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イベント情報

ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/
Bruker グローバルサイト

データストレージ

コンパクトディスク (Compact Disc)

アプリケーション: データストレージ
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: 3次元光干渉粗さ計
画像説明: 書き込み後のCD表面の3次元光学イメージ。

DLCの分離 (DLC Delamination)

アプリケーション: データストレージ
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: 3次元光干渉粗さ計
画像説明: PTRとDLCの薄層に分離した3次元光学イメージ。

磁気ヘッド (Magnetic Head)

アプリケーション: データストレージ
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: 3次元光干渉粗さ計
画像説明: 3D光干渉粗さ計を使ってデータ―ストレージ装置の磁気読み出しヘッドを画像化した像。

ハードディスクのサスペンションパーツ (HD Suspension Assembly)

アプリケーション: データストレージ
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: 3次元光干渉粗さ計
画像説明: CD装置で使われるサスペンションパーツの3次元光学イメージ。

マイクロウェービネス (Microwaviness)

アプリケーション: データストレージ
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: 3次元光干渉粗さ計
画像説明: ディスクのマイクロウェービネスの3次元光学イメージ。

ビットパターンドメディア (Bit Patterned Media)

アプリケーション: データストレージ
測定技術: AFM
測定に用いた装置: Dimension
画像説明: ビットパターンドメディアの磁気力顕微鏡(MFM)イメージ。
面に垂直な方向に消磁された5umのドットのほとんどは、上向きあるいは下向きに磁化されている単一ドメイン構造であるが、いくつかは一様でないことが示されている。
スキャンサイズ:40um
イメージご提供: O. Hellwig and E. Dobisz, Hitachi GST, CA, USA

DVD-RW上のアモルファスビット (Amorphous Bits on DVD-RW)

アプリケーション: データストレージ
測定技術: AFM
画像説明: DVD-RWの表面形状(左)およびEFM(右)イメージ。
EFMイメージは、結晶領域上の相変化により形成されたアモルファスビットを明瞭に示している。
スキャンサイズ:5um
イメージご提供: Yasuko Ichikawa, Toyo Corporation, Japan.

上書きされたトラック (Overwritten Track)

アプリケーション: データストレージ
測定技術: AFM
画像説明: テクスチャ加工されたハードディスク上の、上書きされたトラックの表面形状(左)および磁気力(MFM)イメージ(右)。
トラックの幅と非対称性、転移、不規則性、および消去されたエリアとバージンエリアとの違いが可視化されている。
スキャンサイズ:25um

トラックエッヂ (Track Edge)

アプリケーション: データストレージ
測定技術: AFM
画像説明: 市販ハードディスクのトラックエッヂの表面形状(左)および磁気力勾配(MFM)イメージ(右)。
 MFMイメージは、ドメインサイズに関連したスケールの転移粗さを示している。 注目すべきは、表面形状と磁気力の情報が完全に分離されていることである。
スキャンサイズ:5um

MRポール素子 (MR Poletips)

アプリケーション: データストレージ
測定技術: AFM
画像説明: 使用済み記録ヘッド(電気誘導書き込み・磁気抵抗読み取り)の表面形状(左)およびMFM(右)イメージ。
MFMイメージは書き込みポール、シールドおよび狭い帯状のMR部分を含む様々な磁気要素を明瞭に観察できている。
MRセンサーに隣接する磁気バイアスレイヤはランダムなまだら模様に見える。
スキャンサイズ:14um