アプリケーション: | 材料科学 |
測定技術: | 3次元光干渉粗さ計 |
測定に用いた装置: | 3次元光干渉粗さ計 |
画像説明: | 低反射率の布地の3次元光干渉像。織のパターンが明瞭に観察されている。 |
アプリケーション: | 材料科学、精密機械 |
測定技術: | 3次元光干渉粗さ計 |
測定に用いた装置: | 3次元光干渉粗さ計 |
画像説明: | 3次元光干渉計による凹凸情報の迅速なデータ収集は、表面のテクスチャーを示し、ダイヤモンド膜の分類のための重要な表面特性を測定する。 |
アプリケーション: | 材料科学、セミコンダクター |
測定技術: | 3次元光干渉粗さ計 |
測定に用いた装置: | ContourGT |
画像説明: | AcuityXRは米国のR&D100賞を受賞した技術である。Acuity XRを使うと水平分解能が3倍以上改善され、130nm以下、あるいはナノスケールの構造が確認でき、計測の再現性が5倍以上改善される。
GUIの取り扱い易さと、測定の速度、出力データがわかる完全なデモンストレーション。 |
アプリケーション: | 材料科学 |
測定技術: | AFM |
測定に用いた装置: | AFM |
画像説明: | 金がパターニングされたシリコン上にゆるく付いている単層カーボンナノチューブの形状と導電性の同時観察。TR-TUNAによる。 |
アプリケーション: | 材料科学 |
測定技術: | AFM |
測定に用いた装置: | Dimension FastScan |
画像説明: | 自己組織化されたFmoc-YLファイバーのネットワークは、55℃から10分以上かけて室温まで冷却した際の酵素の転換によって得られた。 これによって生じたハイドロゲルは、水で1: 10に希釈されマイカ表面で乾燥した。この2000 X 2000データポイントの10umイメージは、FastScanシステムによって8Hzで測定された。Fastscan システムは、ファイバーネットワークのイメージを高速で獲得し、自己組織化されたファイバーの構造と特徴を判定することができる。 データのご提供: Rein Ulijn, Mischa Zelzer, Sangita Roy - Pure and Applied Chemistry, University of Strathclyde, Ian Armstrong - Bruker |
アプリケーション: | 材料科学 |
測定技術: | AFM |
測定に用いた装置: | Dimension FastScan |
画像説明: | 化学的離法によるぺロブスカイトナノシートの生成。AFMは、ナノシートと基板との弾性率のコントラストを示している。
サンプルのご提供: Dr. Jin-Chong Tan, Dept of Materials Science and Metallurgy, Cambridge University, UK Dr. Tadashi C. Ozawa, Nanoscale Materials Center, National Institute for Materials Science, Tsukuba, Japan データのご提供: Dr. Ian Armstrong, Bruker |
アプリケーション: | 材料科学 |
測定技術: | AFM |
画像説明: | HMDS処理したシリコン酸化表面上に成長したペンタセンレイヤー。各層の厚さは1.7nmで、ペンタセンの単分子の長さに相当する。
ScanAsyst-HR 6Hzのスキャンスピードで観察されたもの。 スキャンサイズ:2um |
アプリケーション: | 材料科学 |
測定技術: | AFM |
画像説明: | グラフェンは、ハニカム充填構造の結晶で、炭素原子sp2結合型の1原子プレーナーシートで、2004年にスコッチテープによるグラファイトから剥離する方法が発見され、シリコンの酸化膜上の転写され、光学顕微鏡によって確認した。
イメージの中の長方形のグラフェンシートもこの方法によって機械的に剥離された。 これらのグラフェン・シートから、量子輸送実験用の他のいくつかの装置と同様に将来のナノエレクトロニクス用のグラフェン・ナノリボンを作ることが可能となる。 例えば、量子ホール効果を測定するホール・バーをパターン化することが可能になる。 スキャンサイズ:16um データのご提供:A. Barreiro, CIN2(ICN-CSIC), Spain |
アプリケーション: | 材料科学 |
測定技術: | AFM |
画像説明: | ルテニウム薄膜層を横切って異方性結合した垂直磁化多層コバルト/ パラジウム。
半強磁性体と強磁性体のエネルギー間の微妙なバランスを研究するために理想的な材料である。 磁気力顕微鏡を使って、広い領域の反強磁性体ドメインが強磁性のサブミクロンの曲がりくねった迷路のようなストライプドメインに囲まれている新しいドメインパターンを観察した。 スキャンサイズ:9um データのご提供:L.Y. Zhu and C.L. Chien, Department of Physics and Astronomy, Johns Hopkins University, MD, USA |
アプリケーション: | 材料科学 |
測定技術: | AFM |
画像説明: | 無極性溶媒中の水素会合ユニットを持つ有機分子の分子相互作用は、可逆的で、自己組織化した超分子を生成する。タッピングモードAFMによる凹凸像は、シリコン基板上の希釈ジクロロエタンから沈殿させて得られたナフタリン・テトラカルボン・ジイミドの表面形状を示す。
ロープ状の自己組織化した構造は、分子間の積み重なる方向に沿った強い水素会合を反映している。 スキャンサイズ:18um データのご提供:Hoichang Yang, Rensselaer Nanotechnology Center, Rensselaer Polytechnic Institute, NY, USA; and Soo Young Park, Department of Materials Science and Engineering, Seoul National University, South Korea |
アプリケーション: | 材料科学 |
測定技術: | AFM |
画像説明: | フッ素置換や水素添加が混合した表面は、空気と水の界面で相分離することができる。
そうした膜は、単層のLB膜として基板の上にデポジットするこができる。このアプローチを使えば、フッ素置換された官能基によって定義された個体表面を準備することができる。このフィルムは、耐摩耗性コートや生物付着を防ぐ意味での可能性がある。 このイメージはペンタトリアコンタフルオロオクタデカン酸と単純な脂質の複合LB膜である。 ピュアなパーフルオロカーボンへの脂質の添加は、フィルム形態の変化を引き起こし、制御可能な方法で環状のドメインを六角形に変化させることができる。 スキャンサイズ:5um データのご提供: Shatha E. Qaqish and Matthew F. Paige, University of Saskatchewan, Canada |
アプリケーション: | 材料科学 |
測定技術: | AFM |
画像説明: | 電気力顕微鏡は、材料の電気的な特性と成分の識別が可能である。これは、熱可逆性加硫物のイメージで、左が形状で中央が電気力、右が位相を示している。(凹凸の)位相イメージは構造の詳細を示している。
サンプル表面はポリプロピレンリッチで、明瞭なラメラ構造が観察されている。電気力像では下層にあるカーボンブラックの存在とその凝集の具合を明らかにしている。 スキャンサイズ:3.5um データのご提供: Shatha E. Qaqish and Matthew F. Paige, University of Saskatchewan, Canada |