CMPプロセスの可視化と評価最前線ウェビナー ~インプロセスモニタリングから研磨状態の理解・最適化へ~

CMPプロセスの可視化と評価をテーマに、モータ電流・摩擦係数・AEセンシングによるインプロセスモニタリング技術と、TriboLab CMPによる研磨プロセス評価事例を紹介。CMPプロセスの理解、評価手法、プロセス最適化に関心のある技術者・研究開発担当者・製造担当者向けのウェビナーです。本ウェビナーでは、岐阜大学 畝田道雄教授を講師に迎え、モータ電流、摩擦係数、AE(Acoustic Emission)センシングなどのデータを活用したインプロセスモニタリング技術についてご紹介いただきます。CMP中に発生する現象をどのように捉え、理解し、予測へつなげるのか、最新の研究事例を交えながら解説いただきます。また弊社装置紹介では、ブルカーの小型CMP研磨評価装置「TriboLab CMP」を用いた研磨プロセス評価事例をご紹介します。CMPプロセスの研究開発、評価手法の検討、プロセス最適化に携わる方にとって、有益な情報をご提供するウェビナーです。CMPプロセスの理解を深めたい方、評価・解析手法の導入を検討されている方、CMP関連技術の最新動向に関心をお持ちの方は、ぜひご参加ください。

日時2026年8月25日(火) 13:30~15:00 (13:15ログイン受付開始) 
形式ウェビナー(オンラインによるWEBセミナー)
※ウェビナー配信サービスには「Zoom」を利用致します。
参加費無料(事前登録制)
お申込み下記登録フォームよりお申込み下さい。

WEB登録フォーム 

プログラム   13:15~ログイン受付開始 

時間 内容  (当日のプログラムは予告なく変更することがございます。)
13:30~13:35

オープニング

13:35~14:35

 特別講演 

CMPの可視化とインプロセスモニタリング ― モータ電流・摩擦係数・AEセンシングによる研磨状態の理解 ―

 
 Chemical Mechanical Polishing(CMP)は半導体デバイスや各種高機能基板の製造に不可欠な平坦化技術であるが,研磨界面で生じる現象を直接観察することは容易ではない.そのため,CMPプロセスの高度化には,研磨中に取得可能な各種信号を活用したインプロセスモニタリング技術が重要となる.本講演では,モータ電流を用いた研磨レートおよび摩擦係数のリアルタイム予測,ならびにAcoustic Emission(AE)センシングによる研磨活動度評価に関する研究事例を紹介する.さらに,機械的作用と化学的作用の違い,ナノ粒子作用の間欠性評価,および複数センサ情報の活用によるCMP現象の可視化や予測について解説する.


国立大学法人東海国立大学機構 岐阜大学 工学部 機械工学科 機械コース 教授
工学部 関の刃物サステナブル技術革新拠点 拠点長

(公社)精密工学会 プラナリゼーションCMPとその応用技術専門委員会 幹事

(公社)砥粒加工学会 研磨の基礎科学とイノベーション化専門委員会(KENMA研究会) 委員長

畝田 道雄 様 

14:35~14:55

小型CMP研磨機「TriboLab CMP」の研磨プロセス評価事例

 

半導体の高集積化、多層化に伴い、CMPプロセスは必須の技術になっており、特に後工程における3次元実装が推進されるようになってきてから、ますますCMP工程が増えてきている。また、ムーアの法則を支えてきたと言われるCMPプロセス制御及びその評価は非常に重要視されている。本講演では、TriboLab CMPの概要とその測定及び解析事例をわかりやすく解説する。



ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 

 アプリケーションエンジニア 塚本 和己 


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セミナーに関するお問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部 イベント担当 

TEL:03-3523-6361 / FAX : 03-3523-6364