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イベント情報

  • 7月26日(木)と27日(金)          名古屋ワークショップ開催
  • 5月17日(木)~18日(金)          第25回燃料電池シンポジウム   
  • 5月16日(水)16:00-17:00      三次元光干渉型顕微鏡ウェビナー  

ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/
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ニュースリリース

プレスリリース

2018年5月8日

フォーカスバリエーション法を採用

ベンチトップ型 非接触3次元光学顕微鏡 Contour LS-K」新発売


 ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部(代表取締役:佐々木 直美、本社:横浜)は、このたび、LightSpeed™ フォーカスバリエーションを用いた新しいシステム「Contour LS-K(コンター エルエス ケー)非接触3次元光学顕微鏡」の発売を開始します。

 Contour LS-K非接触3次元光学顕微鏡は、高度なアルゴリズムにより最適化されたフォーカシング技術であるLightSpeed™フォーカスバリエーション技術を使用し、従来の方法と比較して高速で、非接触な表面計測技術を提供します。Contour LS-K5MピクセルCCDの搭載により、高速・高解像度リアルカラーイメージング技術を提供します。 また、ソフトウェアは30年以上にわたり開発されたVision64®ソフトウェアをベースに構築しており、データ処理、分析、および視覚化・定量化のための独自のソフトウェアアルゴリズムを特長としています。 さらにContour LS-Kは、自動X-Yステージ、電動式5ポジション対物タレット、デュアル照明(同軸とリングライト照明)が標準装備されております。

 

 LightSpeed™フォーカスバリエーションは、大きな凹凸や段差、または急峻な角度を持つ表面計測に理想的であり、ブルカー従来品Contour GT (3次元白色光干渉型顕微鏡) の持つ平滑表面計測技術やナノメートルオーダー計測にも対応します。           自動車、精密機械加工、製造、エレクトロニクス、医療機器業界の機械的検査、QA / QC検査、プロセス制御、RDなどの幅広いアプリケーションに最適なパフォーマンスを提供します。 


Contour LS-K についての詳しい情報はホームページをご覧ください。 →www.bruker.com/ContourLS


【ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部について】

この度、新製品Contour LS-Kを発表したブルカージャパン株式会社のナノ表面計測事業部は、201010月に米国Veeco Instruments 社の日本法人である日本ビーコ株式会社から事業譲渡され、既に長い間、世界のリーディングカンパニーとして知られているAFM・オプティカルプロファイラーを継続して販売しております。また、201110月には米国CETR社からトライボロジーテスターの試験機事業の買収、昨年1月の米国Hysitron社の買収により幅広いナノ分析装置トータルソリューションの販売・サポートを続けております。

ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部はこれからも大学・官公庁から企業製造工場まで最先端技術を必要とする研究開発・品質管理に幅広いソリューションを提供し、今後の豊かな社会に不可欠なナノテクノロジーの発展に深く貢献してまいります。

 

ブルカーコーポレーションについて (NASDAQ: BRKR)

ブルカーコーポレーション(NASDAQBRKR)は、55年以上にわたり、工業分野、応用分析、分子、材料研究のためのハイパフォーマンスな科学機器とソリューションを提供するリーディングカンパニーです。バイオスピン事業部、ダルトニクス事業部、オプティクス事業部、ナノ表面計測事業部、Ⅹ線事業部、ナノ分析事業部から成り立ち、世界各地に工場と販売拠点を置き、お客様のご要望に応じた革新技術を提供し続けています。詳細については: www.bruker.com


 

本件に関するお問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部 

Tel.03-3523-6361 / Fax.03-3523-6364 E-mail : Info-nano.BNS.JP@bruker.com


 

プレスリリース

2018年1月4日

会社統合のご案内


拝啓 時下ますますご清栄のこととお慶び申し上げます。

平素は一方ならぬご愛顧を頂き 厚くお礼申し上げます。

 さて このたび ブルカー・バイオスピン株式会社、ブルカー・ダルトニクス株式会社、ブルカー・オプティクス株式会社並びにブルカー・エイエックスエス株式会社の4社は平成30年1月1日をもって経営統合(合併)することになりましたのでお知らせ申し上げます。

なお 経営統合後の新たな会社名は ブルカージャパン株式会社となります。統合後の会社では4社に分散されていました各分析装置のビジネスを事業部として発展させると共に経営資源の統合により より高い顧客サービス 迅速性 効率化をはかり 役員・社員一同 ユーザー様及び取引先様各位の信頼を第一に全力を尽くす所存でございますので 引き続きのご支援ご鞭撻を賜りますようお願い申し上げます。

 統合により、所在地、連絡先の変更等はございません。今後とも何卒宜しく申し上げます。


ブルカージャパン株式会社 各事業部と連絡先はこちら

https://www.bruker.com/jp/about-us/offices/local-offices-web-pages/japan.html


ブルカージャパン株式会社

ナノ表面計測事業部


 

プレスリリース

2017年8月4日

CMPプロセス(化学機械研磨)の性能評価を実現する、

費用対効果の高いトライボロジーシステム「TriboLab CMP」が登場

~最も柔軟で安定したCMP評価を目的に、ブルカーが業界標準のCP-4プラットフォームをアップデート~


 [米国カルフォルニア州サンノゼ2017627日発]

ブルカーナノ表面計測事業部は、「TriboLab CMP (CMPプロセス・材料特性評価システム)」を発表しました。 新製品は、高い堅牢性を誇る「UMT TriboLabTM」メカニカル試験プラットフォームをベースとし、CMP(化学機械研磨)プロセス開発を目的とした評価において比類のない能力を発揮します。この新しいTriboLab CMPシステムは、CMPプロセスで用いるパッド・スラリーといった消耗材評価のため、幅広い研磨圧力(0.0550psi)及び、回転速度(1500rpm)、摩擦係数計測、AE信号(アコースティック・エミッション)、サンプル温度計測などを提供できる市場で唯一のツールです。

 

CMPプロセス向けの設備やウェハ研磨サービスの大手プロバイダーEntrepixCTODr. Robert Rhoades氏は、「CMPは先進的な半導体デバイス製造で従来以上に重要性が増しています。業界は、様々な材料の研磨中に起こるプロセスや消耗材の相互作用を効果的に評価できる手法を求めていました。ブルカー社のパートナーとしてTriboLab CMPプラットフォームの販売支援ができるのはとても喜ばしいことです。我々の取り扱い製品に、この新システムが加わり、パッドやスラリー、コンディショナー、研磨パラメータ間での複雑な相互作用を、細部まで評価できる信頼性の高いRDソリューションを提供する体制が整いました。」と語っています。

 

 ブルカー社TSOMビジネスの副社長兼、ゼネラルマネージャーのJames Earle氏は、「ブルカーはCMPプロセス用途向けに10年以上にわたって装置を提供してきました。その製品群の最新世代として今回、TriboLab CMPを紹介できることを嬉しく思います。TriboLab CMPはすでに、半導体産業における最先端CMP用途開発において、様々なお客様にご活用いただき、優れた試験評価性能が実証されています。TriboLab CMPは、CMPプロセスの評価のために、広範な研磨圧力と速度領域、AEデータ、摩擦、表面温度といった重要な計測結果を提供できる、市場で唯一の装置です」と述べています。


製品カタログはこちら→CMP_Process_and_Material_Characterization_System カタログPDF

 

TriboLab CMPについて

トライボロジー業界で認知されているUMT TriboLabメカニカル試験プラットフォームをベースとする、TriboLab CMPシステムの測定の正確さと再現性は、CMPプロセスを通じ要求される、効率的な品質保証や検査、継続的な機能性試験を可能にします。TriboLab CMPは、研磨プロセスをより深く理解する目的で「実態分析機能」を標準搭載し、過渡的な研磨特性を徹底的に見える化。ウェハ基板がパッドに触れた瞬間から試験完了までのデータが取得されるため、その詳細なデータを通じて、初期段階でのプロセス開発の決定を可能にします。また、本システムは小さな試験片での評価が可能なため、ウェハ全面の試験に比べ大幅なコスト削減が図れます。


 

本件に関するお問合せ

ブルカーナノ表面計測事業部

Tel.03-3523-6361 / Fax.03-3523-6364 E-mail : Info-nano.BNS.JP@bruker.com