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ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
167委員会のHPはこちら
http://www.npt167.jp/

LED

基板の湾曲 (Substrate Bow)

アプリケーション: 発光ダイオード(LED)
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: 3次元光干渉粗さ計
画像説明: 高輝度LED用2インチウェハーの湾曲をステッチング機能により得た3D光学イメージ。

パターンドサファイアサブストレート (Patterned Sapphire Substrate)

アプリケーション: 発光ダイオード(LED)
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: ContourGT
画像説明: 高輝度LED(HBLED)市場で使われるパターンドサファイヤサブストレートの3D光学イメージ。

PSSウェハー (PSS Wafer)

アプリケーション: 発光ダイオード(LED)
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: 3次元光干渉粗さ計
画像説明: パターンドサファイアウェハー上の特徴的な形状の3D光学イメージ。

PSSの構造 (PSS Features)

アプリケーション: 発光ダイオード(LED)
測定技術: 3次元光干渉粗さ計
測定に用いた装置: ContourGT
画像説明: 3D PSS形状のリアルタイムスクリーンキャプチャー。

有機太陽電池(Organic Photovoltaics)

アプリケーション: 発光ダイオード(LED)
測定技術: AFM
画像説明: 有機導電性材料は発光や光変換を含む多くのユニークな特徴を示す。半導体の代わりに導電性ポリマーをベースとしたディスプレイやLEDが市販されている。このイメージは有機太陽電池(共役高分子とフラーレンの混合)で使用されるヘテロ構造の導電率の横方向の変化を示している。
スキャンサイズ: 25μm
イメージご提供: J. Čermák, Institute of Physics, Academy of Sciences of the Czech Republic, v.v.i.