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イベント・セミナー情報

ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/

イベント

【コベルコ科研 x Bruker共催】マイクロエレクトロニクスセミナー

LIB・全固体電池セミナー ~AFMとナノインデンターで解き明かす表面特性~

 この度、【コベルコ科研xブルカージャパン ナノ表面計測事業部共催】にて、めっき・はんだ・実装評価・ナノインデンターをテーマにしたマイクロエレクトロニクスウェビナーを開催する運びとなりました。半導体・MEMS・電子部品材料分野のお客様に評価技術の最前線をお届けします。
皆様のご参加をスタッフ一同お待ちしております。

日時2022年11月29日(火) 13:30~15:30 (13:15ログイン受付開始) 
形式ウェビナー(オンラインによるWEBセミナー)
※お持ちのPCにてインターネット経由でのご参加となります。インターネットに接続できる環境でお手元のパソコンや各種端末からご参加いただけます。
ウェビナー配信サービスには「GoToWebinar」を利用致します。
GoToWebinarをインストールできるPC及びモバイル端末等をご用意願います。ご所属先のインターネットのセキュリティーポリシーによってはGoToWebinarへのアクセスを拒否される場合がございます。その場合は、事前にご所属先のIT部門の方へアクセス許可のご相談をお願い致します。
参加費無料(事前登録制)
定員500名
お申込み下記登録フォームよりお申込み下さい。

 WEB登録フォーム  ※対応ブラウザ Google Chrome, Edge, Firefoxとなります.

プログラム  

時間 内容  (当日のプログラムは予告なく変更することがございます。)
13:30~13:35

オープニング

13:35~14:00

微小領域の機械特性評価の応用、CAE適用例ご紹介 


昨今のモビリティの電動化に伴い、様々な電子部品が、高温、低温、振動にさらされ、より信頼性の高いモノづくりが要求されている。今回、電子部品に焦点を当て、微小領域の機械特性評価手法のご紹介と、寿命評価のCAEへの展開をご紹介する。


株式会社コベルコ科研 材料ソリューション事業部 応用物理技術部 岡野 直樹

14:00~14:25

「電子部品の実装不良解析技術 ~超音波顕微鏡、SEM、EBSD、OBIRCHなど~

 

電子部品の不良解析は、不良の発生状況を非破壊で捉え、目的に応じた適切な物理解析手法により、不良の実体を観察することが重要となる。今回は代表的な不良である「はんだ損傷」「モールド樹脂剥離」「ボンディング不良」「素子不良」についての解析手法をご紹介する。


株式会社コベルコ科研 材料ソリューション事業部 応用物理技術部 藤沢解析室 椋木 新也

14:25~14:50

「ナノインデンターを用いたエレクトロニクス材料の機械的特性評価技術


近年、ますます小型化・微小化してきているエレクトロニクス材料において、その微小な領域の機械的特性を把握することは材料開発・品質管理・プロセス設計上きわめて有効である。本発表では、ナノ~マイクロスケールの定量的機械的特性評価装置であるナノインデンターを用いて、エレクトロニクス材料の機械的特性を評価した事例をご紹介する。


ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 二軒谷 亮 

14:50~15:15

「マイクロエレクトロニクスおけるAFMナノオーダー解析


パワー半導体はスマートフォンやパソコンなどの一般向け商品から、電気自動車や電車などの電力制御に使用されています。

本講演ではナノオーダーで解析可能な原子間力顕微鏡(AFM)を用いて金属、はんだ、パワー半導体材料の形状評価から電気特性を評価した事例を紹介する。


ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 寺山 剛司

15:15~15:20

グロージング (Q&A等)


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※対応ブラウザ Google Chrome, Edge, Firefox

セミナーに関するお問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部 イベント担当 

TEL:03-3523-6361 / FAX : 03-3523-6364