高速回転ドライブは、ドライブに取り付けられた試験片が回転する設計となっています。対となる試験片形状もボールやピンなど様々な形状が選択可能となります。ボールオンディスクやピンオンディスクなどの試験に加え、スラスト試験や4球試験などへの評価の拡張性も持ち合わせており、幅広い試験を実現します。これらの試験においても、ドライ環境・ウエット環境に対応します。
高速回転ドライブ | 主な仕様 |
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回転速度 | 0.1~5,000 rpm |
推奨試験荷重 | 500 N (ボール・ピン・シリンダーオンディスク) 2,000 N (スラスト試験、4球試験) |
温度範囲 | -25~1,000 ℃ |
湿度範囲 | 5~85 %RH |
主な拡張性 | ウエット環境試験 |
加熱チャンバーオプション(最高400 ℃、最高1000 ℃) 冷却チャンバー(最低温度-25 ℃) 湿度制御チャンバー(5-85 %RH) クラッチ試験モジュール ブレーキ試験モジュール 4球試験モジュール 高温硬さ試験キット ECRセンサー AEセンサー |
高速振動試験に代表される試験片を高速往復させての摺動試験を実現するドライブです。対となる試験片形状としてボールやピンを使用し、摺動中の摩擦・摩耗の評価を行います。摩擦計測に特化したHFRRセンサーを取り付けたセットアップとすることで、最大2,000 Nの荷重を印加しての試験を実現します。いずれの試験においても、ドライ環境・ウエット環境での評価可能となります。
高速往復ドライブ | 主な仕様 |
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摺動速度 | 60 Hz (1 mm), 35 Hz (10 mm), 20 Hz (25 mm) |
摺動距離 | 0.1 - 25 mm |
推奨試験荷重 | ~2,000 N (HFRRセンサー使用時) ~200 N(フリクションロードセンサー使用時) |
温度範囲 | -25~1,000 ℃ |
湿度範囲 | 5~85 %RH |
主な拡張性 | ウエット環境試験(最高400 ℃、最高1000 ℃) 加熱チャンバーオプション 冷却チャンバー(最低温度-25 ℃) 湿度制御チャンバー(5-85 %RH) HFRRセンサー 腐食摩耗試験キット ECRセンサー AEセンサー |
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ブロックオンリングドライブは、円筒側面にブロック試験片を押し付けて行う試験用のドライブです。油温を制御しながら測定を行うためのチャンバーも取り付け可能であり、JASO M358(ベルト式CVT油の金属間摩擦係数特性試験)への対応も可能となっています。
ブロックオンリングドライブ | 主な仕様 |
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回転速度 | 0.1~5,000 rpm |
試験荷重 | ~2,000 N (SLBセンサー使用時) |
温度範囲 | RT~150 ℃ |
主な拡張性 | 油中環境可 150 ℃油温制御チャンバー SLBセンサー ECRセンサー AEセンサー |
高精度リニアドライブは、比較的長い距離の往復摺動が可能なドライブとなります。また、光学顕微鏡を取り付けての試験が可能であり、試験前後の試料表面形状の観察が可能となります。この機能により、スクラッチ試験やビッカース硬さ試験など、試料表面形状観察が必要な試験を行うこともできます
高精度リニアドライブ | 主な仕様 |
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移動速度 | 120 mm |
移動距離 | 0.001 - 10 mm/sec |
試験荷重 | ~200 N(スクラッチ試験時) |
主な拡張性 | 光学顕微鏡の搭載 腐食摩耗試験キット ECRセンサー AEセンサー |