開会のご挨拶

 特別講演 

『局所熱分析装置(Nano-TA)の活用事例の紹介』

三菱ガス化学株式会社　金子 直樹 様

　局所熱分析(Nano-TA)は、加熱機構を備えた微小な探針を試料に接触させた状態で加熱することで、探針接触箇所のガラス転移点や融点を測定する装置です。微小領域の分析ができるため、複合材料や多層材料だけでなく、単一材料の異常個所の分析にも適用することができます。本講演では装置の概要や樹脂製品のNano-TAの活用事例について紹介します。

『原子間力顕微鏡(AFM)を利用したナノスケール熱分析手法の紹介』

　　　　　ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部 アプリケーションエンジニア　鈴木 操

　ナノスケールの空間分解能で材料表面の局所転移温度を分析できるナノスケール熱分析（AFM Nano-TA）は、

定量的な特性評価を行うことで材料やその相分離、成分分布（凝集）等の特定に役立ちます。

また、熱特性マッピング（SThM）は、サンプル温度または熱伝導率マッピング情報を提供します。

これらの測定は、専用のサーマルプローブを用いることによりコンタクトモードやタッピングモード等の測定手法を使って高解像度の形状イメージを取得するのと合わせて、AFM形状イメージから熱分析の対象箇所を特定し、数秒～AFMイメージ取得時間と同等程度で熱分析を実行することが可能です。

本講演では、これら二種類の熱分析手法Nano-TAおよびSThMと測定事例を紹介します。

クロージング(質疑応答）