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イベント情報

ブルカー ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/

イベント

AFM表面計測・解析技術セミナー2017

今年もブルカーナノ表面計測事業部では技術セミナーを開催致します。今年は「AFM表面計測・解析技術セミナー2017」とAFMをメインとした内容となっており、特別講演には東京会場では国立研究開発法人物質・材料研究機構 理事の藤田大介様、大阪会場には株式会社東レリサーチセンター形態科学研究部の松村浩司様にご登壇頂きます。スタッフ一同皆 様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

開催場所大阪東京
日時2017年10月11日(水) 10:00~17:002017年10月13日(金) 10:00~17:00
会場ブリーゼプラザ 801号室  〔→交通アクセス〕
(大阪市北区梅田2-4-9ブリーゼタワー7-8階)

 弊社東京オフィス 〔→交通アクセス〕
(東京都中央区新川1-4-1住友不動産六甲ビル1F
定員20名45名
参加費無料無料
お申込みTelまたはメール、又は下記登録フォームよりお申込み下さい。

>WEB登録フォーム     
電話:03-3523-6361
→ ●セミナーご案内状はこちら(PDF)

Email:info-nano.baxs.jp@bruker.com

プログラム

時間内容  当日のプログラムは予告なく変更する
10:00~10:10開催のご挨拶
10:10~11:40
「PF Tapping とTappingでのそれぞれにおける超高分解能測定および、液中電気測定」

Bruker 米国サイエンティスト

11:40~12:10
「定量的ナノ機械特性の拡張・応用技術」
(FASTForce Volume NanoMechanics (FFVNM), RampScripting/Force Spectroscopy)

ブルカー ナノ表面計測事業部

12:10~13:00
昼食 (当社にてお弁当をご用意致します。)
13:00~14:00
10月11日(水)
大阪会場
[特別講演] 大阪会場 
「高純度不活性ガス雰囲気制御SPMによる電気物性評価」

AFMSCMやSSRMに代表されるSPMの電気物性評価法は、吸着層によって測定の精度・確度に悪影響を受ける。本装置では、H2O,O2=0.1 ppm以下に制御されたグローブボックス内で、コンタミフリーな測定環境を実現できるようになった。
本講演では、
・不活性ガス雰囲気中でのLiイオン電池電極材料への適用事例
・ピークフォースタッピングを用いた機械特性・電気特性(PF-KPFM、PF-TUNA)の同時マッピング
・マイクロ波インピーダンス顕微鏡(sMIM)による半導体・絶縁体の誘電率ε,導電率ρ
の測定事例について紹介します。

株式会社東レリサーチセンター 形態科学研究部 松村浩司 様

13:00~14:00
10月13日(金)
東京会場
[特別講演] 東京会場 
「 環境エネルギー材料のオペランドSPM解析 」 

環境・エネルギー分野、バイオサイエンス分野、情報通信分野などにおけるマテリアルイノベーションのキーテクノロジー手法としての観点から、ナノスケールの空間分解能で構造と多彩な物性機能を多元的に同時計測できる走査型プローブ顕微鏡(SPM)が注目されている。SPMにおける新たな高度計測技術の開発動向ならびに上記テクノロジー分野への応用展開について、最新の研究成果を第一線で活躍されている藤田先生にご紹介していただきます

国立研究開発法人物質・材料研究機構 理事 藤田大介 様

14:00~15:00
「 ナノエレクトリカルモードの最新開発状況紹介 」 
(PF-electrical, liquid-Electrical, FFV-electrical mode等)

ブルカー ナノ表面計測事業部

15:00~15:15
休憩
15:15~16:45装置デモンストレーション 
(※大阪会場は東京本社からインターネット回線によるWeb装置デモとご紹介になります)

※10月13日(金)の東京会場では、セミナー終了後に懇親会を行います、是非ご参加ください。

セミナーご案内状

参加のお申込み

セミナーへの参加をご希望の方は、電話、メールもしくはWEB登録サイトにてお申込み下さい。

電話:03-3523-6361 
メール:info-nano.baxs.jp@bruker.com

WEB登録フォーム

セミナーご参加の皆様にプレゼント

セミナーご参加の皆様にはポスタープレゼント!

STMContact modeTapping modePeakForce TappingQNMForce Spectroscopyなど各種のモードを掲載した、SPMモードポスタープレゼント致します。その他、プローブ選定ガイドブック、アプリケーション別イメージ集などをご用意しお待ちしています。

セミナーに関するお問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部 イベント担当 森橋

TEL:03-3523-6361 / FAX : 03-3523-6364





JASIS2017出展のご案内

本年もブルカー ナノ表面計測事業では、ブルカーグループにてアジア最大級の分析機器・科学機器展示会JASIS2017に出展いたします。会場では、7月より取扱いを開始したナノインデンテーションシステムなど各種装置をデモ展示、最先端の表面計測技術、評価手法をご紹介しております。併催される新技術説明会では、ブルカーグループ各社より様々なテーマの最新技術を詳しく解説いたします。また、豪華賞品が当たるスタンプラリーも実施しております。会場にお越しの際は是非ブルカーブースにお立ち寄りください。


ブースプレゼンテーションを毎日開催!

ブルカーブース内に設けられたプレゼンテーションコーナーにて、各グループによるブースプレゼンを毎日実施しています。

※ブルカー ブースプレゼン詳細はこちら

▼ブルカー ナノ表面計測事業部ブースプレゼンスケジュール (3日間下記の時間帯で実施致します。)

10:30~ 「表面計測最前線」(関連装置:AFM、3次元白色光干渉型顕微鏡、ナノインデンター)

13:30~ 「表面計測最前線」(関連装置:AFM、3次元白色光干渉型顕微鏡、ナノインデンター)

新技術説明会   

新技術説明会ではブルカーナノ表面計測事業部の各製品を活用した計測・評価技術についてテーマ別にご紹介致します。

皆様のお越しをスタッフ一同心よりお待ちしています。

※聴講に関しまして事前予約は必要ありません。(展示会への事前登録は必要です。詳しい聴講方法はこちら) 直接会場へお越し下さい。受付にてお名刺を1枚頂戴いたします。 

※ブルカー新技術説明会プログラム一覧はこちら

会場A:アパホテル&リゾート、会場N: ホテルニューオータニ

日時会場テーマ
9月6日(水)
11:50~12:15
A - 5[AFM]
Preak Force Tapping技術を応用した、機械特性、電気特性測定の紹介

独自技術による高分解能,ナノ機械特性(弾性率・凝着力),sMIMを組合せた電気特性(ドーパント濃度等)の紹介。
9月8日(金)
11:10~12:00
N - 4[ナノインデンテーション]
材料硬度、ヤング率から粘弾性、界面強度評価まで、最新ハイブリット型ナノインデンターによる
機械特性評価の応用例を紹介

近年ナノインデンテーション法は有機材料、生体材料、複合材料などの力学特性評価に適用されており、
高速インデンテーションによる特性マッピングや、周波数・温度掃引による動的粘弾性評価技術などを紹介する。
9月8日(金)
11:50~12:15
A - 1[3次元白色光干渉型顕微鏡]
白色光干渉計における欠陥部判断例の紹介
光干渉法をベースにユニークな照明機構や測定/解析アルゴリズムを用いた欠陥評価の事例を紹介。
9月8日(金)
15:30~16:20
A - 7[AFM]
バイオ・ライフサイエンス(生細胞・DNA)用AFMの高精度・高速測定技術の紹介
近年AFM(原子間力顕微鏡)用途はバイオ・ライフサイエンスサンプルに対して広く使用されている。
生細胞・DNAなどに対する最新の高精度・高速AFM測定技術を紹介する。

ブルカーブース、新技術説明会会場のご案内