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  • 2月14日(水)~16(金)
    nanotech2018
  • 2月22日(木)
    [セミナー]ナノインデンテーションセミナー
  • 2月28日(水)
    【WEBセミナー】トライボインデンターウェビナー
  • 3月15日(木) 
    摩擦摩耗試験機ワークショップ

ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/

Bruker AFM Probes

多岐に亘るAFMアプリケーションをサポートするプローブ群

Bruker AFM Probes

Bruker AFMは大変豊富な種類の測定モードを有し、いずれの測定モードにおいても非常に高い性能を保有しています。当社のプローブは、Bruker AFMの性能に合致してその高い性能を引き出し、更に幅広いアプリケーションがカバーできるように豊富な種類を設計・製造しております。

※Bruker NSB(Nano Surface Business)は、高性能なAFM装置群と豊富なプローブの両製品を製造している唯一の会社です。

お問合せ、お見積り窓口

ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部
【電話】03-3523-6361 【FAX】03-3523-6364
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Bruker AFM Probesの種類、詳細情報は
グローバルサイトをご覧ください。
NCHV

NCHV 平均値:42N/m, 320KHz, 無コート

従来型汎用Tapping AFM用プローブ
NCHV

長年、標準的ラフネス測定に使用されてきた実績の高いSi単結晶製プローブです。

MPP-11100

RTESP 平均値:40N/m, 300KHz, 無コート

ローテーションTapping AFM用プローブ
(RTESP) MPP-11100

チップが180°回転した形状により、チップとサンプル間のアングルが対称になります。スキャン方向による形状の誤差が少なくなるために、凹凸の大きな表面の測定に適しています。

SNL-10

Bruker 新SNLプローブ

Si/SiNハイブリッド AFM用プローブ
SNL-10

軟かいバネ定数のシリコンナイトライド製レバー上に、曲率半径の小さなSiプローブをマウントさせた新型プローブです。生体試料等の柔らかい試料の測定に適しています。

FIB1-100, FIB2-100

FIB2-100S 平均値:42N/m, 320KHz, 無コート

ハイアスペクト用FIB加工AFMプローブ
FIB1-100, FIB2-100

先端をFIBで鋭角化したハイアスペクト対応プローブです。半導体等のトレンチ構造の計測に適しています。