LED
基板の湾曲 （Substrate Bow）
| アプリケーション： | 発光ダイオード（LED） |
| 測定技術： | 3次元光干渉粗さ計 |
| 測定に用いた装置： | 3次元光干渉粗さ計 |
| 画像説明： | 高輝度LED用2インチウェハーの湾曲をステッチング機能により得た3D光学イメージ。 |
パターンドサファイアサブストレート （Patterned Sapphire Substrate）
| アプリケーション： | 発光ダイオード（LED） |
| 測定技術： | 3次元光干渉粗さ計 |
| 測定に用いた装置： | ContourGT |
| 画像説明： | 高輝度LED（HBLED）市場で使われるパターンドサファイヤサブストレートの3D光学イメージ。 |
PSSウェハー （PSS Wafer）
| アプリケーション： | 発光ダイオード（LED） |
| 測定技術： | 3次元光干渉粗さ計 |
| 測定に用いた装置： | 3次元光干渉粗さ計 |
| 画像説明： | パターンドサファイアウェハー上の特徴的な形状の3D光学イメージ。 |
PSSの構造 （PSS Features）
| アプリケーション： | 発光ダイオード（LED） |
| 測定技術： | 3次元光干渉粗さ計 |
| 測定に用いた装置： | ContourGT |
| 画像説明： | 3D PSS形状のリアルタイムスクリーンキャプチャー。 |
有機太陽電池（Organic Photovoltaics）
| アプリケーション： | 発光ダイオード（LED） |
| 測定技術： | AFM |
| 画像説明： | 有機導電性材料は発光や光変換を含む多くのユニークな特徴を示す。半導体の代わりに導電性ポリマーをベースとしたディスプレイやLEDが市販されている。このイメージは有機太陽電池（共役高分子とフラーレンの混合）で使用されるヘテロ構造の導電率の横方向の変化を示している。
スキャンサイズ： 25μm イメージご提供： J. Čermák, Institute of Physics, Academy of Sciences of the Czech Republic, v.v.i. |