Value AFM Probes

イベント・セミナー情報

ブルカージャパン（株）ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の１つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/

AFMのBrukerがお届けするコストパフォーマンスに優れたプローブシリーズ

ブルカーナノ表面計測事業部の新しい”Value Probes”は高品質かつ低価格プローブでお客様のAFM運用コスト削減に貢献します。日々の測定に手頃なプローブを求めている研究にも、コストを考慮しつつ信頼性を重要視する量産評価にも、リーズナブルでありながら精度と耐久性を兼ね備えた最もコストパフォーマンスに優れたプローブシリーズです。

AFMプローブをお得な価格帯でお届け

価格以上のバリューを兼ね備えた低価格プローブシリーズでお客様のコスト削減に貢献します。

他に類を見ないAFMの専門知識とサポートを提供

AFMメーカーだから持つ蓄積された知識とノウハウにより、お客様のアプリケーションに合わせたプローブ選定のご相談をお受けいたします。

Bruker AFM Probesの製造プロセスを使用

AFMメーカーで唯一プローブを自社開発・製造するブルカーで長年の経験や実績の蓄積により確立されたプローブ製造プロセスを使用して作られています。

幅広い用途にご利用いただけます

最高性能が要求されるレベルまではいかない、日常的で幅広いご用途にご利用いただけます。

TAPPING/NON-CONTACT

FMV

NCHV

NCLV

TESPD

COATED(ELECTRICAL/MAGNETIC)

CONTV-PT

FMV-PT

MFMV

CONTACT

CONTV

Tapping and Non-Contact

Model	Description	Tipcoat	Resonant Frequency (kHz)	Spring Constant (N/m)	Tip Radius (nm)	Reflex Coating
FMV	Soft Tapping/Non-Contact	ー	75	2.8	10	ー
FMV-A	Soft Tapping/Non-Contact	ー	75	2.8	10	AI
NCHV	General Tapping/Non-Contact	ー	320	40	8	ー
NCHV-A	General Tapping/Non-Contact	ー	320	40	8	AI
NCLV	Tapping/Non-Contact, Long Cantilever	ー	190	48	10	ー
NCLV-A	Tapping/Non-Contact, Long Cantilever	ー	190	48	10	AI
TESPD	Hardened DLC Coating	DLC	320	40	15	AI