開催の挨拶　

ブルカーナノ表面計測事業部製品ラインナップ紹介

ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部
営業部 アカウントマネージャー　澤井 暢大 

ナノ分解能の赤外分光技術 AFM-IR ～新測定モード PeakForce AFM-IRの紹介～

PeakForce AFM-IR は，Bruker 独自の PeakForce Tapping 技術を利用した新しい AFM-IR 測定法です。高分解能の表面形状情報，機械特性情報，そして AFM-IR による化学構造情報をナノスケールで同時に取得可能です。加えて，PeakForce Tapping 動作中の各測定サイクルにおける探針接触時・非接触時の AFM-IR 信号を分離する Gate 測定により，独自のバックグラウンド補正を実現し，AFM-IR イメージおよびスペクトル品質を大幅に向上させます。本発表では，PeakForce AFM-IR 技術の概要と特長に加え，研究・材料解析への応用可能性についてご紹介します。

ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部
アプリケーションエンジニア　横川 雅俊 　　

「現場で選ばれる触針式プロファイラー新製品DektakProのご紹介ウェビナー」

　2024年10月9日に第11世代目の触針式プロファイラーとしてリリースされたDektak Proの紹介をいたします。

Dektakは56年に渡り世界中様々業界で絶対的スタンダードとしてご利用いただいてきました。

本ウェビナーでは最新のDektak Proの紹介、さらに新機能などのご紹介も致します。

ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部
アプリケーションエンジニア　寺山 剛司