イベント

表面性状評価の最前線:AFM・Stylus・WLIの使い分けと実践データ紹介

表面性状評価とPCB解析の最新情報を学べる2部構成ウェビナーを開催いたします。

第1部では、AFM(原子間力顕微鏡)、Stylus(触針式)、WLI(白色光干渉計)の原理や特徴をわかりやすく解説し、成膜・CMP・半導体分野で重要な粗さや膜厚測定に関する実データをご紹介します。第2部では、非接触3D光干渉計「ContourSP」を用いたPCB基板の高精度・高効率な形状解析について、測定モードや解析機能、品質管理に役立つ具体的な事例を交えてご説明します。

途中参加も可能で、第2部からのご視聴も可能です。

皆さまのご参加を心よりお待ち申し上げております。

日時2025年11月13日(木) 13:30~14:35 (13:45ログイン受付開始) 2部制
形式ウェビナー(オンラインによるWEBセミナー)※ウェビナー配信サービスには「GoToWebinar」を利用致します。
GoToWebinar のインストールが可能なPC及びモバイル端末等をご用意をお願い致します。ご勤務先のセキュリティーポリシーによってはアクセスが許可されていない場合もございます。事前にIT部門の方へご確認願います。ご登録後にウェビナー参加詳細が書かれたメールが届きます。当日は開始10分前までに、メールに記載されたリンクをクリックし、参加します。(当日は30分前よりログイン頂けます。)
 GoToWebinar システム要件はこちら▶ https://bit.ly/3sne6xl
参加費無料(事前登録制)
お申込み下記登録フォームよりお申込み下さい。

WEB登録フォーム

プログラム  13:15~ログイン受付開始

時間 内容  (当日のプログラムは予告なく変更することがございます。)
13:30~13:35

開会のご挨拶

13:35~14:05

 第1部 表面性状評価の最前線:AFM・Stylus・WLIの使い分けと実践データ紹介』(Live)


表面性状評価における代表的な測定手法であるAFM(原子間力顕微鏡)、Stylus(触針式)、WLI(白色光干渉計)について、それぞれの原理と特徴をわかりやすく解説します。成膜・CMP・半導体分野で重要となる「粗さ」や「膜厚」の測定において、どの手法が最適かを実データを交えてご紹介いたします。

薄膜・厚膜測定などの具体的な測定事例を通じて、技術者・研究者の皆様が現場での選定に役立てられる内容となっています。



ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 アプリケーション部
アプリケーションマネージャー  寺山 剛司

14:05~14:35

 第2部 【わかる光干渉計】ContourSPによる高精度・高効率なPCB形状解析


【見逃し配信】※本ウェビナーは2024年10月25日実施ウェビナーの再放送です。当時お見逃しの方は是非この機会にご視聴ください。

【わかる光干渉計】非接触3D光干渉計 Contourシリーズ~PCB基板の生産管理に向けた高機能3D形状測定システム“ContourSP“の最新動向~

ブルカーの非接触3D光干渉計「ContourSP」について、PCB基板の生産管理における活用事例を交えながらご紹介するウェビナーを開催いたします。

本ウェビナーでは、ContourSPの測定モード(VSI・PSI・USI)や、Vision64®による解析機能、AOIとの連携による高精度な画像取得、さらにはガーバーデータ対応やパネル固定治具の柔軟性など、製造現場での実用性にフォーカスした内容をお届けします。

また、ラフネス解析・アンカー解析・トレース解析・ビア解析・オーバーレイ解析など、実際の解析例を通じて、ContourSPがどのように品質管理や工程改善に貢献するかを具体的にご紹介します。


ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 アプリケーション部

スペシャリスト 秋本 壮一

セミナーに関するお問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部 イベント担当 

TEL:03-3523-6361 / FAX : 03-3523-6364 









横浜国立大学 大学院環境情報研究院 人工環境と情報部門 教授 兼
神奈川県立産業技術総合研究所 「革新的高信頼性セラミックス創製」 プロジェクト プロジェクトリーダー 多々見 純一
 

経歴

平成9年 東京工業大学大学院理工学研究科無機材料工学専攻博士課程 修了 
 博士(工学)(東京工業大学)取得
平成9年 日本学術振興会 特別研究員(PD)
平成9年~平成14年 横浜国立大学工学部助手
平成14年~平成18年 横浜国立大学大学院環境情報研究院助教授
平成17年~平成18年 東京工業大学応用セラミックス研究所客員助教授
平成18年 米国ペンシルバニア-大学客員研究員
平成19年~平成24年 横浜国立大学大学院環境情報研究院准教授

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横浜国立大学 大学院環境情報研究院 人工環境と情報部門 教授 兼
神奈川県立産業技術総合研究所 「革新的高信頼性セラミックス創製」 プロジェクト プロジェクトリーダー 多々見 純一
 

経歴

平成9年 東京工業大学大学院理工学研究科無機材料工学専攻博士課程 修了 
 博士(工学)(東京工業大学)取得
平成9年 日本学術振興会 特別研究員(PD)
平成9年~平成14年 横浜国立大学工学部助手
平成14年~平成18年 横浜国立大学大学院環境情報研究院助教授
平成17年~平成18年 東京工業大学応用セラミックス研究所客員助教授
平成18年 米国ペンシルバニア-大学客員研究員
平成19年~平成24年 横浜国立大学大学院環境情報研究院准教授

横浜国立大学 大学院環境情報研究院 人工環境と情報部門 教授 兼
神奈川県立産業技術総合研究所 「革新的高信頼性セラミックス創製」 プロジェクト プロジェクトリーダー 多々見 純一
 

経歴

平成9年 東京工業大学大学院理工学研究科無機材料工学専攻博士課程 修了 
 博士(工学)(東京工業大学)取得
平成9年 日本学術振興会 特別研究員(PD)
平成9年~平成14年 横浜国立大学工学部助手
平成14年~平成18年 横浜国立大学大学院環境情報研究院助教授
平成17年~平成18年 東京工業大学応用セラミックス研究所客員助教授
平成18年 米国ペンシルバニア-大学客員研究員
平成19年~平成24年 横浜国立大学大学院環境情報研究院准教授

セミナーに関するお問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部 イベント担当 

TEL:03-3523-6361 / FAX : 03-3523-6364