オープニング

【特別招待講演】

「ナノインデンターを用いた電子顕微鏡内その場観察力学実験」　

　力学的負荷を受けた材料が示すナノレベルの挙動評価を行うために，電子顕微鏡内でのその場観察力学実験が広く実施されている．本講演では，走査型電子顕微鏡や透過型電子顕微鏡内での力学実験が可能なナノインデンターの紹介とともに，それらを利用してナノ～マイクロ材料の強度評価を行った実験・解析例を紹介する

京都大学　大学院　エネルギー科学研究科 エネルギー変換科学専攻エネルギー機能設計学講座　教授

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　      澄川 貴志先生

「Bruker in-situナノインデンター PicoIndenterのご紹介」

　電子顕微鏡内でのin-situ力学試験を可能とするBrukerのin-situナノインデンター PicoIndenterについて、装置詳細およびアプリケーション事例をご紹介する

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部

アプリケーション部　アプリケーションエンジニア

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　   二軒谷　亮

クロージング

第1部  (※片方の部のみの参加も可能です。)

「この春からはじめる！ナノインデンター基礎講座」　

ナノインデンターについて初めて触れる方やナノインデンターでできる測定手法全般をご確認されたい方向けに、ナノインデンター基礎講座を開催いたします。

第2部  (※片方の部のみの参加も可能です。)

「ナノインデンターの最新技術トレンド2021」

第1部にご参加された方に加え、現在ナノインデンターをお使いの方や最新技術を調査されている方向けにナノインデンターの最新技術・製品・トレンドについて、アプリケーション事例を交えながらご紹介します。どちらかの部のみにご参加いただくことも可能です。皆様のご参加をお待ちしております。　

「ラマン分光法による三次元構造解析」

官能基や結合の状態や分布は、材料の機能と密接に相関するため、これらを把握することは非常に重要です。官能基や結合の分析法として、汎用的に用いられている赤外分光法と対比させて、ラマン分光法について紹介します。また、高分解能，深さ方向測定，非破壊分析などラマン分光法の特徴を活かした事例を紹介します。

株式会社日産アーク 　機能解析部　小林 健一氏　

「ナノ赤外分光技術AFM-IRで挑む表面・界面の化学」　
AFM-IRは、10 nmに迫る空間分解能でIRスペクトルとIRイメージを得る分析法です。その高いIR分解能に加え、材料のナノ機械特性や熱特性測定による総合的な材料評価により、ポリマーアロイ、多層フィルム、薄膜、異物解析等これまで困難とされてきたナノ材料の分析が可能となります。本ウェビナーでは、AFM-IRの測定原理から測定法、データ解釈などIRナノ表面分析に必要となるポイントを解説します。

ブルカージャパン株式会社　アプリケーション部　横川雅俊

「原子間力顕微鏡（AFM）による様々なナノ表面特性評価」

AFMは先端曲率半径数nm～のプローブを用いて試料表面を走査することにより、その形状をイメージングするシステムです。しかし、近年の測定技術の進歩により、表面形状のイメージングと同時にその機械的、電気的、化学的特性なども同時にマッピングし、材料に対するより深い知見を得ることが可能になりました。本プレゼンテーションでは材料開発、特性解明に有効なAFMの様々な特性マッピングの事例をご紹介します。

ブルカージャパン株式会社　アプリケーション部　二軒谷亮　

「高分解能オージェ電子分光法による局所元素分布調査」

変色や導通不良、また摺動特性や電池特性などはいずれも表面近傍の組成に影響を受けるため、表面且つ局所の元素情報が得られるオージェ電子分光法（AES）が適しています。AESの空間分解能を活かした、より微細な領域の元素分布測定等を事例とともに紹介します。

株式会社日産アーク 　現象解析部　荒木 祥和氏　

「ナノインデンテーションの基礎 2nd step」

ナノインデンテーションは圧子（プローブ）の押し込み試験によりナノスケールの硬さ・弾性率を評価する手法です。今回は実際に装置を用いて測定する際に知っておくと役に立つ以下のline upでナノインデンテーションの基礎 2nd step講座をお送りします。

・ナノインデンテーションの測定と解析手法の解説

・様々な先端形状の圧子（プローブ）の紹介とその選定基準

・マイクロスケールの硬さ試験（マイクロビッカース）との比較

・測定時の注意点（固定手法やドリフトへの対応など）

※はじめての方はナノインデンテーションの基礎 1st step(録画）を先にご覧頂く事をお勧めします。録画ご視聴はこちら

ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　アプリケーション部　二軒谷亮　

休憩　

「接合界面における複合解析」

工業製品には数多くの接合界面が存在するため、製品としての不具合が生じる要因となる事例が数多く発生しています。日産アークでは、不具合の発生した接合界面の形態観察・化学分析・物性評価を複合して分析・解析することにより、製品設計へのフィードバックするための要因調査を多く手掛けてきました。複合解析の中でナノインデンテーションやAFMによる評価技術は、接合界面における微小領域での分析手法として威力を発揮してきました。本講演では、ナノインデンテーションによる接合界面における微小領域での物性の分布測定および、樹脂系材料での融着界面における複合解析を実施した事例を紹介いたします。

株式会社日産アーク　物性解析室　清水　悟史 氏