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ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
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ソーラー

多結晶 ソーラーセル (Polycrystalline Solar Cell)

アプリケーション: ソーラー
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: 3次元光干渉粗さ計
画像説明: Visionソフトウエアによる多結晶ソーラーセルの合否判定。
視野: 125μm x 95μm

銀配線 (Silver Trace)

アプリケーション: ソーラー
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: 3次元光干渉粗さ計
画像説明: この3次元像は、ソーラーの銀配線(赤/緑のライン)が明瞭に離れてしまっている欠陥部を示している。これは、基本的な太陽電池マトリクスの微細構造である。

銀の導電配線ディフェクト (Silver Conductive Trace Defect)

アプリケーション: ソーラー
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: 3次元光干渉粗さ計
画像説明: 3次元光干渉像。多結晶ソーラーセルの銀の導通配線部のディフェクトを示している。

単結晶ソーラーセル (Monocrystalline Solar Cell)

アプリケーション: ソーラー
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: 3次元光干渉粗さ計
画像説明: 単結晶ソーラーセルの3Dの特性。

ソーラーセルの配線 (Solar Trace)

アプリケーション: ソーラー
測定技術: スタイラスプロファイラー
測定に用いた装置: DektakXT
画像説明: ソーラーセル配線の3次元プロファイルマップ。