリアの粗さ・形状を高速非破で計測可能な白色光干渉型顕微鏡等で材料表面の検査・評価を行うことができます。

AFM(原子間力顕微鏡)システム
AFM/IR, AFM/Raman(TERS)ソリューション
AFM / SPM用プローブ
AutoAFM(大型自動原子間力顕微鏡)
白色光干渉型顕微鏡
触針式プロファイリングシステム
トライボロジー/メカニカル試験装置
LED、HB-LEDエピタキシャルウエハ 非破壊発光検査装置

お知らせ

2017.06.21

2016.10.07
夏のお得なプローブキャンペーンのお知らせを掲載しました

リモートセンシングFT-IR「EM27/SUN」日本導入事例ムービーを公開しました
2016.09.16
アプリケーション・ノート「共焦点顕微ラマン分光システムSENTERRA IIによる複合材料の深さ分析」を公開しました