日時 | 2022年5月26日(木) 14:00~15:00 (13:45ログイン受付開始) |
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形式 | ウェビナー(オンラインによるWEBセミナー) ※お持ちのPCにてインターネット経由でのご参加となります。インターネットに接続できる環境でお手元のパソコンや各種端末からご参加いただけます。 ウェビナー配信サービスには「GoToWebinar」を利用致します。 GoToWebinarをインストールできるPC及びモバイル端末等をご用意願います。ご所属先のインターネットのセキュリティーポリシーによってはGoToWebinarへのアクセスを拒否される場合がございます。その場合は、事前にご所属先のIT部門の方へアクセス許可のご相談をお願い致します。 GoToWebinar システム要件はこちら▶ https://bit.ly/3sne6xl |
参加費 | 無料(事前登録制) |
お申込み | 下記登録フォームよりお申込み下さい。 ● WEB登録フォーム ※対応ブラウザ Google Chrome, Edge, Firefoxとなります. |
時間 | 内容 (当日のプログラムは予告なく変更することがございます。) |
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14:00~14:30 | 「進化する共焦点顕微鏡によるLive-Imaging技術 さらに最新の演算手法でXY方向90nmの分解能を実現する手法(jDCV)など、共焦点顕微鏡LSM9シリーズと超解像検出器Airyscan2 Multiplexについて、最新の知見を交えてご紹介します。 カールツァイス株式会社 リサーチマイクロスコピーソリューション 光学顕微鏡技術担当 市川 明彦 |
14:30~15:00 | 「共焦点顕微鏡と併用可能なBioAFM – NanoWizardシリーズのご紹介 本ウェビナーでは、前半に、AFMの原理、AFMを用いてどんなことができるのか?など、基本的なことを紹介し、後半では、最新の研究報告例と実際のAFM装置を用いて、生体試料をどのように測定しているのかをご紹介いたします。本ウェビナーを通じて、液中におけるAFM測定が思ったより簡単にできることを知っていただければと思います。 ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 塚本 和己 |
登録フォーム ※対応ブラウザ Google Chrome, Edge, Firefox |
TEL:03-3523-6361 / FAX : 03-3523-6364
あらゆる材料開発において、ナノ・マイクロスケールの構造が新材料固有の特性や機能発現メカニズムに大きく寄与することはまれではありません。そのため、ナノ・マイクロスケール構造の科学評価技術として、SEMを用いた形態観察・元素分析・結晶解析技術、ナノインデンターを用いたナノ力学特性評価技術が材料評価に広く用いられています。
本ウェビナーではZEISSのSEMとBrukerのナノインデンターの最新情報に加え、SEMとナノインデンターを組み合わせることで実現するナノ力学試験in-situ評価技術とその評価事例をご紹介します。
皆様のご参加をスタッフ一同お待ちしております。
日時 | 2021年9月28日(火) 13:30~15:30 (13:00ログイン受付開始) |
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形式 | ウェビナー(オンラインによるWEBセミナー) ※お持ちのPCにてインターネット経由でのご参加となります。インターネットに接続できる環境でお手元のパソコンや各種端末からご参加いただけます。 ウェビナー配信サービスには「GoToWebinar」を利用致します。 GoToWebinarをインストールできるPC及びモバイル端末等をご用意願います。ご所属先のインターネットのセキュリティーポリシーによってはGoToWebinarへのアクセスを拒否される場合がございます。その場合は、事前にご所属先のIT部門の方へアクセス許可のご相談をお願い致します。 |
参加費 | 無料(事前登録制) |
お申込み | 下記登録フォームよりお申込み下さい。 ● WEB登録フォーム ※対応ブラウザ Google Chrome, Edge, Firefoxとなります. |
時間 | 内容 (当日のプログラムは予告なく変更することがございます。) |
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13:30~13:35 | オープニング |
13:35~14:00 | 「ナノスケール力学評価の最新動向」 ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 長谷川勇人 |
14:00~14:25 | 「In-SituのためのZEISS Gemini SEM 先端技術紹介」 カールツァイス株式会社 風間大和 |
14:25~14:30 | 休憩 |
14:30~14:55 | 「In-situ SEM nanomechanical instrument SEM PicoIndenterのご紹介」 近年、微小材料の材料特性発現メカニズム解明のため、試料の変形・破壊過程などを直接観察するin-situナノメカニクス評価システムのニーズが高まっている。SEM PicoIndenterはSEM中で様々なナノメカニクス試験を行いながら、ナノ~マイクロスケールの構造がどのように変化するかをin-situで観察することができるシステムである。本講演ではSEM Piconindeterについて製品紹介および本システムを用いた評価事例紹介を行う。 ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 二軒谷亮 |
14:55~15:20 | 「Microscopy as a Service をめざしたZEISS の顕微鏡制御API と画像処理プラットフォーム」
カールツァイス株式会社 博士(工学) 前田 悦男 |
15:20~15:30 | クロージング |
登録フォーム ※対応ブラウザ Google Chrome, Edge, Firefox |
✉ SEMに関するお問合せ(ZEISSお問合せフォーム) ※ZEISS Webサイトへ移動します |
TEL:03-3523-6361 / FAX : 03-3523-6364
ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。 |