オープニング

　特別講演　「2Dマテリアル研究におけるAFMの活用法」

グラフェンをはじめとする2Dマテリアル分野の発展に伴い、構造評価にとどまらず、物性評価や表面クリーニング、エッチングなどデバイス作製プロセスにおいてAFMの重要性が高まっている。本講演では、高さ、摩擦、導電性などの各種モードに加え、カスタム探針やデバイス構造と組み合わせたin-situ測定を紹介し、実例を通じて幅広い応用展開を示す。

国立研究開発法人物質・材料研究機構ナノアーキテクトニクス材料研究センター 量子材料分野 量子ビット材料グループ  　
主任研究員　岩切 秀一様　

「AFMを用いた2D材料の包括的なナノスケール評価」　

　
2D材料の評価は、ナノスケールの構造、物性、化学的性質といった多岐にわたる要素の分析が含まれます。原子間力顕微鏡（AFM）は汎用性が高く、こうした複雑な課題に対応する理想的な研究ツールです。AFMを使用することで、2D材料のさまざまな側面を（同時に）分析することができ、研究開発に不可欠な詳細な知見を得ることができます。

本ウェビナーで学べる内容：

・2D材料の評価で一般的に使用されるAFMモード

・ナノスケールでの構造、物性、化学的性質の相関

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　

アプリケーションエンジニア　横川 雅俊

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