3次元白色光干渉型顕微鏡

ベンチトップ型高性能 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡 ContourX-100/200/500

Contour Elite X
Contour Elite X

エントリーモデル ベンチトップ型 白色光干渉型顕微鏡 
ContourX-100

ContourX-100は、数十年にわたるブルカー独自の白色光干渉計(WLI)の革新的な技術を取り入れた合理化されたパッケージで、妥協のない2D/3Dの高解像度測定機能を提供します。ゲージ対応のベンチトップシステムは、操作画面は直感的でわかりやすいインターフェースを提供し、精密機械加工された表面、厚膜、トライボロジーアプリケーション等向けにプログラムされたフィルター機能や分析機能の豊富なライブラリに直感的にアクセスし、高速、高精密な計測データを提供します。

表面テクスチャ計測にフレキシブルに対応 ベンチトップモデル 白色光干渉型顕微鏡 
ContourX-200

ContourX-200 Optical Profilometerは、高度な特性評価、カスタマイズ可能なオプション、使いやすさを完璧に融合させた、クラス最高の高速、高精度、再現性のある非接触3次元表面形状測定装置です。ゲージを搭載した小型のシステムは、広域対応の測定範囲 5MPデジタルカメラと新型の電動XYステージにより、2D/3Dの高分解能測定を実現しました。ContourX-200は、業界で最も先進的な操作・解析ソフトウェアであるVision64を搭載しています

自動化機能対応 ハイエンドベンチトップモデル白色光干渉型顕微鏡 
ContourX-500

ContourX-500 Optical Profilometerは、世界で最も包括的な自動化ベンチトップシステムで、高速で非接触の3次元表面形状測定を実現します。ブルカー独自のチップ/チルト式光学ヘッドを搭載したこのシステムは、トラッキングエラーを最小限に抑えながら、様々な角度から表面形状を測定するための完全なプログラムが可能です。ゲージを搭載したContourX-500は、高いZ軸分解能と精度を誇り、ブルカーの白色光干渉法(WLI)フロアスタンド型モデルで認められたすべての利点を、省スペースでコンパクトな設置面積で提供します。

大型試料対応ハイエンド 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡 ContourX- 1000

Contour Elite X

ハイエンド白色光干渉型顕微鏡

ContourX- 1000

操作性の向上、充実したデータレポート機能、2000枚を超えるデータステッチング計測の実現、膜厚計測、加熱、冷却環境で測定可能とした対物レンズラインナップ等、研究開発から生産管理にいたる様々な用途に答える形状情報を、高精度かつ非接触3次元で高速に提供します。

ContourX-1000は、ブルカー特許のチップ/チルトヘッド構造、自己校正レーザーリファレンス、パターン認識、レシピの携帯性という業界に特化した組み合わせを特徴としています。自己調整測定モード USIUniversal Scanning Interferometry法) は、最適な測定モードを自動的に決定し、また、ガイド付きでシンプルなVisionXpressインターフェースは、様々な試料の表面形状で妥協のない測定と高いスループットを実現します。


大型試料対応 白色光干渉型顕微鏡 NPFLEX- 1000

NPFLEX

大型試料用 白色光干渉型顕微鏡
NPFLEX- 1000

光学部品、自動車部品、インプラント品、切削加工部品等、評価の為に切りだしや加工を好まない試料をそのまま計測できるワイドステージ構造を実現した白色光干渉粗さ計です。また±45度まで計測ヘッドを傾けられるシステム構造は、あらゆる角度から高精度計測を実現します。(試料搭載可能スペース:304mmD x 304mmW x 350mmH)また、画期的な独自のBoreScopeレンズを用いれば、Φ50mmまでのボア内壁の粗さ測定が可能となります。

NPFLEX-1000は、大型ガントリとスイベルヘッドの組み合わせ設計により、自動車、医療、大規模積層造形分野の精密加工のQA/QCにおいて、大型パーツの難しい局所表面へのアクセスを可能にする独自のゲージング対応ソリューションを提供します。

また、NPFLEX-1000は、対物レンズの下に300mm以上のZスペースを確保し、スイベルヘッドと超長作業距離対物レンズにより、究極のサンプルサイズの柔軟性を提供します。さらに、オプションのフォールドミラーにより、サンプルの高スロープ面や側面へのアクセスも大幅に拡大しました。10秒以内の高速自動測定と完全な解析は、生産環境におけるスループットの重要な向上につながります。

大型基板対応 白色光干渉型顕微鏡 Contour SP

ContourSP

実装基盤専用 白色光干渉型顕微鏡
ContourSP

最大 610mm x 610mmサイズまでのさまざまな実装基盤の自動計測を可能にした光干渉型顕微鏡です。CogneX搭載により、フィデューシャルアライメントやプレアライメント動作を行いテキスト形式でインポートされる任意指定箇所の自動測定を可能にします。ライン&スペース、ビア、アンカー、リセッション計測を高性能かつ高速に行う品質管理用専用システムです。

300mm対応全自動白色光干渉型顕微鏡 Contour GTX-ARM

ContourSP

300mmウェハ用全自動白色干渉測定システム
Contour GT-X ARM

生産管理における全自動測定のための光干渉型顕微鏡EFEMハンドラーソリューションです。最大300mmウエハに対応し、Brukerが培った白色干渉計測技術によりハイスループットで3Dパラメータを提供します。FFU、イオナイザー、シングル/デュアルローダー、SECS-GEMのオプションに対応。


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