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ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/
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製品案内

ナノ表面計測システム
AFM(原子間力顕微鏡)・SPM(走査型プローブ顕微鏡)・3次元白色光干渉型顕微鏡・
触針式プロファイリングシステム・摩擦摩耗試験機・ナノインデンテーションシステム
LED、HB-LEDエピタキシャルウエハ 非破壊発光検査装置

ナノ表面計測システムでは、原子像観察が可能な高分解能AFM(原子間力顕微鏡)から大型試料観察や機械特性・電気特性等の様々な特性をナノスケールで計測可能なSPM(走査型プローブ顕微鏡)、更に広範囲なエリアの粗さ・形状を高速非破壊で計測可能な3次元白色光干渉型顕微鏡(オプティカルマイクロスコピー)や、触針式プロファイリングシステム、トライボロジー/摩擦摩耗試験機で材料表面の検査・評価を行う装置を取り扱っています。

特に AFM/SPM 装置では、これまでたくさんの新技術を提供しており、大変多くの研究者の皆様が計測で得られたAFMイメージあるいはSPMイメージを使って論文発表等をいただいております。他の顕微鏡では得られない液中での高分解能AFMイメージはライフサイエンスでは大変重要な情報を与えてくれますし、半導体等の基盤測定では非常な微細な粗さをAFMは計測してくれます。ポリマー試料では、ガラス転移温度での物性の変化をSPMモードが様々な情報を提供してくれます。また、半導体分野ではP/Nジャンクション、ドーパント濃度等非常な有用な情報の取得をSPMは可能にしており、更に今日はSPMによって機械特性の測定を短時間で可能にしました。正にSPMは驚異的進化を遂げています。
下記に当社の最新のAFM(原子間力顕微鏡)/ SPM(走査型プローブ顕微鏡)をはじめとした製品ラインナップをご紹介させていただきます。

ナノ表面計測システム製品ラインナップ

AFM(原子間力顕微鏡)システム
AFM/Raman(TERS)ソリューション
AFM / SPM用プローブ
AutoAFM(大型自動原子間力顕微鏡)