資料請求はこちら
アップグレードのお問合せはこちら
デモ・使用・測定方法のお問合せはこちら
故障・保守・移設・トレーニングのお問合せはこちら
サポート/保守/アップグレードに関するご案内
ブルカーナノ表面計測事業部ユーザー登録

イベント情報

ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/
Bruker グローバルサイト

イベント

AFM表面計測・解析技術セミナー2018

今年もブルカーナノ表面計測事業部では技術セミナーを開催致します。今年も「AFM表面計測・解析技術セミナー2018」とし、ナノ分光分析と多次元電気特性評価をメインとした内容となっております。当日はAFM技術に 幅広い見識を持つ講師の方々をお招きし、研究をご紹介いただくほか、最新トレンドのご紹介を致します。 スタッフ一同皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

開催場所大阪 東京
日時2018年10月10日(水) 10:00~17:302018年10月12日(金) 10:00~17:30
会場ブリーゼプラザ 803号室  〔→交通アクセス〕
(大阪市北区梅田2-4-9ブリーゼタワー7-8階)

四つ橋線 西梅田駅 徒歩3分, 阪神 梅田駅(西改札) 徒歩5分
JR 大阪駅(桜橋口)徒歩5分, JR 東西線北新地駅 徒歩5分

ハロー会議室茅場町〔→交通アクセス〕
(東京都中央区日本橋茅場町2-9-5 日進ビル3F

[東京メトロ日比谷線]茅場町駅 2番出口 目の前
[東京メトロ東西線]茅場町駅 5番出口 徒歩2分
定員50 名 60 名
参加費無料無料
内容当日のプログラム当日のプログラム
お申込みTelまたはメール、又は下記登録フォームよりお申込み下さい。→セミナー案内状(PFD)はこちら

  WEB登録フォーム  
Telまたはメール、又は下記登録フォームよりお申込み下さい。
セミナー案内状(PDF)はこちら

 WEB登録フォーム

プログラム 大阪会場 10月10日(水)

時間大阪会場 内容  (当日のプログラムは予告なく変更することがございます。)
10:00~10:10開催のご挨拶
10:10~11:40
「ナノスケールIR分光法の進歩~nanoIRとs-SNOMの最新技術とアプリケーション~

 過去数十年間、ナノサイエンスとテクノロジーの分野における急速な成長は、ナノスケールの材料向けの新しい特性評価ツールの開発が求められています。最近の超解像顕微鏡技術は優れた空間分解能を提供するが、主に蛍光イメージングで実施の為、検出用の標識が必要となります。かわりに、ナノスケールIR分光法/イメージングは​​AFMプローブを利用して、光熱膨張力(PTIR)や、近接場散乱IR光(s-SNOMを検出することによって、光学回折限界(25μm)を超える高空間分解能の「標識フリー」のスペクトル検出を提供します。新たに開発のTapping AFM-IRはサンプルトポグラフィやメカニカル特性と同時にIRイメージを取得し、<10nmの空間分解能でのトポグラフィ、化学的、機械的観察が可能になります。このプレゼンテーションでは、ナノマテリアル、ライフサイエンス、ポリマー、マイクロエレクトロニクスなどのさまざまな分野で、これらの新技術の技術的背景と用途を紹介します。

米国Light Light Solutions, Dr. Curtis A. Marcott  様

11:40~12:10
「多次元電気特性評価 DataCube+NanoelectricalLabについて

 AFMイメージの形状情報に加えて、イメージ各ピクセル毎に機械的、電気的特性を付加するDataCubeモードがリリースされ、多次元DataCubeを取得することで複雑な材料解析が可能となりました。これらの計測技術最新情報、アプリケーションのご紹介します。

ブルカー ナノ表面計測事業部

12:10~13:10
昼食 (当社にてお弁当をご用意致します。)
13:10~14:20
10月10日(水)
大阪会場
[特別講演] 大阪会場 
「ナノカーボン物質の表面で起こる多様な現象の科学とその応用展開

 近年、グラフェンの電流を流す性質の制御や、グラフェンで作った電子デバイスの性能を向上させる手段として、表面上に規則正しく並んだ分子の集合体を形成することに注目が集まっており、その手法が盛んに研究されています。最近私たちは、AFM走査の力学的効果を活用してグラフェン上に分子集合体を1方向に揃えて並べることができることを見出したので、それを紹介します。また、カーボンナノチューブの光、熱、機械物性など各種物性の先端計測技術や、ナノチューブ表面での化学を利用した物性の制御とその応用に関する最新の研究成果についても、ご紹介します。


京都大学 エネルギー理工学研究所 准教授 兼 名古屋大学大学院理学研究科 客員准教授

 兼 JST-ERATO 伊丹分子ナノカーボンプロジェクト 物理工学グループリーダー 宮内雄平 様

14:20~15:30
10月10日(水)
大阪会場
[特別講演] 大阪会場  
「パワーデバイス用ワイドギャップ半導体の開発動向-SiCを中心として― 」

 
パリ協定の「2°C目標」達成のためには、現状の温室効果ガス削減努力の継続だけでなく、これまでの削減技術とは異なる革新的なイノベーションが必要であります。「脱炭素化」の流れは運輸部門においても顕著であり、 世界的にEVElectric Vehicle)を始めとした車の「電動化」が大きな潮流となっています。EVなどの電力システムの省エネ化には、電力を変換・制御するパワーエレクトロニクスの高効率化が必要不可欠ですが、この分野の革新的技術とされているのがシリコンカーバイド(SiC)を始めとするワイドギャップ(WBG: Wide Band Gap)半導体です。本講演では、パワーデバイス用WBG半導体開発の現状について述べると共に、WBG半導体開発におけるナノ分析技術の必要性を議論します。

関西学院大学 理工学部 先進エネルギーナノ工学科 教授 大谷昇 様

15:30~15:45

休憩

15:45~16:15
「 ブルカー最新表面計測関連製品のご紹介」 

ブルカー ナノ表面計測事業部

16:15~16:45
装置測定方法のご紹介
16:45~17:00質疑応答 & アンケート 
17:00~17:30個別相談

プログラム 東京会場 10月12日(金)

時間東京会場 内容  (当日のプログラムは予告なく変更することがございます。)
10:00~10:10開催のご挨拶
10:10~11:40
「ナノスケールIR分光法の進歩~nanoIRとs-SNOMの最新技術とアプリケーション~

 過去数十年間、ナノサイエンスとテクノロジーの分野における急速な成長は、ナノスケールの材料向けの新しい特性評価ツールの開発が求められています。最近の超解像顕微鏡技術は優れた空間分解能を提供するが、主に蛍光イメージングで実施の為、検出用の標識が必要となります。かわりに、ナノスケールIR分光法/イメージングは​​AFMプローブを利用して、光熱膨張力(PTIR)や、近接場散乱IR光(s-SNOMを検出することによって、光学回折限界(25μm)を超える高空間分解能の「標識フリー」のスペクトル検出を提供します。新たに開発のTapping AFM-IRはサンプルトポグラフィやメカニカル特性と同時にIRイメージを取得し、<10nmの空間分解能でのトポグラフィ、化学的、機械的観察が可能になります。
このプレゼンテーションでは、ナノマテリアル、ライフサイエンス、ポリマー、マイクロエレクトロニクスなどのさまざまな分野で、これらの新技術の技術的背景と用途を紹介します

米国Light Light Solutions, Dr. Curtis A. Marcott  様 

11:40~12:10
「多次元電気特性評価 DataCube+NanoelectricalLabについて

 AFMイメージの形状情報に加えて、イメージ各ピクセル毎に機械的、電気的特性を付加するDataCubeモードがリリースされ、多次元DataCubeを取得することで複雑な材料解析が可能となりました。これらの計測技術最新情報、アプリケーションのご紹介をします。

ブルカー ナノ表面計測事業部

12:10~13:10
昼食 (当社にてお弁当をご用意致します。)
13:10~14:10
10月12日(金)
東京会場
[特別講演] 東京会場 
「走査プローブ技術を利用した、材料・デバイスのナノ物性・実環境プロセス計測
 
走査プローブ法は、形状だけでなく、さまざまな物性をナノスケールで分析することができます。それに加えて、実環境やリアルタイム計測により、プロセスでの反応等の解析が可能になりつつあります。その反面、ナノプローブを利用した計測では、常にその確からしさが問題となる。国際標準化の進展を踏まえ、ナノ計測と再現性・校正等の展開についても取り上げます。


国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計測標準総合センター 分析計測標準研究部門 ナノ顕微計測研究グループ

井藤浩志 様

14:10~14:40
「 ブルカーの最新表面計測関連製品のご紹介」 

ブルカー ナノ表面計測事業部

14:40~15:10
Q & A / アンケート
15:10~15:20セミナー会場からブルカーデモラボへ移動します(約5分)
15:20~16:50実機デモンストレーション
16:50~17:30Q & A  個別相談

セミナーご案内状

セミナーに関するお問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部 イベント担当 

TEL:03-3523-6361 / FAX : 03-3523-6364





JASIS2018出展のご案内

本年も ナノ表面計測事業では、ブルカージャパンとしてアジア最大級の分析機器・科学機器展示会JASIS2018に出展いたします。会場では、ナノインデンテーションシステムなど各種装置をデモ展示、最先端の表面計測技術、評価手法をご紹介しております。併催される新技術説明会では、ブルカージャパン事業部より様々なテーマの最新技術を詳しく解説いたします。また、豪華賞品が当たるガラポンも実施しております。会場にお越しの際は是非ブルカーブースにお立ち寄りください。


ブースプレゼンテーションを毎日開催!

ブルカーブース内に設けられた特設プレゼンテーションコーナーにて、各事業部によるブースプレゼンを毎日実施しています。

※ブルカー ブースプレゼン詳細はこちら

▼ブルカー ナノ表面計測事業部ブースプレゼンスケジュール (3日間下記の時間帯で実施致します。)

14:00~ 「機械加工面から原子像まで!最先端の表面形状+ナノ特性評価ソリューション」

16:00~ 「硬度、ヤング率から粘弾性、摩擦特性まで!先端材料の機械特性評価ソリューション」

新技術説明会   

新技術説明会ではブルカーナノ表面計測事業部の各製品を活用した計測・評価技術についてテーマ別にご紹介致します。

皆様のお越しをスタッフ一同心よりお待ちしています。

※聴講に関しまして事前予約は必要ありません。(展示会への事前登録は必要です。詳しい聴講方法はこちら) 直接会場へお越し下さい。受付にてお名刺を1枚頂戴いたします。 

※ブルカー新技術説明会プログラム一覧はこちら

会場A:アパホテル&リゾート、会場N: ホテルニューオータニ

時間内容  (当日のプログラムは予告なく変更することがございます。)
10:00~10:10開催のご挨拶
10:10~11:40
「PF Tapping とTappingでのそれぞれにおける超高分解能測定および、液中電気測定」

Bruker 米国サイエンティスト

11:40~12:10
「定量的ナノ機械特性の拡張・応用技術」
(FASTForce Volume NanoMechanics (FFVNM), RampScripting/Force Spectroscopy)

ブルカー ナノ表面計測事業部

12:10~13:00
昼食 (当社にてお弁当をご用意致します。)
13:00~14:00
10月11日(水)
大阪会場
[特別講演] 大阪会場 
「高純度不活性ガス雰囲気制御SPMによる電気物性評価」

AFMSCMやSSRMに代表されるSPMの電気物性評価法は、吸着層によって測定の精度・確度に悪影響を受ける。本装置では、H2O,O2=0.1 ppm以下に制御されたグローブボックス内で、コンタミフリーな測定環境を実現できるようになった。
本講演では、
・不活性ガス雰囲気中でのLiイオン電池電極材料への適用事例
・ピークフォースタッピングを用いた機械特性・電気特性(PF-KPFM、PF-TUNA)の同時マッピング
・マイクロ波インピーダンス顕微鏡(sMIM)による半導体・絶縁体の誘電率ε,導電率ρ
の測定事例について紹介します。

株式会社東レリサーチセンター 形態科学研究部 松村浩司 様

13:00~14:00
10月13日(金)
東京会場
[特別講演] 東京会場 
「 環境エネルギー材料のオペランドSPM解析 」 

環境・エネルギー分野、バイオサイエンス分野、情報通信分野などにおけるマテリアルイノベーションのキーテクノロジー手法としての観点から、ナノスケールの空間分解能で構造と多彩な物性機能を多元的に同時計測できる走査型プローブ顕微鏡(SPM)が注目されている。SPMにおける新たな高度計測技術の開発動向ならびに上記テクノロジー分野への応用展開について、最新の研究成果を第一線で活躍されている藤田先生にご紹介していただきます

国立研究開発法人物質・材料研究機構 理事 藤田大介 様

14:00~15:00
「 ナノエレクトリカルモードの最新開発状況紹介 」 
(PF-electrical, liquid-Electrical, FFV-electrical mode等)

ブルカー ナノ表面計測事業部

15:00~15:15
休憩
15:15~16:45装置デモンストレーション 
(※大阪会場は東京本社からインターネット回線によるWeb装置デモとご紹介になります)
日時会場テーマ
9月5日(水)
10:25~11:15
A - 5[AFM]
AFMイメージにおける多次元ナノスケール情報DataCube modeの可能性
AFMイメージの形状情報に加えて、イメージ各ピクセル毎に機械的、電気的特性を付加するDataCube
モードがリリースされました。多次元DataCubeを取得することで複雑な材料解析が可能となりました。
9月5日(水)
13:45~14:10
A - 8[Bio AFM]
最高水準の分解能と最も完全な生体力学アプリケーションを備えたBioAFM最新情報
BioScope Resolve AFMの高分解能と優れた生体力学アプリケーションいついて解説します。
9月6日(木)
10:25~11:15
A - 10[3次元白色光干渉型顕微鏡]
焦点移動法と独自解析ソフトが繰り広げる最速3D測定の世界
新型ContourLSの焦点移動法と自社解析ソフトウエアの実践的高速3D測定例を紹介します。
9月6日(木)
12:50~13:40
N - 3[ナノスケール赤外分光システム] 株式会社日本サーマル・コンサルティング
回折限界を超える顕微赤外分光装置~ナノからサブミクロンまで~
10nmにせまる空間分解能で赤外分析(化学構造解析)が可能なナノIRと、500nmの空間分解能で
広範囲かつ簡便に測定が可能な新装置ミラージュの最新機能と応用例を紹介する。
9月7日(金)
10:25~11:15
A - 5[ナノインデンテーション]
極高低温、その場観察、スクラッチ、粘弾性…ナノインデンテーションはここまで来た!
ブルカーの最先端ナノ機械特性評価技術

有機・生体・複合材料など様々な材料のナノ機械特性評価に用いられるナノインデンテーション法の
最先端技術として、温湿度などの環境制御や電子顕微鏡内でのin-situ評価、スクラッチ、粘弾性評価技術を紹介。
日時会場テーマ
9月5日(水)
11:15~11:40
ライフサイエンスイノベーションゾーン内
第1会場
[バイオAFM] 
バイオ・ポリマーサンプルのナノスケール解析 
原子間力顕微鏡と光ピンセットは解像度、速度、操作性など大きく進歩しており、ポリマーの高速測定や生体サンプルへの応用が進んでいる。これを可能にしたキーテクノロジーを解説すると共に応用例を紹介する。

ブルカーブース、新技術説明会会場のご案内

お問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部 イベント担当 

TEL:03-3523-6361 / FAX : 03-3523-6364





バイオマテリアル・バイオメカニクス向けAFMセミナー 8/2 2018

ブルカーナノ表面計測事業部では8月2日(木)にバイオAFM技術が学べるセミナーを開催致します。 当日はバイオAFM技術に 幅広い見識を持つ講師の方々をお招きし、研究をご紹介いただくほか、最新トレンドのご紹介を致します。 みなさまのご参加をスタッフ一同心よりお待ちしております。

日時2018年8月2日(木) 13:30~17:30
会場 弊社東京オフィス 〔→交通アクセス〕
(東京都中央区新川1-4-1住友不動産六甲ビル1F
定員30名
参加費無料
お申込み→ セミナーご案内状はこちら(PDF)    WEB登録フォームはこちら

Email:info-nano.bns.jp@bruker.com

プログラム

時間内容  (当日のプログラムは予告なく変更することがございます。)
13:30~13:40開催のご挨拶
13:40~14:30
[特別講演] 
「AFMを用いたバイオマテリアル界面の構造・機能相関の研究」

医療材料にも利用されるバイオマテリアルには、抗血栓性や細胞接着性の制御など、目的に応じた種々の機能が求められる。本 講演では高分子を用いたバイオマテリアル界面でのナノメートルスケールの特異構造の存在、さらにその構造が機能発現にど う寄与するのかをAFMを用いて解明した一連の研究内容について紹介する。


九州大学先導物質化学研究所ソフトマテリアル部門 助教 村上大樹 様

14:30~14:50
「振動と熱ドリフトに強い新型倒立顕微鏡Ti2シリーズの紹介」 

昨年リリースした研究用倒立顕微鏡の新シリーズ“Ti2”は、高いフレーム剛性と熱ドリフトの少ない構造により、超解像顕微鏡 やAFMのような微細構造観察に適した顕微鏡となっています。本セミナーでは、Ti2シリーズの性能紹介と様々な外部装置と 組み合わせたシステムアップ事例をご紹介します。

株式会社ニコンインステック AE部 AS課 松森はるか 様

14:50~15:50
 「ブルカーバイオ向けAFM、バイオ向けナノインデンテーションの紹介 」

ブルカーのBioScope Resolveを用いた具体的なアプリケーション事例(※逐次通訳) と、ソフトマテリアルのナノインデンテーション測定事例をご紹介します。
  

    米国ブルカーコーポレーション アプリケーションディレクター Peter De Wolf Ph.D.

ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 アプリケーションエンジニア 二軒谷亮

セミナーご案内状

セミナーに関するお問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部 イベント担当 

TEL:03-3523-6361 / FAX : 03-3523-6364





ナノインデンテーションセミナー 2/22 2018

ブルカーナノ表面計測事業部では2月22日(木)に「ナノインデンテーションセミナー」を開催致します。 当日はナノインデンテーション評価技術に 幅広い見識を持つ講師の方々をお招きし、ナノインデンテーション技術を用いた研究をご紹介いただくほか、最新トレンドのご紹介を致します。 みなさまのご参加をスタッフ一同心よりお待ちしております。

日時2018年2月22日(木) 13:00~17:15
会場 弊社東京オフィス 〔→交通アクセス〕
(東京都中央区新川1-4-1住友不動産六甲ビル1F
定員25名
参加費無料
お申込み→ ●セミナーご案内状はこちら(PDF)

Email:info-nano.bns.jp@bruker.com

プログラム

時間内容  (当日のプログラムは予告なく変更することがございます。)
13:00~13:15開催のご挨拶
13:15~14:15
[特別講演] 
「ナノインデンテーション法の特徴と活用法

計装化ナノインデンテーション法の測定原理や特徴を解説し、金属材料の強度評価に活用した例を紹介する。また、関連技術として電子顕微鏡と組み合わせた測定技術を紹介する。


国立研究開発法人物質・材料研究機構 構造材料研究拠点 副拠点長   大村 孝仁様

14:15~15:15
「ナノ機械特性評価の最新トレンド」

ナノインデンテーションの最新トレンドとして、業界最高速度でのナノインデンテーション高速マッピング技術、温度・湿度・ガス雰囲気の環境制御技術、SEM(走査型電子顕微鏡)TEM(透過型電子顕微鏡)に組み込むことで実現したナノインデンテーションのin-situ測定技術を中心にご紹介します。


ブルカー ナノ表面計測事業部

15:15~15:30
休憩
15:30~16:15
[特別講演]  
「ナノインデンテーション法によるナノインプリント用合金膜の特性評価 

熱ナノインプリント法は材料表面に容易に微細な凹凸を形成できる成形法として研究が進められている。金属ガラスはガラス転移を示す多元系非晶質合金であり、室温では高強度と高い耐食性を示しつつ、過冷却液体領域での低粘性により優れたナノ成形性を示す材料である。本発表では、TI 950 TriboIndenterにより薄膜化した金属ガラスについて室温から高温までの特性を評価した結果および実際の熱ナノインプリント形成性との関係について紹介する。

地方独立行政法人大阪産業技術研究所 金属表面処理研究部 主任研究員 小畠 淳平様

16:15~17:15
「 装置デモンストレーション&質疑応答 」 

セミナーご案内状

AFM表面計測・解析技術セミナー2017

今年もブルカーナノ表面計測事業部では技術セミナーを開催致します。今年は「AFM表面計測・解析技術セミナー2017」とAFMをメインとした内容となっており、特別講演には東京会場では国立研究開発法人物質・材料研究機構 理事の藤田大介様、大阪会場には株式会社東レリサーチセンター形態科学研究部の松村浩司様にご登壇頂きます。スタッフ一同皆 様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

開催場所大阪東京
日時2017年10月11日(水) 10:00~17:002017年10月13日(金) 10:00~17:00
会場ブリーゼプラザ 801号室  〔→交通アクセス〕
(大阪市北区梅田2-4-9ブリーゼタワー7-8階)

 弊社東京オフィス 〔→交通アクセス〕
(東京都中央区新川1-4-1住友不動産六甲ビル1F
定員30名 (満員御礼)45名 (満員御礼)
参加費無料無料
お申込みTelまたはメール、又は下記登録フォームよりお申込み下さい。

>WEB登録フォーム     
電話:03-3523-6361
→ ●セミナーご案内状はこちら(PDF)

Email:info-nano.baxs.jp@bruker.com

プログラム

時間内容  (当日のプログラムは予告なく変更することがございます。)
10:00~10:10開催のご挨拶
10:10~11:40
「PF Tapping とTappingでのそれぞれにおける超高分解能測定および、液中電気測定」

Bruker 米国サイエンティスト

11:40~12:10
「定量的ナノ機械特性の拡張・応用技術」
(FASTForce Volume NanoMechanics (FFVNM), RampScripting/Force Spectroscopy)

ブルカー ナノ表面計測事業部

12:10~13:00
昼食 (当社にてお弁当をご用意致します。)
13:00~14:00
10月11日(水)
大阪会場
[特別講演] 大阪会場 
「高純度不活性ガス雰囲気制御SPMによる電気物性評価」

AFMSCMやSSRMに代表されるSPMの電気物性評価法は、吸着層によって測定の精度・確度に悪影響を受ける。本装置では、H2O,O2=0.1 ppm以下に制御されたグローブボックス内で、コンタミフリーな測定環境を実現できるようになった。
本講演では、
・不活性ガス雰囲気中でのLiイオン電池電極材料への適用事例
・ピークフォースタッピングを用いた機械特性・電気特性(PF-KPFM、PF-TUNA)の同時マッピング
・マイクロ波インピーダンス顕微鏡(sMIM)による半導体・絶縁体の誘電率ε,導電率ρ
の測定事例について紹介します。

株式会社東レリサーチセンター 形態科学研究部 松村浩司 様

13:00~14:00
10月13日(金)
東京会場
[特別講演] 東京会場 
「 環境エネルギー材料のオペランドSPM解析 」 

環境・エネルギー分野、バイオサイエンス分野、情報通信分野などにおけるマテリアルイノベーションのキーテクノロジー手法としての観点から、ナノスケールの空間分解能で構造と多彩な物性機能を多元的に同時計測できる走査型プローブ顕微鏡(SPM)が注目されている。SPMにおける新たな高度計測技術の開発動向ならびに上記テクノロジー分野への応用展開について、最新の研究成果を第一線で活躍されている藤田先生にご紹介していただきます

国立研究開発法人物質・材料研究機構 理事 藤田大介 様

14:00~15:00
「 ナノエレクトリカルモードの最新開発状況紹介 」 
(PF-electrical, liquid-Electrical, FFV-electrical mode等)

ブルカー ナノ表面計測事業部

15:00~15:15
休憩
15:15~16:45装置デモンストレーション 
(※大阪会場は東京本社からインターネット回線によるWeb装置デモとご紹介になります)

※10月13日(金)の東京会場では、セミナー終了後に懇親会を行います、是非ご参加ください。

セミナーご案内状

参加のお申込み

セミナーへの参加をご希望の方は、電話、メールもしくはWEB登録サイトにてお申込み下さい。

電話:03-3523-6361 
メール:info-nano.baxs.jp@bruker.com

WEB登録フォーム

セミナーご参加の皆様にプレゼント

セミナーご参加の皆様にはポスタープレゼント!

STMContact modeTapping modePeakForce TappingQNMForce Spectroscopyなど各種のモードを掲載した、SPMモードポスタープレゼント致します。

セミナーに関するお問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部 イベント担当 

TEL:03-3523-6361 / FAX : 03-3523-6364





JASIS2017出展のご案内

本年もブルカー ナノ表面計測事業では、ブルカーグループにてアジア最大級の分析機器・科学機器展示会JASIS2017に出展いたします。会場では、7月より取扱いを開始したナノインデンテーションシステムなど各種装置をデモ展示、最先端の表面計測技術、評価手法をご紹介しております。併催される新技術説明会では、ブルカーグループ各社より様々なテーマの最新技術を詳しく解説いたします。また、豪華賞品が当たるスタンプラリーも実施しております。会場にお越しの際は是非ブルカーブースにお立ち寄りください。


ブースプレゼンテーションを毎日開催!

ブルカーブース内に設けられたプレゼンテーションコーナーにて、各グループによるブースプレゼンを毎日実施しています。

※ブルカー ブースプレゼン詳細はこちら

▼ブルカー ナノ表面計測事業部ブースプレゼンスケジュール (3日間下記の時間帯で実施致します。)

10:30~ 「表面計測最前線」(関連装置:AFM、3次元白色光干渉型顕微鏡、ナノインデンター)

13:30~ 「表面計測最前線」(関連装置:AFM、3次元白色光干渉型顕微鏡、ナノインデンター)

新技術説明会   

新技術説明会ではブルカーナノ表面計測事業部の各製品を活用した計測・評価技術についてテーマ別にご紹介致します。

皆様のお越しをスタッフ一同心よりお待ちしています。

※聴講に関しまして事前予約は必要ありません。(展示会への事前登録は必要です。詳しい聴講方法はこちら) 直接会場へお越し下さい。受付にてお名刺を1枚頂戴いたします。 

※ブルカー新技術説明会プログラム一覧はこちら

会場A:アパホテル&リゾート、会場N: ホテルニューオータニ

日時会場テーマ
9月6日(水)
11:50~12:15
A - 5[AFM]
Preak Force Tapping技術を応用した、機械特性、電気特性測定の紹介

独自技術による高分解能,ナノ機械特性(弾性率・凝着力),sMIMを組合せた電気特性(ドーパント濃度等)の紹介。
9月8日(金)
11:10~12:00
N - 4[ナノインデンテーション]
材料硬度、ヤング率から粘弾性、界面強度評価まで、最新ハイブリット型ナノインデンターによる
機械特性評価の応用例を紹介

近年ナノインデンテーション法は有機材料、生体材料、複合材料などの力学特性評価に適用されており、
高速インデンテーションによる特性マッピングや、周波数・温度掃引による動的粘弾性評価技術などを紹介する。
9月8日(金)
11:50~12:15
A - 1[3次元白色光干渉型顕微鏡]
白色光干渉計における欠陥部判断例の紹介
光干渉法をベースにユニークな照明機構や測定/解析アルゴリズムを用いた欠陥評価の事例を紹介。
9月8日(金)
15:30~16:20
A - 7[AFM]
バイオ・ライフサイエンス(生細胞・DNA)用AFMの高精度・高速測定技術の紹介
近年AFM(原子間力顕微鏡)用途はバイオ・ライフサイエンスサンプルに対して広く使用されている。
生細胞・DNAなどに対する最新の高精度・高速AFM測定技術を紹介する。

ブルカーブース、新技術説明会会場のご案内