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ブルカージャパン(株) ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。 ナノプローブテクノロジー第167委員会とは日本学術振興会の設置する61の産学協力研究委員会の1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。
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Bruker グローバルサイト

白色光干渉型顕微鏡(CSI)

 

白色光干渉型顕微鏡(CSI)

リアルカラー対応 高性能 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡 Contour Elite I

Contour Elite I

リアルカラー対応 高性能 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡
Contour Elite I

優れた3D光学計測と高質カラーイメージングが融合した64ビット対応の最新型、高性能白色光干渉型顕微鏡です。Bruker独自の自動傾斜調整ヘッドにより傾斜調整時の測定中心の位置ずれを回避し、スループット向上を実現しました。操作性の向上、充実したデータレポート機能、2000枚を超えるデータステッチング計測の実現、膜厚計測、加熱、冷却環境で測定可能とした対物レンズラインナップ等、研究開発から生産管理にいたる様々な用途に答える形状情報を、高精度かつ非接触3次元で高速に提供します。

リアルカラー対応 簡易型 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡 Contour Elite K

Contour Elite K

リアルカラー対応 簡易型 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡
Contour Elite K

優れた3D光学計測と高質カラーイメージングが融合した64ビット対応の最新・汎用型高性能白色光干渉型顕微鏡です。操作性の向上、充実したデータレポート機能、2000枚を超えるデータステッチング計測の実現、膜厚計測、加熱、冷却環境で測定可能とした対物レンズラインナップ等、研究開発から生産管理にいたる様々な用途に答える形状情報を、高精度かつ非接触3次元で高速に提供します。

リアルカラー対応 大型試料対応 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡 Contour Elite X

Contour Elite X

リアルカラー対応 大型試料対応 非接触3次元 白色光干渉型光学顕微鏡
Contour Elite X

優れた3D光学計測と高質カラーイメージングが融合した64ビット対応の最新型、高性能白色光干渉型顕微鏡です。Bruker独自の自動傾斜調整ヘッドにより、傾斜調整時の測定中心の位置ずれを回避し、スループット向上を実現しました。最大300㎜の自動XYステージを搭載し、大型サンプルの測定に最適なシステムです。操作性の向上、充実したデータレポート機能、2000枚を超えるデータステッチング計測の実現、膜厚計測、加熱、冷却環境で測定可能とした対物レンズラインナップ等、研究開発から生産管理にいたる様々な用途に答える形状情報を、高精度かつ非接触3次元で高速に提供します。

64ビット対応 高性能白色光干渉型顕微鏡 ContourGT-I

ContourGT-I

64ビット対応 高性能白色光干渉型顕微鏡
ContourGT-I

64ビット対応の高性能白色光干渉型顕微鏡です。操作性の向上、充実したデータレポート機能、2000枚を超えるデータステッチング計測の実現、膜厚計測、加熱、冷却環境で測定可能とした対物レンズラインナップ等、研究開発から生産管理にいたる様々な用途に答える形状情報を、高精度かつ非接触3次元で高速に提供します。

64ビット対応 簡易型 高性能白色光干渉型顕微鏡 ContourGT-K

ContourGT-K

64ビット対応 簡易型 高性能白色光干渉型顕微鏡
ContourGT-K

64ビット対応の高性能白色光干渉型顕微鏡です。操作性の向上、充実したデータレポート機能、2000枚を超えるデータステッチング計測の実現、膜厚計測、加熱、冷却環境で測定可能とした対物レンズラインナップ等、研究開発から生産管理にいたる様々な用途に答える形状情報を、高精度かつ非接触3次元で高速に提供します。

64ビット対応 生産管理用 高性能白色光干渉型顕微鏡 ContourGT-X

ContourGT-X

64ビット対応 生産管理用 高性能白色光干渉型顕微鏡
ContourGT-X

64ビット対応の高性能白色光干渉型顕微鏡です。操作性の向上、充実したデータレポート機能、2000枚を超えるデータステッチング計測の実現、膜厚計測、加熱、冷却環境で測定可能とした対物レンズラインナップ等、研究開発から生産管理にいたる様々な用途に答える形状情報を、高精度かつ非接触3次元で高速に提供します。

大型試料用 白色光干渉型顕微鏡 NPFLEX

NPFLEX

大型試料用 白色光干渉型顕微鏡
NPFLEX

光学部品、自動車部品、インプラント品、切削加工部品 等 評価の為に切りだしや加工を好まない試料をそのまま計測できるワイドステージ構造を実現した白色光干渉粗さ計です。また±45度まで計測ヘッドを傾けられるシステム構造は、あらゆる角度から高精度計測を実現します。
(試料搭載可能スペース:304mmD x 304mmW x 350mmH)

リードアングル評価対応 大型試料用 白色光干渉型顕微鏡 NPFLEX-LA

NPFLEX-LA

リードアングル評価対応 大型試料用 白色光干渉型顕微鏡
NPFLEX-LA

大型サンプルの測定を実現する特徴的なシステム構造をもちあわせています。249x304x304mmにわたる試料搭載スペースと、±45°の傾斜調整を可能にする傾斜調整ヘッド構造により、ハイポイドギヤやプラネタリギア、ヨーク、などの様々な自働車部品や、医療インプラント品などの局所的表面形状測定を可能にします。

実装基盤専用 白色光干渉型顕微鏡 ContourSP

ContourSP

実装基盤専用 白色光干渉型顕微鏡
ContourSP

最大 610mm x 610mmサイズまでのさまざまな実装基盤の自動計測を可能にした光干渉型顕微鏡です。CogneX搭載により、フィデューシャルアライメントやプレアライメント動作を行いテキスト形式でインポートされる任意指定箇所の自動測定を可能にします。ライン&スペース、ビア、アンカー、リセッション計測を高性能かつ高速に行う品質管理用専用システムです。

3D光学インライン計測 HD9800+

HD9800+

3D光学インライン計測
HD9800+

インラインデータストレージの磁気ヘッド計測向けの世界最先端の光学プロファイラーです。スライダーのCCT(クラウン、キャンバー、ツイスト)とPTR(ポールチップリセッション)の特性解析を完全に自動化して、最先端のプロセス制御に必要な高速スループットを実現します。

フォーカスバリエーション搭載非接触3次元光学顕微鏡

非接触3次表面形状測定顕微鏡

HD9800+

焦点移動式 非接触 3次元干渉顕微鏡
Contour LS-K

高度なアルゴリズムによる最適化されたフォーカシング技術であるLightSpeed™焦点移動技術を使用して、他の方法では不可能な高速にて表面データを正確に収集。高解像度なリアルカラーによりモニターに表示。自社開発のVision64ソフトウェアをベースに構築されたデータ処理、分析、視覚・定量化のための独自のソフトウェアある語リムが特長で、容易な操作性を提供するフォーカスバリエーション搭載モデル。